用于探测至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置和方法制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
用于探测多个发光二极管中的至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置和方法
本专利技术涉及用于探测多个发光二极管中的至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置和方法，这些发光二极管连接成发光二极管列，通过该发光二极管列使得两个供电接头相互连接。该发光二极管列尤其可以在汽车前照灯中予以提供。但该发光二极管列也可以是家用照明系统的组成部分，或者是另一种照明装置的组成部分。
技术介绍
在LED发光器件（LED-LightEmittingDiode，发光二极管）中常见的是，各个发光二极管串联，以便形成LED串或发光二极管列，并从电流源为其供电。一个单个的发光二极管列在此可以由10个以上串联的单发光二极管构成。一个发光二极管列通常只有两个供电接头，以便让电流源的电流流经发光二极管列。在对发光二极管列的诊断中，可以识别出一个单个的发光二极管的缺陷或失灵。缺陷可能在于，发光二极管永久地不导通，也就是说，产生了电空载。于是，全部的发光二极管都失灵了，因为电流源的电流无法再流通了。缺陷也可能在于，有缺陷的发光二极管永久地电导通，也就是熔合短路。于是，这个有缺陷的发光二极管就是保持不亮，而它仍然流通...
【技术保护点】
一种用于探测多个发光二极管（6）中的至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置（8），所述多个发光二极管连接成一个发光二极管列（5），该发光二极管列把第一供电接头（4）与第二供电接头（4）连接起来，其特征在于，给每个发光二极管（6）都并联一个电阻元件（10），测量机构（11）被设计用来在无发光二极管（6）发光时所在的发光暂停中在两个供电接头（4）之间产生诊断电流（ID），通过该诊断电流在每个电阻元件（10）上都产生比正向偏压（UF）小的电压，并联的相应发光二极管（6）从该正向偏压起发光，并且测量机构被设计用来提供在供电接头（4）之间下降的诊断电压（U）的电压值（19）。
【技术特征摘要】
2015.10.14 DE 102015219901.01.一种用于探测多个发光二极管（6）中的至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置（8），所述多个发光二极管连接成一个发光二极管列（5），该发光二极管列把第一供电接头（4）与第二供电接头（4）连接起来，其特征在于，给每个发光二极管（6）都并联一个电阻元件（10），测量机构（11）被设计用来在无发光二极管（6）发光时所在的发光暂停中在两个供电接头（4）之间产生诊断电流（ID），通过该诊断电流在每个电阻元件（10）上都产生比正向偏压（UF）小的电压，并联的相应发光二极管（6）从该正向偏压起发光，并且测量机构被设计用来提供在供电接头（4）之间下降的诊断电压（U）的电压值（19）。2.如权利要求1所述的诊断装置（8），其中，分析机构（16）被设计用来根据诊断电流（ID）的电流强度值（20）和诊断电压（U）的电压值（19），求取各电阻元件（10）和各发光二极管（6）的在供电接头（4）之间起作用的电阻的总电阻值，并根据该总电阻值产生故障信号（17、18）。3.如权利要求2所述的诊断装置（8），其中，在分析机构（16）中规定了多个无交叠的值间隔，分析机构（16）被设计用来根据总电阻值处于哪个值间隔来通过故障信号（17、18）通报有缺陷的发光二极管（6）的数量。4.如前述权利要求中任一项所述的诊断装置（8），其中，各电阻元件（10）具有小于2%的误差。5.如前述权利要求中任一项所述的诊断装置（8），其中，每个电阻元件（10）的相应的电阻值（Ri）比并联的发光二极管的在其熔合短路的缺陷状态下的相应的电阻值大至少10倍。6.如前述权利要求中任一项所述的诊断装置（8），其中，各电阻元件（10）全部都具有相同的电阻值（Ri）。7.如权利要求1~5中任一项所述的诊断装置（8），其中，至少两个特别是全部的电阻元件（10）具有不同的电阻值（Ri）。8.如前述权利要求中任一项所述的诊断装置（8），其中，用来产生照明阶段的工作电流（I）的电流源（7）被设计...
【专利技术属性】
技术研发人员：W克尔纳，M奥斯迪厄，P布赖卡，
申请(专利权)人：大陆汽车有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE
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