双站底部测试分光机制造技术

技术编号:11206042 阅读:79 留言:0更新日期:2015-03-26 14:18
本发明专利技术提供了一种双站底部测试分光机,包括:振动盘、抓料机构、第一定位机构、第一底部测试机构、第二定位机构、第二底部测试机构、分度盘机构、吹料机构;振动盘将物料输送至平轨定位处,然后抓料机构将物料通过其吸嘴抓取后,放入分度盘机构的入料口;分度盘机构转动从而将物料运送至第一定位机构处,第一定位机构将物料定位后,由第一底部测试机构对物料进行第一站测试,然后由分度盘机构将物料运送至第二定位机构处,由第二底部测试机构对物料进行第二站测试,最后,由分度盘机构将物料运动至吹料机构处,吹料机构将物料吹入下料软管中。由于采用了上述结构,本发明专利技术具有结构简单、成本低、可进行两站测试的特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机械领域,特别涉及一种双站底部测试分光机
技术介绍
分光机是通过对LED发出光的波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类筛选的机器,其工作原理是由圆形振动盘与平行振动轨道负责送料,通过吸咀将LED送至转盘,经由测试站量测光电特性之后,系统会根据量测仪器的测试结果,(主要包括波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类)通过分料机构将LED送至所属落料盒。
技术实现思路
本专利技术提供了一种结构简单、成本低、可进行两站测试的双站底部测试分光机。为解决上述问题,作为本专利技术的一个方面,提供了一种双站底部测试分光机,包括:振动盘、抓料机构、第一定位机构、第一底部测试机构、第二定位机构、第二底部测试机构、分度盘机构、吹料机构;振动盘将物料输送至平轨定位处,然后抓料机构将物料通过其吸嘴抓取后,放入分度盘机构的入料口;分度盘机构转动从而将物料运送至第一定位机构处,第一定位机构将物料定位后,由第一底部测试机构对物料进行第一站测试,然后由分度盘机构将物料运...

【技术保护点】
一种双站底部测试分光机,其特征在于,包括:振动盘(1)、抓料机构(2)、第一定位机构(3)、第一底部测试机构(4)、第二定位机构(5)、第二底部测试机构(6)、分度盘机构(7)、吹料机构(8)等;所述振动盘(1)将物料输送至平轨定位处,然后所述抓料机构(2)将所述物料通过其吸嘴抓取后,放入所述分度盘机构(7)的入料口;所述分度盘机构(7)转动从而将所述物料运送至所述第一定位机构(3)处,所述第一定位机构(3)将所述物料定位后,由所述第一底部测试机构(4)对所述物料进行第一站测试,然后由所述分度盘机构(7)将所述物料运送至所述第二定位机构(5)处,由所述第二底部测试机构(6)对所述物料进行第二站...

【技术特征摘要】
1.一种双站底部测试分光机,其特征在于,包括:振动盘(1)、抓料机构(2)、
第一定位机构(3)、第一底部测试机构(4)、第二定位机构(5)、第二底
部测试机构(6)、分度盘机构(7)、吹料机构(8)等;
所述振动盘(1)将物料输送至平轨定位处,然后所述抓料机构(2)
将所述物料通过其吸嘴抓取后,放入所述分度盘机构(7)的入料口;所述
分度盘机构(7)转动从而将所述物料运...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵玉涛
申请(专利权)人:深圳市炫硕光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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