【技术实现步骤摘要】
一种负性光刻胶
本专利技术涉及一种负性光刻胶。
技术介绍
光刻胶是一种感光材料,是利用光化学反应进行图形转移的媒体,主要应用于集成电路,封装,光电子器件光子器件,平板显示等领域。光刻胶主要由成膜树脂、光引发剂和溶剂助剂及填料等组成的对光敏感的混合液体。根据化学反应机理和显影原理,光刻胶可分为正性光刻胶和负性光刻胶两类。负性光刻胶经曝光后发生聚合反应,生成不可溶性物质。曝光前光刻胶是线形高分子化合物,在有机溶剂中可溶解;曝光后,高分子化合物发生交联形成三维网状结构,成为不可溶的物质,从而形成与掩膜板相反的负图像。与正性光刻胶相比,负性光刻胶的分辨率要差些,但具有针孔少、腐蚀图形精度高、耐酸碱性好,与基片粘附性特别好以及灵敏度高而稳定等优点。负性光刻胶主要由成膜树脂、活性稀释剂、光引发剂、溶剂等组成,其中成膜树脂是光刻胶的骨架和基础材料,它对光刻胶有决定性的影响。含有乙烯基的高聚物常常被用作光聚合体系的成膜树脂,其所含的双键,易被受光照激发的自由基引发打开,产生类似于链增长的快速反应,使线型高分子瞬间交联形成网状结构。这类感光树脂通常具有以下特性:(1)环氧类树脂的分 ...
【技术保护点】
一种负性光刻胶,其由下列组分组成:透明高折射率光敏碱溶性树脂A;光引发剂B;活性稀释剂;溶剂D。
【技术特征摘要】
1.一种负性光刻胶,其由下列组分组成:透明高折射率光敏碱溶性树脂A;光引发剂B;活性稀释剂;溶剂D。2.根据权利要求1所述的负性光刻胶,其特征在于,该负性光刻胶由按照质量份数计算的下列组分组成:透明高折射率光敏碱溶性树脂A100份;光引发剂B0.005~20份;活性稀释剂C10~80份;溶剂D20-60份。3.根据权利要求1或2所述的负性光刻胶,其特征在于,所述透明高折射率光敏碱溶性树脂A由脂环族环硫丙烯酸树脂a1用酸酐类固化剂a2改性后得到的;所述脂环族环硫丙烯酸树脂a1是脂环族环硫单体a11与烯丙基丙烯酸类化合物a12共聚而成;所述脂环族环硫单体a11由脂环族环氧单体a111置换得到。4.根据权利要求3所述的负性光刻胶,其特征在于,上述脂环族环氧单体a111是下述物质中的一种或者多种的混合物:3,4-环氧环己基甲基3,4-环氧环己基甲酸酯、双((3,4-环氧环己基)己二酸酯、1,4-环己烷二甲醇双(3,4-环氧环己烷甲酸)酯、2-(3,4-环氧环己基)-5,5-螺(3,4-环氧环己基)-1,3-二氧六环、1,2-环己醇二缩水甘油醚、1,4-环己烷二甲醇二缩水甘油醚。5.根据权利要求3所述的负性光刻胶,其特征在于,上述烯丙基丙烯酸类化合物a12为下述通式1所示的甲基丙烯酸或丙烯酸:[通式1]上述通式1中,X为氢或甲基。6.根据权利要求3所述的负性光刻胶,其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员:尤慧,顾奇,王胜林,
申请(专利权)人:深圳市道尔顿电子材料有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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