应用于测试的裸芯片结构及其制造方法技术

技术编号:15650882 阅读:86 留言:0更新日期:2017-06-17 03:57
本发明专利技术公开一种应用于测试的裸芯片结构及其制造方法。该结构100包括:主PCB板101、副PCB板102、裸芯片103、焊盘104/106、键合丝105/107、垫片110、金属排针111、保护罩112及电气绝缘油114;垫片110粘结主PCB板101上且裸芯片103粘结垫片110上;焊盘104环绕于裸芯片103四周并设置于主PCB板101上且通过键合丝105与裸芯片103的金属PAD连接;副PCB板102位于焊盘104外围并粘结主PCB板101上且通过金属插针111与主PCB板101实现电气连接;焊盘106设置于副PCB板102上且通过键合丝107与裸芯片103的金属PAD连接;保护罩112粘结于主PCB板101上并在其内部注入电气绝缘油114。本发明专利技术中,结构呈高低高阶梯状,提高了单位面积上键合丝的密度,能够保证裸芯片粘结时金属PAD免受污染,避免裸芯片和键合丝在空气中氧化。

【技术实现步骤摘要】
应用于测试的裸芯片结构及其制造方法
本专利技术涉及半导体集成电路测试
,涉及一种裸芯片与印制电路板连接和保护结构及其制造方法。
技术介绍
芯片流片完成后,一般要将裸片封装于塑料材料或陶瓷材料中,对其提供环境保护,然后才能进行各种功能测试。封装周期占用了宝贵的测试时间,减缓产品的市场化步伐,因此对裸芯片进行测试成为国际上研究的热点。晶圆级测试可通过晶圆探针及专用测试台对裸芯片进行测试,但只能够完成较为简单的测试任务,在芯片实际功能的测试方面有较多的局限性;国外一些公司推出KGD(KnownGoodDie)裸芯片产品,采用专用的夹具对裸芯片进行测试,夹具的特殊定制及开发周期仍不能满足芯片测试的时效性要求;目前,较为常用的是把裸芯片固定在PCB板上,使用键合机将芯片引脚和PCB板焊盘进行连接,再用专用胶水对整个结构进行覆盖保护,即可在实验室环境中对芯片进行全面的功能测试。但胶水一旦固化便很难从裸芯上去除,可维修性不佳,且胶水覆盖裸芯片的过程中可能会造成键合丝间的接触连接,可靠性较差。随着芯片复杂度的越来越高,功能管脚数量数以百计,需在PCB板上加工同样数量的一圈绑定焊盘作为键合点,由于键合丝长度要求,金属绑定焊盘面积和间距受到限制,键合时极易造成键合丝间的碰触连接,对PCB板加工精度及键合操作人员技术水平要求较高,在普通实验室条件下实现多管脚裸芯片和PCB板间的有效连接难度较大;且裸芯片面积越大,在PCB板上进行粘结时所需的导电胶越多,裸芯片按压在PCB板上时,会造成导电胶在裸芯片侧边的外溢,极易黏附在裸芯片金属PAD上,在金属PAD间形成短路,造成裸芯片报废。
技术实现思路
为了解决上述的技术问题,本专利技术提供了一种应用于测试的裸芯片结构及其制造方法。本专利技术一实施例提供了一种应用于测试的裸芯片结构100,包括:主PCB板101、副PCB板102、裸芯片103、第一焊盘104、第一键合丝105、第二焊盘106、第二键合丝107、垫片110、金属排针111、保护罩112及电气绝缘油114;其中,所述垫片110粘结于所述主PCB板101上且所述裸芯片103粘结于所述垫片110上;所述第一焊盘104环绕于所述裸芯片103四周并设置于所述主PCB板101上且通过所述第一键合丝105与所述裸芯片103的金属PAD连接;所述副PCB板102位于所述第一焊盘104外围并粘结于所述主PCB板101上且通过所述金属插针111与所述主PCB板101实现电气连接;所述第二焊盘106设置于所述副PCB板102上且通过所述第二键合丝107与所述裸芯片103的金属PAD连接;所述保护罩112粘结于所述主PCB板101上且将所述副PCB板102、所述裸芯片103、所述第一焊盘104、所述第一键合丝105、所述第二焊盘106、所述第二键合丝107及所述垫片110封装于其内部,并在其内部注入所述电气绝缘油114。在本专利技术的一个实施例中,所述主PCB板101设置有第一通孔108,所述副PCB板102对应设置有第二通孔109,所述金属插针111插入对应设置的所述第一通孔108及所述第二通孔109以实现所述主PCB板101和所述副PCB板102的电气连接。