由电磁铁驱动的LED分光机测试结构制造技术

一种由电磁铁驱动的LED分光机测试结构，包括底座，及设置在底座上的主连杆、左测试定位臂和右测试定位臂，左测试定位臂和右测试定位臂位于主连杆的一侧，主连杆的两端通过左连杆、右连杆分别与左测试定位臂、右测试定位臂铰接，一测试机构位于左测试定位臂和右测试定位臂的定位中心，在底座上还设有电磁铁驱动装置和推顶机构，推顶机构位于主连杆一端的另一侧，一弹簧的两端分别与主连杆的另一端和底座连接；测试时，在电磁铁驱动装置的驱动下，推顶机构的凸轮随动器推顶主连杆的一端。本实用新型专利技术由于采用了电磁铁驱动装置和推顶机构，降低了测试材料的损坏率，具有速度快、行程短、测试效率高和提高了测试材料品质等优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及LED分光机的
，尤其是涉及一种由电磁铁驱动的LED分光机测试结构。
技术介绍
贴片式发光二极管是一种新型表面贴装式半导体发光器件，具有体积小、散射角大、发光均匀性好、可靠性高等优点，发光颜色包括白光在内的各种颜色，因此，被广泛应用于显示屏、液晶面板背光、装饰灯光和通用照明等各种电子产品上。由于LED封装出厂前必须进行分色分光处理，按照波长、亮度和工作电压等参数把LED分成很多档(Bin)和类别，然后自动根据设定的测试标准把LED分装在不同的Bin管内。现有技术中的LED分光机测试结构通常采用第一定位夹和第二定位夹对测试材料进行定位，而且使用电机或气缸作为驱动源，电机或气缸在驱动时，由于其速度太慢，阻碍了 LED分光机测试结构的提速，影响了其测试效率。并且驱动源的驱动轴通过第二连杆和第二定位夹连接，这使的其结构复杂，在对测试材料进行定位时，还会由于电机或气缸不能及时降低驱动速度，而使第一定位夹和第二定位夹用力过大，将测试材料损坏，降低了测试材料的品质。
技术实现思路
为了克服上述问题，本技术向社会提供一种速度快、测试效率高和提高了测试材料品质的由电磁铁驱动的LED分光机测试结构。本技术的技术方案是:提供一种由电磁铁驱动的LED分光机测试结构，包括底座，及设置在所述底座上的主连杆、左测试定位臂和右测试定位臂，所述左测试定位臂和所述右测试定位臂位于所述主连杆的一侧，所述主连杆的两端通过左连杆、右连杆分别与所述左测试定位臂、所述右测试定位臂铰接，一测试机构位于所述左测试定位臂和所述右测试定位臂的定位中心，其在所述底座上还设有电磁铁驱动装置和推顶机构，所述推顶机构位于所述主连杆一端的另一侧，一弹簧的两端分别与所述主连杆的另一端和所述底座连接；测试时，在所述电磁铁驱动装置的驱动下，所述推顶机构的凸轮随动器推顶所述主连杆的一端。作为对本技术的改进，所述凸轮随动器包括转轴和设置在所述转轴上的凸轮，所述转轴设置在所述推顶机构的推顶移动件上，所述凸轮随动器推顶所述主连杆时，所述凸轮相对所述主连杆转动。作为对本技术的改进，在所述底座上设有第一直线导轨副，所述推顶移动件设置在所述第一直线导轨副的第一滑块上。作为对本技术的改进，还包括设置在所述底座上的电磁铁固定座，所述电磁铁驱动装置设置在所述电磁铁固定座上。作为对本技术的改进，所述电磁铁驱动装置前端的驱动轴穿过设置在所述电磁铁固定座上的中孔与所述推顶机构的电磁铁撞块接触。作为对本技术的改进，还包括位于所述电磁铁驱动装置后端的电磁铁导向板，所述电磁铁导向板通过安装柱设置在所述电磁铁固定座上。作为对本技术的改进，还包括调整螺钉和设置在所述调整螺钉上的调整螺母，在所述电磁铁导向板上设有调整孔，所述调整螺钉的一端穿过所述调整孔与所述电磁铁驱动装置的后端连接。作为对本技术的改进，还包括设置在所述电磁铁导向板上的测试调整件，所述调整螺钉的另一端与所述测试调整件连接。作为对本技术的改进，还包括第二直线导轨副和第三直线导轨副，所述左测试定位臂和所述右测试定位臂分别设置在所述第二直线导轨副的第二滑块上和所述第三直线导轨副的第三滑块上。