The invention relates to an interlocking nested wafer protector. For interlocking wafer separator to reduce particles during shipping in the integrated circuit chip (308) has the wafer (312); interlocking tabs (314), which prevents the inner edge contact wafer shipping container of the wafer; and the locking groove (310), the second interlocking rings of wafer separator (307) the interlocking tabs (314) is inserted into the lock groove, so that the two interlocking wafer separator coin locked in a stacked chip (404).
【技术实现步骤摘要】
互锁嵌套晶片保护器
本专利技术大体上涉及用于船运半导体晶片的晶片载体或封装。更特定来说,本专利技术涉及一种保护性环分离器,其在晶片船运集装箱中以船送运送晶片期间用于硬币堆叠式晶片之间。
技术介绍
一些集成电路制造商在一个位置生产半导体晶片,并以船运送所述晶片以用于在不同位置处进行切片及封装。在此类情况中,通常在被称为硬币堆叠船运集装箱的集装箱中以船运送晶片,在所述集装箱中所述晶片堆叠于彼此的顶部上。为防止在船运期间损坏,将保护性环分离器放置于每一晶片之间。保护性环分离器在船运期间防止一个晶片摩擦另一晶片。保护性环分离器100(图1A)是在中心敞开的环。在图2A中说明此硬币堆叠船运集装箱200。晶片204被堆叠于硬币堆叠船运集装箱200中,其中保护性环分离器100位于每一晶片204之间。在图1A中说明典型的保护性环分离器100的平面图。保护性环分离器100的圆周稍微小于晶片船运集装箱200(图2A)的内圆周,使得其舒适地配合于船运集装箱内同时在船运期间提供极少移动空间。在图1B中展示保护性环分离器100的放大的横截面图108。沿着图1A中的插图104的切割线106获得此放大图108。保护性环分离器108通常是L形的,其中所述L的脊部面向晶片船运集装箱200的内表面,且所述L的足部111朝向晶片船运集装箱200的中心向内延伸。晶片面向下位于所述L的顶部(也被称为晶片架112)上。晶片架112充分高于保护性环分离器100上的足部111以使晶片204及环分离器108能够从晶片船运集装箱200自动装载及卸载。如图2A中所展示,晶片204被硬币堆叠于晶片船运集装箱20 ...
【技术保护点】
一种用于在晶片船运集装箱中以船运送集成电路晶片的互锁环晶片分离器,其包括:晶片架,其是环形的;互锁突片,其中所述互锁突片围绕所述晶片架的外圆周延伸,其中所述互锁突片延伸超出所述晶片架;及互锁凹槽,其围绕所述互锁环晶片分离器的底部外圆周延伸,其中所述互锁凹槽的宽度稍微大于所述互锁突片的宽度,且被定位于所述互锁突片的正下方。
【技术特征摘要】
2015.12.18 US 14/974,1661.一种用于在晶片船运集装箱中以船运送集成电路晶片的互锁环晶片分离器,其包括:晶片架,其是环形的;互锁突片,其中所述互锁突片围绕所述晶片架的外圆周延伸,其中所述互锁突片延伸超出所述晶片架;及互锁凹槽,其围绕所述互锁环晶片分离器的底部外圆周延伸,其中所述互锁凹槽的宽度稍微大于所述互锁突片的宽度,且被定位于所述互锁突片的正下方。2.根据权利要求1所述的互锁环晶片分离器,其中所述晶片架的宽度小于大约3mm。3.根据权利要求1所述的互锁环晶片分离器,其进一步包括足部,其中所述足部围绕所述互锁环晶片分离器的内底部圆周延伸,且其中所述足部朝向所述互锁环晶片分离器的中心向内延伸,且其中所述晶片架的顶部表面足够超出所述足部以允许自动拾取和放置装载机及卸载机装载及卸载所述晶片及所述互锁环晶片分离器。4.根据权利要求1所述的互锁环晶片分离器,其进一步包括围绕所述互锁环晶片分离器的圆周以某一间隔定位的表面张力释放槽。5.根据权利要求4所述的互锁环晶片分离器,其中每一表面张力释放槽的宽度在1mm与3mm之间。6.根据权利要求4所述的互锁环晶片分离器,其中存在在4与10个之间的表面张力释放槽。7.根据权利要求4所述的互锁环晶片分离器,其中每一表面张力释放槽包括所述互锁突片的所述圆周中的间隙,且包括所述晶片架的所述圆周中的间隙。8.一种船运集装箱,其包括侧壁;及互锁环晶片分离器堆叠,其中每一互锁环晶片分离器包括:晶片架,其是环形的;互锁突片,其中所述互锁突片围绕所述晶片架的外圆周在所述晶片架与所述船运集装箱的所述侧壁之间延伸,其中所述互锁突片延伸超出所述晶片架;及互锁凹槽,其围绕所述互锁环晶片分离器的底部外圆周延伸,其中所述互锁凹槽的宽度稍微大于所述互锁突片的宽度,且其中所述互锁凹槽被定位于所述互锁突片的正下方;其中所述互锁环晶片分离器堆叠中的上互锁环晶片分离器的所述互锁突片延伸到所述互锁环晶片分离器堆叠中的下互锁...
【专利技术属性】
技术研发人员:阿尔贝特·温斯顿·杜尔莱·埃斯库萨,威廉姆·卡苏加·尼斯佩罗斯,洛伦斯·S·帕雷哈,
申请(专利权)人:德州仪器公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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