在本专利技术的一个实施例中,所述第一焊盘104交错排列于所述主PCB板101上,所述第二焊盘106交错排列于所述副PCB板102上。在本专利技术的一个实施例中,所述保护罩112上表面设置有两个开孔113;其中一个开孔113用于注射所述电气绝缘油114且另一个开孔113用于排气并观察是否有所述电气绝缘油114溢出以确定所述保护罩112内是否存满所述电气绝缘油114。本专利技术的另一个实施例提供了一种应用于测试的裸芯片结构100的制造方法,包括:制作主PCB板101,并在所述主PCB板101表面制作第一焊盘104;在所述主PCB板101表面的指定位置粘结垫片110并在所述垫片110表面粘结裸芯片103;采用键合工艺将第一键合丝105的两端键合于所述裸芯片103的金属PAD及所述第一焊盘104上;制作副PCB板102,并在所述副PCB板102表面制作第二焊盘106;将所述副PCB板102粘结于所述主PCB板101上;采用键合工艺将第二键合丝107的两端键合于所述裸芯片103的金属PAD及所述第二焊盘106上,采用金属插针111连接所述主PCB板101和所述副PCB板102以实现电气连接;将所述保护罩112粘结于所述主PCB板101上以使所述副PCB板102、所述裸芯片103、所述第一焊盘104、所述第一键合丝105、所述第二焊盘106、所述第二键合丝107及所述垫片110一并封装于所述保护罩112内;将电气绝缘油114通过所述保护罩112表面的一个开孔113注入至所述保护罩112内部,并观察所述保护罩112表面的另一个开孔113是否有所述电气绝缘油114溢出以确定所述电气绝缘油114是否已存满所述保护罩112,从而形成所述应用于测试的裸芯片结构100。在本专利技术的一个实施例中,采用金属插针111连接所述主PCB板101和所述副PCB板102以实现电气连接,包括:在所述主PCB板101上制作第一通孔108,在所述副PCB板102对应设置有第二通孔109,将所述金属插针111插入对应设置的所述第一通孔108及所述第二通孔109以实现所述主PCB板101和所述副PCB板102的电气连接。在本专利技术的一个实施例中,在所述电气绝缘油114存满所述保护罩112之后,还包括:在所述保护罩112上表面涂抹一层密封胶以对所述保护罩112上的开孔113进行密封。本专利技术的又一个实施例提供了一种应用于测试的裸芯片结构100的制造方法,包括:选取主PCB板101,在所述主PCB板101表面制作粘结副PCB板102的第一边界线201、粘结垫片110的第二边界线202及粘结保护罩112的第三边界线203;并在所述主PCB板101表面沿所述第二边界线202外围制作呈交错排列的第一焊盘104;将所述垫片110沿所述第二边界线202粘结于所述主PCB板101表面上并将裸芯片103粘结于所述垫片110表面上,采用第一键合丝105连接所述裸芯片103的金属PAD和所述第一焊盘104;选取呈中空型的副PCB板102,在所述副PCB板102表面制作呈交错排列的第二焊盘106,并将所述副PCB板102沿所述第一边界线201固定于所述主PCB板101表面上,采用第二键合丝107连接所述裸芯片103的金属PAD和所述第二焊盘106;在所述保护罩112表面制作两个开孔113并沿所述第三边界线203粘结于所述主PCB板101上,将电气绝缘油114注入其中一个所述开孔113并观察另一个所述开孔113是否有所述电气绝缘油114溢出以确定所述电气绝缘油114是否已存满所述保护罩112,从而形成所述应用于测试的裸芯片结构100。在本专利技术的一个实施例中,将所述副PCB板102沿所述第一边界线201固定于所述主PCB板101表面上,包括:将所述副PCB板102粘结于所述主PCB板101上并采用金属插针111连接所述主PCB板101和所述副PCB板102以实现电气连接。与现有技术相比,本专利技术的有益效果为:1.本专利技术的垫片采用粘结方式固定在主PCB板上,避免采用直接印制板加工本文档来自技高网
