The present invention describes a method for clock control of an image sensor. A method for measuring and calibrating the gain of an CCD imaging system is described in detail. On either side of a charge injector can exist in the image sensor array, for providing a test charge to the corresponding calibration VCCD. The test charge may be shifted to the upper and lower HCCD during the four output readout period, or the test charge is transferred to the lower HCCD only during double output or single output readout. In each quadrant of the imaging system, the test charge may be transferred to the EMCCD output or non EMCCD output via a charge switch based on the magnitude of the test charge. The gain of all EMCCD outputs and non EMCCD outputs in the imaging system can be calibrated to each other by adjusting the gains at each output at any difference between the two outputs.
【技术实现步骤摘要】
对图像传感器进行时钟控制的方法相关申请的交叉引用本申请要求由ChristopherParks专利技术的、提交于2016年1月14日的名称为“MethodsforClockinganImageSensor”(对图像传感器进行时钟控制的方法)的美国临时申请No.62/278563的优先权,该申请以引用方式并入本文,并且据此要求该申请的共同主题的优先权。
本申请整体涉及成像系统,更具体地讲,涉及用于具有多个输出端的电荷耦合器件(CCD)成像系统的输出增益测量和校准方法。
技术介绍
电子设备(诸如移动电话、相机、计算机)通常包括成像系统,该成像系统进一步包括用于捕捉图像的数字图像传感器。可将图像传感器制作成具有二维图像像素阵列,这些图像像素包含把入射光子(入射光)转换为电信号的光电二极管。电子设备通常包括显示器,用于显示捕捉的图像数据。常规行间CCD成像器设置有形成于钉扎层下方的多个光电二极管。在常规成像器中,光电二极管通常为半导体衬底中的n型掺杂区。形成于光电二极管上方的钉扎层通常为p型掺杂层。形成于光电二极管上方的钉扎层通常耦接到地并且充当光电二极管的接地。光电二极管的电势保持恒定,只要在钉扎层上所提供的电压恒定,并且在整个设备上无全局净电流。入射在成像器上的光导致光生电子聚积在n型光电二极管区域中。通过向形成于竖直CCD(VCCD)上方的转移栅极和光电二极管与VCCD之间的区域施加读出电压(有时称为“第三级电压”),将这些光生电子中的一些读出到VCCD中。常规用于将光生电荷从光电二极管读出到VCCD的“第三级电压”通常为大于7V的大电压。随后将光生电子从每个 ...
【技术保护点】
一种成像系统,包括:光敏元件阵列;多个垂直电荷耦合器件,所述多个垂直电荷耦合器件各自耦接到所述光敏元件阵列中相应的光敏元件列;上部水平电荷耦合器件,所述上部水平电荷耦合器件耦接到所述多个垂直电荷耦合器件;下部水平电荷耦合器件,所述下部水平电荷耦合器件耦接到所述多个垂直电荷耦合器件,其中所述多个垂直电荷耦合器件将电荷从所述光敏元件阵列转移到所述上部水平电荷耦合器件和所述下部水平电荷耦合器件中的至少一者;校准垂直电荷耦合器件,所述校准垂直电荷耦合器件耦接到所述上部水平电荷耦合器件和所述下部水平电荷耦合器件中的至少一者;以及电荷注入结构,所述电荷注入结构将测试电荷注入到所述校准垂直电荷耦合器件的中间行。
【技术特征摘要】
