一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具制造技术

一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，包括底座、压板和测试针组件，底座的中部固定设置有绝缘垫板，底座的两侧均设置有立柱，立柱穿过绝缘垫板并从压板伸出，压板能沿立柱上下移动；测试针组件固定设置在压板的中部；测试针组件包括两根负极测试针和三根正极测试针，三根正极测试针成一排设置，两根负极测试针分别设置在成一排设置的正极测试针的两侧；两根负极测试针通过导线连接在一起并且连接在阻抗测试仪的负极上，三根正极测试针通过导线连接在一起并且连接连接在阻抗测试仪的正极上。本发明专利技术的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具能够准确的测量导针与极箔之间的电阻，从而评价导针的铆接效果。

The utility model relates to a test fixture for detecting the riveting impedance of a guide pin and a polar foil of a capacitor

A test fixture for detection of capacitor electrode foil and pin riveting impedance, comprises a base plate and a needle assembly, test, the middle of the base is provided with insulating plate, both sides of the base are provided with the column, the column through the insulating plate and extending from the plate, pressure plate can move along the pillar; testing needle assembly arranged in the middle part of the press plate; the needle assembly includes two test and three positive negative test pin test pins, three positive testing needle in a row set, two test pins are respectively arranged on the both sides of the negative into a positive test needle row set; two negative test pins are connected together and connected to the negative impedance tester on the wire, three positive test pins connected together and connected to the positive electrode impedance test instrument by wire. The tester for detecting the riveting resistance of the guide pin and the polar foil of the capacitor of the present invention can accurately measure the resistance between the guide pin and the polar foil, thereby evaluating the riveting effect of the guide needle.

