【技术实现步骤摘要】
一种光学波导阵列式X射线探测器
本技术属于X射线脉冲辐射的强度测量领域,尤其涉及一种光学波导阵列式X射线探测器。
技术介绍
目前现有的脉冲式X射线探测器,主要通过光电转换效应,X射线辐射辐照敏感材料产生电子发射,经过电子光学系统收集成为光电流加以探测。光电转换方式的X射线探测器主要存在以下问题:1、难以集成化,由于探测器的感光面积与相应的电流正比例,产生的这种原理的探测器设计体积上有一定的要求,难以制作集成化的探测器件。2、探测器的时间分辨能力受到制约。由于电子系统的响应极限限制,光电转换方式的时间分辨率能力受到限制。3、探测器容易受到电磁辐射的干扰。
技术实现思路
为解决上述问题,本技术提供一种光学波导阵列式X射线探测器。采用集成光学设计形成光学波导阵列实现了X射线脉冲对探测光束的调制,通过探测光束的检测获取X射线脉冲辐射的信息,实现了多通道X射线脉冲辐射探测。X射线脉冲辐照光学波导阵列时,光学波导中会产生瞬态载流子浓度变化,导致光学波导材料的光学性质发生变化,进而引起光学波导阵列中传播的探测光束的强度或位相发生变化。一种光学波导阵列式X射线探测器,包括探测光光源1、光纤分束器2、第一光纤阵列3、衬底4、光学波导阵列5、第二光纤阵列6以及光纤耦合探测模块7;所述探测光光源1为光纤耦合输出激光器,通过光纤与光纤分束器2连接;所述光纤分束器2对准第一光纤阵列3的输入端;所述第一光纤阵列3和第二光纤阵列6分别设置在光学波导阵列5的输入端面和输出端面,且第一光纤阵列3和第二光纤阵列6的各支光纤单元分别与光学波导阵列5的各个波导单元共轴;所述第一光纤阵列3每支光纤单元 ...
【技术保护点】
一种光学波导阵列式X射线探测器,其特征在于,包括探测光光源(1)、光纤分束器(2)、第一光纤阵列(3)、衬底(4)、光学波导阵列(5)、第二光纤阵列(6)以及光纤耦合探测模块(7);所述探测光光源(1)为光纤耦合输出激光器,通过光纤与光纤分束器(2)连接;所述光纤分束器(2)对准第一光纤阵列(3)的输入端;所述第一光纤阵列(3)和第二光纤阵列(6)分别设置在光学波导阵列(5)的输入端面和输出端面,且第一光纤阵列(3)和第二光纤阵列(6)的各支光纤单元分别与光学波导阵列(5)的各个波导单元共轴;所述第一光纤阵列(3)每支光纤单元的输出端面和光学波导阵列(5)中对应的波导单元输入端面准直;第二光纤阵列(6)每支光纤单元的输入端面和光学波导阵列(5)中对应的波导单元输出端面准直;所述光纤耦合探测模块(7)对准第二光纤阵列(6)的输出端面;所述光学波导阵列(5)在衬底(4)上利用光刻工艺制作而成;其中光学波导阵列(5)中的各个波导单元为长方体结构,相互平行排列在衬底(4)上。
【技术特征摘要】
1.一种光学波导阵列式X射线探测器,其特征在于,包括探测光光源(1)、光纤分束器(2)、第一光纤阵列(3)、衬底(4)、光学波导阵列(5)、第二光纤阵列(6)以及光纤耦合探测模块(7);所述探测光光源(1)为光纤耦合输出激光器,通过光纤与光纤分束器(2)连接;所述光纤分束器(2)对准第一光纤阵列(3)的输入端;所述第一光纤阵列(3)和第二光纤阵列(6)分别设置在光学波导阵列(5)的输入端面和输出端面,且第一光纤阵列(3)和第二光纤阵列(6)的各支光纤单元分别与光学波导阵列(5)的各个波导单元共轴;所述第一光纤阵列(3)每支光...
【专利技术属性】
技术研发人员:易涛,刘慎业,江少恩,丁永坤,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心,
类型:新型
国别省市:四川,51
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。