作为对本技术的改进，所述凸轮随动器用推顶凸起代替。本技术由于采用了电磁铁驱动装置和推顶机构，测试时，电磁铁驱动装置通电，在电磁铁驱动装置驱动下，推顶机构的凸轮随动器推顶主连杆的一端，凸轮转动减少了凸轮和主连杆之间的摩擦力，防止将凸轮磨损，延长凸轮的使用寿命；而且凸轮抵靠在主连杆的位置也会随着主连杆和凸轮的转动而产生变化，进而使凸轮作用在主连杆的力会越来越小，这样就使得左夹具和右夹具在定位测试材料时的力量会逐渐减小，有效地防止了由于力量过大损坏测试材料，降低了测试材料的损坏率，具有速度快、行程短、测试效率高和提高了测试材料品质等优点。【附图说明】图1是本技术的平面结构示意图。图2是图1的立体结构分解示意图。其中:1.底座；11.凸耳；12.第三直线导轨副；2.电磁铁驱动装置；21.电磁铁固定座；22.电磁铁导向板；23.调整螺母；24.调整螺钉；25.测试调整件；3.推顶机构；31.推顶移动件；32.凸轮随动器；33.电磁铁撞块；4.主连杆；41.弹簧；51.左测试定位臂；52.左连杆；53.左夹具；61.右测试定位臂；62.右连杆；63.右夹具。【具体实施方式】在本技术的描述中，需要理解的是，术语中“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”、“相连”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术的具体含义。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上。请参见图1和图2，图1和图2所揭示的是一种由电磁铁驱动的LED分光机测试结构，包括底座1，及设置在所述底座I上的主连杆4、左测试定位臂51和右测试定位臂61，所述左测试定位臂51和所述右测试定位臂61位于所述主连杆4的一侧，所述主连杆4的两端通过左连杆52、右连杆62分别与所述左测试定位臂51、所述右测试定位臂61铰接，一测试机构位于所述左测试定位臂51和所述右测试定位臂61的定位中心。本实施例中，在所述底座I上还设有电磁铁驱动装置2和推顶机构3，所述推顶机构3位于所述主连杆4 一端的另一侧，一弹簧41的两端分别与所述主连杆4的另一端和所述底座I连接；测试时，在所述电磁铁驱动装置2的驱动下，所述推顶机构3的凸轮随动器32推顶所述主连杆4的一端。本实施例中，所述推顶机构3包括推顶移动件31、电磁铁撞块33和所述凸轮随动器32，所述电磁铁撞块33和所述凸轮随动器32设置在所述推顶移动件31上，在所述底座I上设有第一直线导轨副，所述推顶移动件31设置在所述第一直线导轨副的第一滑块上。所述凸轮随动器32包括转轴和设置在所述转轴上的凸轮，所述转轴设置在所述推顶移动件31上，所述凸轮随动器32推顶所述主连杆4时，所述凸轮相对所当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种由电磁铁驱动的LED分光机测试结构，包括底座，及设置在所述底座上的主连杆、左测试定位臂和右测试定位臂，所述左测试定位臂和所述右测试定位臂位于所述主连杆的一侧，所述主连杆的两端通过左连杆、右连杆分别与所述左测试定位臂、所述右测试定位臂铰接，一测试机构位于所述左测试定位臂和所述右测试定位臂的定位中心，其特征在于：在所述底座上还设有电磁铁驱动装置和推顶机构，所述推顶机构位于所述主连杆一端的另一侧，一弹簧的两端分别与所述主连杆的另一端和所述底座连接；测试时，在所述电磁铁驱动装置的驱动下，所述推顶机构的凸轮随动器推顶所述主连杆的一端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何选民，林广满，范聚吉，
申请(专利权)人：深圳市标谱半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44