用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机制造技术

本发明专利技术提供了一种用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机，包括转盘机构和至少两个测试站，所述测试站环绕转盘机构侧边设置，所述测试站在垂直方向上设置有至少一组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上的单个LED灯珠的所有引脚对应，用于测试单个LED灯珠的所有引脚，所有测试站的探针组的数量之和等于待测LED集成模组的LED灯珠的数量之和。本发明专利技术通过将设置多个测试站，对LED集成模组上的LED灯珠分别进行检测，不同时在一个测试站中进行检测，避免了因LED灯珠间距过小导致难以检测的问题。

Testing mechanism for testing LED integrated module and its photoelectric machine and braiding machine

The invention provides a method and machine and taping machine for testing agencies testing LED integrated module, which comprises a turntable mechanism and at least two test station, the station around the turntable side edge test set, the test stand in the vertical direction is provided with at least one probe group group, the group and the probe all the tested corresponding pin LED integration module of single LED lamp, LED lamp for all single pin test, all test probe station group and the quantity to be measured and the LED number is equal to the integrated module of LED beads. The present invention is provided with a plurality of test station of LED integration module of LED beads were detected at the same time, not in a test station for testing, avoid the LED interval is too small makes it difficult to detect problems.

【技术实现步骤摘要】
用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机
本专利技术涉及到机械领域，特别是涉及一种用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机。
技术介绍
贴片式发光二极管(SMD（surfacemountdevice）LED)是一种新型表面贴装式半导体发光器件，具有体积小、散射角大、发光均匀性好、可靠性高等优点，发光颜色包括白光在内的各种颜色，因此，被广泛应用于显示屏、液晶面板背光、装饰灯光和通用照明等各种电子产品上。由于LED封装出厂前必须进行分色分光处理，按照波长、亮度和工作电压等参数把LED分成很多档（Bin）和类别，然后自动根据设定的测试标准把LED分装在不同的Bin管内。而分光机就是通过对LED发出光的波长(颜色)、光强、电流电压大小等参数进行分类筛选的机器，其工作原理是由圆形振动盘与平行振动轨道负责送料，通过吸嘴将LED送至转盘，经由测试站量测光电特性之后，系统会根据量测仪器的测试结果，(主要包括波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类)通过分料机构将LED送至所属落料盒。编带机则主要用于将零散的引线型电子元器件(如电容、二极管、三极管和电感等)编带，其基本框架是由圆形振动盘与一组平行震动轨道负责送料，再由特制吸嘴将电子元器件依序送进测试站，经由极性判断后再将不合格的电子元器件吹进废料盒，将合格的电子元器件依序送进卷带内并包装完毕。就LED编带而言，在LED安装至相应的电器上或者为实现工业化的大批量生产对LED进行编带封装之前，都应对LED进行相应的测试，以使生产出来的电子产品能够正常使用。分光机和编带机在实际应用中都需要用到测试机构对电子元器件进行检测，传统的分光机和编带机的测试机构一般只有单个测试站，通过探针从两侧或底部对LED的所有引脚同时进行测试，但是现有的小间距LED显示屏主要采用2121、1515、1010、0808等型号封装器件，随着LED显示屏像素间距的缩小，引脚间的间距也不断缩小，特别是随着LED显示屏的发展，现有的单颗贴装的生产方式已逐渐向LED集成模组的贴装方式改变，如COB（chipOnboard）集成模组等。单个的LED集成模组上集成了多个LED灯珠，而探针的直径最小也约要0.15mm，当LED集成模组上集成了多个LED灯珠时，由于灯珠间的间距过小，如何对LED集成模组的引脚进行测试便成为了难题。特别是对于SMDLED，其引脚多只集中在底部，难以使用传统的测试机构进行测试。因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机，旨在解决现有的测试机构难以检测LED集成模组的引脚的问题。为解决上述问题，本专利技术的技术方案如下：一种用于测试LED集成模组的测试机构，包括转盘机构和至少两个测试站，所述测试站环绕转盘机构侧边设置，所述测试站在垂直方向上设置有至少一组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上的单个LED灯珠的所有引脚对应，用于测试单个LED灯珠的所有引脚，所有测试站的探针组的数量之和等于待测LED集成模组的LED灯珠的数量之和。所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述测试站包括至少两组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上处于对角处的LED灯珠的位置对应。