2016.01.14 US 62/278,563;2016.05.09 US 15/149,3211.一种成像系统,包括:光敏元件阵列;多个垂直电荷耦合器件,所述多个垂直电荷耦合器件各自耦接到所述光敏元件阵列中相应的光敏元件列;上部水平电荷耦合器件,所述上部水平电荷耦合器件耦接到所述多个垂直电荷耦合器件;下部水平电荷耦合器件,所述下部水平电荷耦合器件耦接到所述多个垂直电荷耦合器件,其中所述多个垂直电荷耦合器件将电荷从所述光敏元件阵列转移到所述上部水平电荷耦合器件和所述下部水平电荷耦合器件中的至少一者;校准垂直电荷耦合器件,所述校准垂直电荷耦合器件耦接到所述上部水平电荷耦合器件和所述下部水平电荷耦合器件中的至少一者;以及电荷注入结构,所述电荷注入结构将测试电荷注入到所述校准垂直电荷耦合器件的中间行。2.根据权利要求1所述的成像系统,其中所述电荷注入结构包括第一电荷注入结构,其中所述测试电荷包括第一测试电荷,其中所述校准垂直电荷耦合器件包括第一校准垂直电荷耦合器件,并且其中所述成像系统还包括:第二校准垂直电荷耦合器件,所述第二校准垂直电荷耦合器件耦接到所述上部水平电荷耦合器件和所述下部水平电荷耦合器件中的至少一者;以及第二电荷注入结构,所述第二电荷注入结构将第二测试电荷注入到所述第二垂直电荷耦合器件的中间行。3.根据权利要求2所述的成像系统,其中所述光敏元件阵列的第一列和最后一列包括具有阻光结构的暗列,所述阻光结构防止所述暗列中的光敏元件接收入射光。4.根据权利要求3所述的成像系统,其中所述光敏元件阵列的第一行和最后一行是具有阻光结构的暗行,所述阻光结构防止所述暗行中的光敏元件接收入射光。5.根据权利要求4所述的成像系统,其中所述成像系统分成四个象限,并且其中所述四个象限中的每一者包括:电荷开关,所述电荷开关从所述上部水平电荷耦合器件和所述下部水平电荷耦合器件中的一者接收电荷;电子倍增器装置;第一成像系统输出端,所述第一成像系统输出端耦接到所述电子倍增器装置;以及第二成像系统输出端,其中所述电荷开关耦接在所述第二成像系统输出端与所述电子倍增器装置之间,并且其中在第一构造中,所述电荷开关选择性地将所述电荷开关接收的电荷通过所述电子倍增器装置传递到所述第一成像系统输出端,并且在第二构造中传递到所述第二成像系统输出端。6.根据权利要求5所述的成像系统,其中所述电荷开关基于所述电荷开关接收的电荷的量值选择性地传递所接收的电荷。7.根据权利要求6所述的成像系统,其中所述四个象限中的每一者还包括:浮栅放大器;以及浮栅感测节点,所述浮栅感测节点耦接到所述浮栅放大器并且插置到所述上部水平电荷耦合器件和所述下部水平电荷耦合器件中的对应一者,其中所述浮栅感测节点和所述浮栅放大器测量所接收的电荷的所述量值。8.根据权利要求3所述的成像系统,其中所述第一校准垂直电荷耦合器件和所述第二校准垂直电荷耦合器件分别从所述第一电荷注入结构和所述第二电荷注入结构仅接收测试电荷。9.根据权利要求1所述的成像系统,其中所述电荷注入结构包括:注入二极管;以及注入栅极,所述注入栅极插置在所述注入二极管与所述校准垂直电荷耦合器件的中间行之间,其中所述注入二极管通过所述注入栅极向所述校准垂直电荷耦合器件的所述中间行提供所述测试电荷。10.一种用于校准成像系统中图像传感器的输出端的增益的方法,包括:利用至少一个电荷注入器,将至少一个电荷注入到所述图像传感器中至少一个垂直电荷耦合器件的中间行;利用所述至少一个垂直电荷耦合器件,将所述至少一个电荷转移到至少一个水平电荷耦合器件;利用所述至少一个水平电荷耦合器件,将所述至少一个电荷转移到至少一个电荷开关;利用所述至少一个电荷开关,在检测到所述至少一个电荷高于阈值量值时,选择性地将所述至少一个电荷路由到至少一个低增益输出端,并且在检测到所述至少一个电荷低于所述阈值量值时,选择性地将所述至少一个电荷路由到至少一个高增益输出端;并且调整所述至少一个高增益输出端和所述至少一个低增益输出端的增益,使得所述增益线性匹配。11.根据权利要求10所述的方法,其中将至少一个电荷注入到所述图像传感器中至少一个垂直电荷耦合器件的中间行包括:利用第一电荷注入器,将第一电荷注入到所述图像传感器中第一垂直电荷耦合器件的中间行;并且利用第二电荷注入器,将第二电荷注入到所述图像传感器中第二垂直电荷耦合器件的中间行。12.根据权利要求11所述的方法,其中将注入的电荷转移到至少一个水平电荷耦合器件包括:利用所述第一垂直电荷耦合器件,将所述第一电荷转移到所述至少一个水平电荷耦合器件;并且利用所述第二垂直电荷耦合器件,将所述第二电荷转移到所述至少一个水平电荷耦合器件。13.根据权利要求12所述的方法,其中将至少一个电荷注入到所述图像传感器中至少一个垂直电荷耦合器件的中间行还包括:利用所述第一电荷注入器,将第三电荷注入到所述图像传感器中所述第一垂直电荷...
【专利技术属性】
技术研发人员:C·帕克斯,
申请(专利权)人:半导体元件工业有限责任公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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