一种超导线圈多点温度测量系统技术方案

本发明专利技术涉及温度测试技术领域，尤其涉及一种超导线圈多点温度测量系统；其包括温度探测装置、热传导构件、制冷装置、真空密闭腔体和待检测的超导线圈；所述温度探测装置用于检测超导线圈不同部位的温度(即进行多点温度测量)；所述超导线圈放置在所述热传导构件上，所述热传导构件放置所述超导线圈的一端嵌设在所述真空密闭腔体内，相对的另一端与所述制冷装置连接。本发明专利技术的温度探头设置灵活，可对超导线圈做针对性检测，对超导线圈的制冷方式为接触式，避免了能源的耗费，也便于温度测量，因此为超导线圈的温度检测提供了一种有效的测量方法，在超导设备保护领域具有重要应用推广价值。

【技术实现步骤摘要】
一种超导线圈多点温度测量系统
本专利技术涉及温度测试
，尤其涉及一种超导线圈多点温度测量系统。
技术介绍
超导设备在运行期间，一旦发生失超，其通流能力会急剧下降，如果不采取有效措施，会带来不可逆性损伤，因此在设备运行期间对于超导设备的监测和保护就显得尤为重要，而超导线圈作为超导设备的基本组成单元，对于它的监测和保护就更为关键。超导线圈在失超时的物理特性会表现在多个方面，包括温度、磁场、电流等，本系统主要源于对于超导线圈的温度特性方面着手，当线圈局部发生热点时，会产生局部温升，由此由多点温度探头矩阵，把线圈分成可检测的有限单元，每个探头针对每个单元进行有限检测，有效控制每个部分的温度情况，一旦发生温度异常可及时切断运行设备，对超导设备起到了有效的保护。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题鉴于上述提出的高温超导线圈的检测，本专利技术要解决的技术问题是提供一种超导线圈多点温度测量系统，以对超导线圈的温度进行有效检测。(二)技术方案为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种超导线圈多点温度测量系统，其包括温度探测装置、热传导构件、制冷装置、真空密闭腔体和待检测的超导线圈；所述温度探测装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，包括温度探测装置、热传导构件、制冷装置、真空密闭腔体和待检测的超导线圈；所述温度探测装置用于检测超导线圈不同部位的温度；所述超导线圈放置在所述热传导构件上，所述热传导构件放置所述超导线圈的一端嵌设在所述真空密闭腔体内，相对的另一端与所述制冷装置连接。

【技术特征摘要】
1.一种超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，包括温度探测装置、热传导构件、制冷装置、真空密闭腔体和待检测的超导线圈；所述温度探测装置用于检测超导线圈不同部位的温度；所述超导线圈放置在所述热传导构件上，所述热传导构件放置所述超导线圈的一端嵌设在所述真空密闭腔体内，相对的另一端与所述制冷装置连接。2.根据权利要求1所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述温度探测装置为温度探头组件，所述温度探头组件包括信号线以及多个与所述信号线相连接的温度探头，多个所述温度探头分别与超导线圈的不同位置相接触。3.根据权利要求2所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，多个所述温度探头间隔布置在所述超导线圈的上表面；所述真空密闭腔体顶端设有与所述信号线相连接的信号线接口。4.根据权利要求3所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述信号线为柔性结构，以便在所述超导线圈上任意布置温度探头，方便温度探头探测超导线圈的不同位置。5.根据权利要求3所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，多个所述温度探头在所述超导线圈的上表面排列为多圈；所述超导线圈的上表面间隔设有多圈圆形轨道，多个所述温度探头分别布置在所述多圈圆形轨道内；该测量系统还包括盖板，所述盖板将多个所述温度探头覆盖。6.根据权利要求1所述的超导线圈多点温度测量系统，其特征在于，所述温度探测装置为测温光纤，所述测温光纤一端连接外部电路，另一端盘绕在所述超导线圈表...

【专利技术属性】
技术研发人员：高琦，
申请(专利权)人：北京原力辰超导技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11