【技术实现步骤摘要】
应用于测试的裸芯片结构及其制造方法
本专利技术涉及半导体集成电路测试
,涉及一种裸芯片与印制电路板连接和保护结构及其制造方法。
技术介绍
芯片流片完成后,一般要将裸片封装于塑料材料或陶瓷材料中,对其提供环境保护,然后才能进行各种功能测试。封装周期占用了宝贵的测试时间,减缓产品的市场化步伐,因此对裸芯片进行测试成为国际上研究的热点。晶圆级测试可通过晶圆探针及专用测试台对裸芯片进行测试,但只能够完成较为简单的测试任务,在芯片实际功能的测试方面有较多的局限性;国外一些公司推出KGD(KnownGoodDie)裸芯片产品,采用专用的夹具对裸芯片进行测试,夹具的特殊定制及开发周期仍不能满足芯片测试的时效性要求;目前,较为常用的是把裸芯片固定在PCB板上,使用键合机将芯片引脚和PCB板焊盘进行连接,再用专用胶水对整个结构进行覆盖保护,即可在实验室环境中对芯片进行全面的功能测试。但胶水一旦固化便很难从裸芯上去除,可维修性不佳,且胶水覆盖裸芯片的过程中可能会造成键合丝间的接触连接,可靠性较差。随着芯片复杂度的越来越高,功能管脚数量数以百计,需在PCB板上加工同样数量的一圈绑定焊盘作为键合点,由于键合丝长度要求,金属绑定焊盘面积和间距受到限制,键合时极易造成键合丝间的碰触连接,对PCB板加工精度及键合操作人员技术水平要求较高,在普通实验室条件下实现多管脚裸芯片和PCB板间的有效连接难度较大;且裸芯片面积越大,在PCB板上进行粘结时所需的导电胶越多,裸芯片按压在PCB板上时,会造成导电胶在裸芯片侧边的外溢,极易黏附在裸芯片金属PAD上,在金属PAD间形成短路,造成裸芯片 ...
【技术保护点】
一种应用于测试的裸芯片结构(100),其特征在于,包括:主PCB板(101)、副PCB板(102)、裸芯片(103)、第一焊盘(104)、第一键合丝(105)、第二焊盘(106)、第二键合丝(107)、垫片(110)、金属排针(111)、保护罩(112)及电气绝缘油(114);其中,所述垫片(110)粘结于所述主PCB板(101)上且所述裸芯片(103)粘结于所述垫片(110)上;所述第一焊盘(104)环绕于所述裸芯片(103)四周并设置于所述主PCB板(101)上且通过所述第一键合丝(105)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述副PCB板(102)位于所述第一焊盘(104)外围并粘结于所述主PCB板(101)上且通过所述金属插针(111)与所述主PCB板(101)实现电气连接;所述第二焊盘(106)设置于所述副PCB板(102)上且通过所述第二键合丝(107)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述保护罩(112)粘结于所述主PCB板(101)上且将所述副PCB板(102)、所述裸芯片(103)、所述第一焊盘(104)、所述第一键合丝(105)、所述第二焊盘(106)、所 ...
【技术特征摘要】
1.一种应用于测试的裸芯片结构(100),其特征在于,包括:主PCB板(101)、副PCB板(102)、裸芯片(103)、第一焊盘(104)、第一键合丝(105)、第二焊盘(106)、第二键合丝(107)、垫片(110)、金属排针(111)、保护罩(112)及电气绝缘油(114);其中,所述垫片(110)粘结于所述主PCB板(101)上且所述裸芯片(103)粘结于所述垫片(110)上;所述第一焊盘(104)环绕于所述裸芯片(103)四周并设置于所述主PCB板(101)上且通过所述第一键合丝(105)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述副PCB板(102)位于所述第一焊盘(104)外围并粘结于所述主PCB板(101)上且通过所述金属插针(111)与所述主PCB板(101)实现电气连接;所述第二焊盘(106)设置于所述副PCB板(102)上且通过所述第二键合丝(107)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述保护罩(112)粘结于所述主PCB板(101)上且将所述副PCB板(102)、所述裸芯片(103)、所述第一焊盘(104)、所述第一键合丝(105)、所述第二焊盘(106)、所述第二键合丝(107)及所述垫片(110)封装于其内部,并在其内部注入所述电气绝缘油(114)。2.根据权利要求1结构(100),其特征在于,所述主PCB板(101)设置有第一通孔(108),所述副PCB板(102)对应设置有第二通孔(109),所述金属插针(111)插入对应设置的所述第一通孔(108)及所述第二通孔(109)以实现所述主PCB板(101)和所述副PCB板(102)的电气连接。3.根据权利要求1结构(100),其特征在于,所述第一焊盘(104)交错排列于所述主PCB板(101)上,所述第二焊盘(106)交错排列于所述副PCB板(102)上。4.根据权利要求1结构(100),其特征在于,所述保护罩(112)上表面设置有两个开孔(113);其中一个开孔(113)用于注射所述电气绝缘油(114)且另一个开孔(113)用于排气并观察是否有所述电气绝缘油(114)溢出以确定所述保护罩(112)内是否存满所述电气绝缘油(114)。5.一种应用于测试的裸芯片结构(100)的制造方法,其特征在于,包括:制作主PCB板(101),并在所述主PCB板(101)表面制作第一焊盘(104);在所述主PCB板(101)表面的指定位置粘结垫片(110)并在所述垫片(110)表面粘结裸芯片(103);采用键合工艺将第一键合丝(105)的两端键合于所述裸芯片(103)的金属PAD及所述第一焊盘(104)上;制作副PCB板(102),并在所述副PCB板(102)表面制作第二焊盘(106);将所述副PCB板(102)粘结于所述主PCB板(101)上;采用键合工艺将第二键合丝(107)的两端键合于所述裸芯片(103)的金属PAD及所述第二焊盘(106)上,采用金属插针(111)连接所述主PCB板(101)和所述副PCB板(102)以实现电气连接;将所述保护罩(112)粘结于所述主PCB...
【专利技术属性】
技术研发人员:王起,
申请(专利权)人:西安科锐盛创新科技有限公司,
类型:发明
国别省市:陕西,61
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。