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具
本专利技术涉及一种电容器生产的测试设备，尤其涉及一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具。
技术介绍
现有的电容器都是先将导针铆接在极箔上，然后进行卷绕。导针铆接的质量直接影响整个电容器的好坏，铆接的好坏可通过测试极箔与导针之间的电阻来确定，然而在测试的时候由于在阳极箔表面形成有一层三氧化二铝的氧化膜，正极测试针和负极测试针需要将三氧化二铝刺穿才能够测试极箔与导针之间的电阻，故在测试的时候非常容易出现不稳定的现象，往往导致测试出来的电阻偏大，不能够真实的反应极箔与导针之间的电阻。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种操作简单、能够真实的测量极箔和导针之间的电阻的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具。为解决上述技术问题，本专利技术提出的技术方案为：一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，包括底座、压板和测试针组件，所述底座的中部固定设置有绝缘垫板，所述底座的两侧均设置有立柱，立柱穿过绝缘垫板并从压板伸出，压板能沿立柱上下移动；所述测试针组件固定设置在压板的中部；所述测试针组件包括两根负极测试针和三根正极测试针，所述三根正极测试针成一排设置，两根负极测试针分别设置在成一排设置的正极测试针的两侧；所述两根负极测试针通过导线连接在一起并且连接在阻抗测试仪的负极上，三根正极测试针通过导线连接在一起并且连接连接在阻抗测试仪的正极上。本专利技术中，在测试极箔和导针之间的电阻的时候，先将待测试的带有导针的极箔伸入到绝缘垫板上，将压板压下，这时正极测试针和负极测试针下端的圆锥形尖端刺穿极箔上的三氧化二铝氧化膜和导针上的氧化膜，这样正极测试针和负极测试针能够分别直接接触导针和极箔的内部，这样测试出来的电阻是最真实的，能够真实的反应铆接的效果。在专利技术中设置有三根正极测试针和两根负极测试针，这样只要有一根正极测试针和一根负极测试针将导针和极箔表面的氧化膜刺穿就能够完成测试，这样能够保证测试的稳定性。上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述测试组件固定设置在连接块上，所述连接块通过卡槽设置在压板上；所述连接块可在压板上滑动。本专利技术中，由于每种电容器的型号和尺寸不同，在测试导针和极箔之间的电阻的时候，正极测试针会不可避免的可能之间顶在铆花上，这样不能够真实的反应导针和极箔之间的电阻，此时可以移动测试组件使得正极测试针能够准确的顶在导针上。上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，负极测试针和正极测试针均包括探针，所述探针的下端呈尖锐的圆锥形，上端设置有导线连接部，所述导线焊接在导线连接部上，所述探针通过缓冲组件连接在压板上。探针下端尖锐的圆锥形在测试的时候刺穿极箔和导针表面的氧化膜。上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述缓冲组件包括固定设置在压板顶部的盖板、缓冲弹簧和设置在正极测试针或者负极测试针中部的凸块，所述缓冲弹簧设置在凸块和盖板之间；所述正极测试针的中部、负极测试针的中部和凸块的表面设置有一个绝缘层。由于正极测试针和负极测试针的是导电的，故需要在正极测试针和负极测试针的中部以及凸块的表面设置一个绝缘层。同时缓冲组件的设置能够在刺穿导针和极箔表面氧化膜的时候起到缓冲作用，防止一下子将极箔刺穿，同时防止钢性碰撞将圆锥形尖端损坏。本专利技术中，正极测试针的中部、负极测试针的中部和凸块的表面的绝缘层可以是涂覆上去的绝缘材料，也可以是镀上去的绝缘膜。上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述正极测试针的下端比负极测试针的下端高0.1-1mm。因为导针铆接在极箔上后，导针的铝舌是有一定厚度的，其厚度一般在0.1-1mm之间。上述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，优选的，所述底座和压板之间通过螺纹杆连接在一起。通过螺纹杆可以控制压板和底座之间的距离。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：本专利技术的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具能够准确的测量导针与极箔之间的电阻，从而评价导针的铆接效果；并且本专利技术的测试治具非常稳定。附图说明图1为本专利技术中用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具的结构示意图。图2为本专利技术中测试针组件的结构示意图。图例说明1、底座；2、压板；3、绝缘垫板；4、立柱；5、负极测试针；6、正极测试针；7、连接块；8、卡槽；9、导线连接部；10、盖板；11、缓冲弹簧；12、凸块；13、螺纹杆；14、绝缘层。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下文将结合较佳的实施例对本专利技术作更全面、细致地描述，但本专利技术的保护范围并不限于以下具体的实施例。需要特别说明的是，当某一元件被描述为“固定于、固接于、连接于或连通于”另一元件上时，它可以是直接固定、固接、连接或连通在另一元件上，也可以是通过其他中间连接件间接固定、固接、连接或连通在另一元件上。除非另有定义，下文中所使用的所有专业术语与本领域技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的专业术语只是为了描述具体实施例的目的，并不是旨在限制本专利技术的保护范围。实施例如图1和图2所示的一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，包括底座1、压板2和测试针组件，底座1的中部固定设置有绝缘垫板3，底座1的两侧均设置有立柱4，立柱4穿过绝缘垫板3并从压板2伸出，压板2能沿立柱上下移动；测试针组件固定设置在压板2的中部；测试针组件包括两根负极测试针5和三根正极测试针6，三根正极测试针6成一排设置，两根负极测试针5分别设置在成一排设置的正极测试针6的两侧；两根负极测试针5通过导线连接在一起并且连接在阻抗测试仪的负极上，三根正极测试针6通过导线连接在一起并且连接连接在阻抗测试仪的正极上。测试组件固定设置在连接块7上，连接块7通过卡槽8设置在压板2上；连接块7可在压板2上滑动。底座1和压板2之间通过螺纹杆13连接在一起。本实施例中，负极测试针5和正极测试针6均包括探针，探针的下端呈尖锐的圆锥形，上端设置有导线连接部9，导线焊接在导线连接部9上，探针通过缓冲组件连接在压板2上。缓冲组件包括固定设置在压板2顶部的盖板10、缓冲弹簧11和设置在正极测试针6或者负极测试针5中部的凸块12，缓冲弹簧11设置在凸块12和盖板10之间；正极测试针6的中部、负极测试针5的中部和凸块12的表面设置有一个绝缘层14。本实施例中，正极测试针6的下端比负极测试针5的下端高0.5mm。本实施例的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具能够准确的测量导针与极箔之间的电阻，从而评价导针的铆接效果；并且本专利技术的测试治具非常稳定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，其特征在于：包括底座、压板和测试针组件，所述底座的中部固定设置有绝缘垫板，所述底座的两侧均设置有立柱，立柱穿过绝缘垫板并从压板伸出，压板能沿立柱上下移动；所述测试针组件固定设置在压板的中部；所述测试针组件包括两根负极测试针和三根正极测试针，所述三根正极测试针成一排设置，两根负极测试针分别设置在成一排设置的正极测试针的两侧；所述两根负极测试针通过导线连接在一起并且连接在阻抗测试仪的负极上，三根正极测试针通过导线连接在一起并且连接连接在阻抗测试仪的正极上。

【技术特征摘要】
1.一种用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，其特征在于：包括底座、压板和测试针组件，所述底座的中部固定设置有绝缘垫板，所述底座的两侧均设置有立柱，立柱穿过绝缘垫板并从压板伸出，压板能沿立柱上下移动；所述测试针组件固定设置在压板的中部；所述测试针组件包括两根负极测试针和三根正极测试针，所述三根正极测试针成一排设置，两根负极测试针分别设置在成一排设置的正极测试针的两侧；所述两根负极测试针通过导线连接在一起并且连接在阻抗测试仪的负极上，三根正极测试针通过导线连接在一起并且连接连接在阻抗测试仪的正极上。2.根据权利要求1所述的用于检测电容器的导针与极箔铆接阻抗的测试治具，其特征在于：所述测试组件固定设置在连接块上，所述连接块通过卡槽设置在压板上；所述连接块可在压板上滑动。3.根据权利要求1或2所述的用于检测电容器的...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾茂，彭国，
申请(专利权)人：益阳市安兴电子有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43