针对温度的力校准制造技术

一种处理系统包括传感器电路和处理电路。所述传感器电路被配置成耦合到力传感器电极，并且被配置成驱动力传感器电极来获得电容性测量结果。所述处理电路被可操作地连接到传感器电路并且被配置成将电容性测量结果聚合成聚合测量结果以及将电容性测量结果到温度映射应用于聚合测量结果以获得所述力传感器电极的当前温度。

【技术实现步骤摘要】
针对温度的力校准相关申请的交叉引用本申请根据35U.S.C.§119(e)要求2016年2月18日提交的且名称为“针对温度过应力的力自动校准（FORCEAUTOCALIBRATIONFORTEMPERATUREOVERSTRESS）”的序列号为62/297,116的美国临时专利申请的优先权，通过引用将其整体并入本文。
本专利技术总体上涉及电子设备。
技术介绍
包括接近传感器设备（通常也被称为触摸板或触摸传感器设备）在内的输入设备被广泛用在各种各样的电子系统中。接近传感器设备典型地包括常常通过表面划界的感测区，接近传感器设备在该感测区中确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器设备可以被用来为电子系统提供界面。例如，接近传感器设备常常被用作较大型计算系统的输入设备（诸如集成在笔记本或桌上型计算机中的或者作为笔记本或桌上型计算机外设的不透明触摸板）。接近传感器设备还常常被用在较小型计算系统中（诸如集成在蜂窝电话中的触摸屏）。
技术实现思路
总体上，在一个方面中，一个或多个实施例涉及一种处理系统。所述处理系统包括传感器电路和处理电路。所述传感器电路被配置成耦合到力传感器电极，并且本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种处理系统，其包括：被配置成耦合到多个力传感器电极的传感器电路，所述传感器电路被配置成驱动所述多个力传感器电极来获得第一多个电容性测量结果；以及处理电路，其被可操作地连接到传感器电路并且被配置成：将所述第一多个电容性测量结果聚合成聚合测量结果，以及将电容性测量结果到温度映射应用于所述聚合测量结果以获得所述多个力传感器电极的当前温度。

【技术特征摘要】
2016.02.18 US 62/297116;2016.12.16 US 15/3823841.一种处理系统，其包括：被配置成耦合到多个力传感器电极的传感器电路，所述传感器电路被配置成驱动所述多个力传感器电极来获得第一多个电容性测量结果；以及处理电路，其被可操作地连接到传感器电路并且被配置成：将所述第一多个电容性测量结果聚合成聚合测量结果，以及将电容性测量结果到温度映射应用于所述聚合测量结果以获得所述多个力传感器电极的当前温度。2.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述处理电路还被配置成：确定感测区中不存在输入对象，其中获得所述多个力传感器电极的当前温度是对确定不存在输入对象的响应，以及存储所述当前温度以获得存储温度。3.根据权利要求2所述的处理系统，其中所述传感器电路还被配置成：驱动所述多个传感器电极以获得第二多个电容性测量结果；其中所述处理电路还被配置成：确定感测区中存在输入对象，响应于确定存在输入对象将温度到增益映射应用于所述存储温度以获得增益，以及将所述增益应用于所述第二多个电容性测量结果以获得多个经修订的电容性测量结果。4.根据权利要求3所述的处理系统，其中所述处理电路还被配置成：使用所述多个经修订的电容性测量结果来确定输入表面上的力；以及报告所述力。5.根据权利要求1所述的处理系统，其中聚合所述第一多个电容性测量结果包括对所述第一多个电容性测量结果求平均。6.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述电容性测量结果到温度映射包括线性函数。7.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述线性函数使用测试环境的温度作为截距。8.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述传感器电路还被配置成：在测试环境中驱动所述多个传感器电极来获得第二多个电容性测量结果，其中所述处理电路还被配置成：获得测试环境的测试环境温度，聚合所述第二多个电容性测量结果以获得测试电容性测量结果，以及将所述测试电容性测量结果和所述测试环境温度作为所述电容性测量结果到温度映射保存在存储器中。9.一种方法，其包括：驱动多个力传感器电极来获得第一多个电容性测量结果；将所述第一多个电容性测量结果聚合成聚合测量结果；以及将电容性测量结果到温度映射应用于所述聚合测量结果以获得所述多个力传感器电极的当前温度。10.根据权利要求9所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：TR范德梅登，D拉古杜文，UM斯里尼瓦桑，
申请(专利权)人：辛纳普蒂克斯公司，
类型：发明
国别省市：美国,US