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本发明涉及温度测试技术领域,尤其涉及一种超导线圈多点温度测量系统;其包括温度探测装置、热传导构件、制冷装置、真空密闭腔体和待检测的超导线圈;所述温度探测装置用于检测超导线圈不同部位的温度(即进行多点温度测量);所述超导线圈放置在所述热传导构...该专利属于北京原力辰超导技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京原力辰超导技术有限公司授权不得商用。
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本发明涉及温度测试技术领域,尤其涉及一种超导线圈多点温度测量系统;其包括温度探测装置、热传导构件、制冷装置、真空密闭腔体和待检测的超导线圈;所述温度探测装置用于检测超导线圈不同部位的温度(即进行多点温度测量);所述超导线圈放置在所述热传导构...