所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述测试站包括探针固定座，所述探针组垂直地设置在所述探针固定座上。所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述测试站包括第一固定座和与所述第一固定座呈直角连接的第二固定座，所述第二固定座尾端转动连接有摆动板，所述摆动板另一端设置有固定架，所述探针组垂直地设置在固定架上，所述摆动板上还设有可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及复位装置。所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，述转盘机构包括圆盘载具，所述圆盘载具上环绕设置有若干个固定位，所述固定位为镂空的十字架状。所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述转盘机构包括转盘，所述转盘四周下端面设置有用于抓取固定电子元器件的若干个吸嘴。所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，还包括第一定位机构，所述第一定位机构设置在所述测试站前，转盘机构的侧边位置上。所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，还包括第二定位机构，所述第二定位机构设置在所述测试站后，转盘机构的侧边位置上。一种分光机，包括有如上所述的用于测试LED集成模组的测试机构。一种编带机，包括有如上所述的用于测试LED集成模组的测试机构。本专利技术的有益效果包括：本专利技术提供的一种用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机通过将设置多个测试站，对LED集成模组上的LED灯珠分别进行检测，不同时在一个测试站中进行检测，避免了因LED灯珠间距过小导致难以检测的问题；此外，在测试站上设置至少两组探针组，每组探针组与LED集成模组上处于对角处的LED灯珠对应，利用对角线距离较长的原理，增加了探针组之间的间距，在解决LED灯珠间引脚间距过小的同时，减少了测试站的数量，节约了生产成本；另一方面，通过在转盘机构上镂空固定位，解决了传统玻璃或金属转盘导光不均匀，导致分光数据差别大的问题。附图说明图1为本专利技术提供的一种测试机构的结构示意图。图2为本专利技术提供的一种四连体LED集成模组的测试位置示意图。图3为本专利技术提供的一种六连体LED集成模组的测试位置示意图。图4为本专利技术提供的另一种六连体LED集成模组的测试位置示意图。图5为本专利技术提供的一种测试站的结构示意图。图6为传统圆盘载具未加载电子元器件时的结构示意图。图7为传统圆盘载具加载电子元器件时的结构示意图。图8为本专利技术提供的圆盘载具未加载电子元器件时的结构示意图。图9为本专利技术提供的圆盘载具加载电子元器件时的结构示意图。图10为本专利技术提供的一种分光机的俯视结构简图。图11为本专利技术提供的一种编带机的俯视结构简图。附图标记说明：1、送料振动盘；2、直振轨道；3、转盘；301、吸嘴；302、防抛料挡圈；4、第一定位机构；5、第一测试站；501、第一探针组；5011、第一探针组测试点；502、第一固定座；503、第二固定座；504、摆动板；505、转轴；506、固定架；507、驱动装置；508、复位装置；6、第二测试站；6011、第二探针组测试点；7011、第三探针组测试点；8011、第四探针组测试点；7、第二定位机构；8、载带机构；9、封带机构；10、控制单元；11、废料收集装置；12、影像检测机构；13、收带机构；14、分选机构；15、四连体RGB-LED集成模组；1501、灯珠引脚；16、六连体RGB-LED集成模组；1601、LED灯珠引脚；17、圆盘载具；1701、测试位；18、待测电子元器件；19、XY轴下料机构。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本专利技术进一步详细说明。本专利技术提供的用于测试LED集成模组的测试机构，包括转盘机构和至少两个测试站，所述测试站环绕转盘机构侧边设置，所述测试站在垂直方向上设置有至少一组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上的单个LED灯珠的所有引脚对应，用于测试单个LED灯珠的所有引脚，所有测试站的探针组的数量之和等于待测LED集成模组的LE本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试LED集成模组的测试机构，其特征在于，包括转盘机构和至少两个测试站，所述测试站环绕转盘机构侧边设置，所述测试站在垂直方向上设置有至少一组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上的单个LED灯珠的所有引脚对应，用于测试单个LED灯珠的所有引脚，所有测试站的探针组的数量之和等于待测LED集成模组的LED灯珠的数量之和。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试LED集成模组的测试机构，其特征在于，包括转盘机构和至少两个测试站，所述测试站环绕转盘机构侧边设置，所述测试站在垂直方向上设置有至少一组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上的单个LED灯珠的所有引脚对应，用于测试单个LED灯珠的所有引脚，所有测试站的探针组的数量之和等于待测LED集成模组的LED灯珠的数量之和。2.根据权利要求1所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其特征在于，所述测试站包括至少两组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上处于对角处的LED灯珠的位置对应。3.根据权利要求1所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其特征在于，所述测试站包括探针固定座，所述探针组垂直地设置在所述探针固定座上。4.根据权利要求1所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其特征在于，所述测试站包括第一固定座和与所述第一固定座呈直角连接的第二固定座，所述第二固定座尾端转动连接有摆动板，所述摆动板另一端设置有固定架，所述探针组垂直地设置在固定架...

【专利技术属性】
技术研发人员：李绍立，孔一平，袁信成，
申请(专利权)人：山东晶泰星光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37