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本发明涉及用于探测多个发光二极管（6）中的至少一个发光二极管的缺陷的诊断装置（8），所述多个发光二极管连接成一个发光二极管列（5），该发光二极管列把第一供电接头（4）与第二供电接头（4）连接起来。要以低的布线代价探测该缺陷。本发明规定，给每...
该专利属于大陆汽车有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大陆汽车有限公司授权不得商用。

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