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应用于测试的裸芯片结构及其制造方法

【技术保护点】
一种应用于测试的裸芯片结构(100),其特征在于,包括:主PCB板(101)、副PCB板(102)、裸芯片(103)、第一焊盘(104)、第一键合丝(105)、第二焊盘(106)、第二键合丝(107)、垫片(110)、金属排针(111)、保护罩(112)及电气绝缘油(114);其中,所述垫片(110)粘结于所述主PCB板(101)上且所述裸芯片(103)粘结于所述垫片(110)上;所述第一焊盘(104)环绕于所述裸芯片(103)四周并设置于所述主PCB板(101)上且通过所述第一键合丝(105)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述副PCB板(102)位于所述第一焊盘(104)外围并粘结于所述主PCB板(101)上且通过所述金属插针(111)与所述主PCB板(101)实现电气连接;所述第二焊盘(106)设置于所述副PCB板(102)上且通过所述第二键合丝(107)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述保护罩(112)粘结于所述主PCB板(101)上且将所述副PCB板(102)、所述裸芯片(103)、所述第一焊盘(104)、所述第一键合丝(105)、所述第二焊盘(106)、所述第二键合丝(107)及所述垫片(110)封装于其内部,并在其内部注入所述电气绝缘油(114)。...

【技术特征摘要】
1.一种应用于测试的裸芯片结构(100),其特征在于,包括:主PCB板(101)、副PCB板(102)、裸芯片(103)、第一焊盘(104)、第一键合丝(105)、第二焊盘(106)、第二键合丝(107)、垫片(110)、金属排针(111)、保护罩(112)及电气绝缘油(114);其中,所述垫片(110)粘结于所述主PCB板(101)上且所述裸芯片(103)粘结于所述垫片(110)上;所述第一焊盘(104)环绕于所述裸芯片(103)四周并设置于所述主PCB板(101)上且通过所述第一键合丝(105)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述副PCB板(102)位于所述第一焊盘(104)外围并粘结于所述主PCB板(101)上且通过所述金属插针(111)与所述主PCB板(101)实现电气连接;所述第二焊盘(106)设置于所述副PCB板(102)上且通过所述第二键合丝(107)与所述裸芯片(103)的金属PAD连接;所述保护罩(112)粘结于所述主PCB板(101)上且将所述副PCB板(102)、所述裸芯片(103)、所述第一焊盘(104)、所述第一键合丝(105)、所述第二焊盘(106)、所述第二键合丝(107)及所述垫片(110)封装于其内部,并在其内部注入所述电气绝缘油(114)。2.根据权利要求1结构(100),其特征在于,所述主PCB板(101)设置有第一通孔(108),所述副PCB板(102)对应设置有第二通孔(109),所述金属插针(111)插入对应设置的所述第一通孔(108)及所述第二通孔(109)以实现所述主PCB板(101)和所述副PCB板(102)的电气连接。3.根据权利要求1结构(100),其特征在于,所述第一焊盘(104)交错排列于所述主PCB板(101)上,所述第二焊盘(106)交错排列于所述副PCB板(102)上。4.根据权利要求1结构(100),其特征在于,所述保护罩(112)上表面设置有两个开孔(113);其中一个开孔(113)用于注射所述电气绝缘油(114)且另一个开孔(113)用于排气并观察是否有所述电气绝缘油(114)溢出以确定所述保护罩(112)内是否存满所述电气绝缘油(114)。5.一种应用于测试的裸芯片结构(100)的制造方法,其特征在于,包括:制作主PCB板(101),并在所述主PCB板(101)表面制作第一焊盘(104);在所述主PCB板(101)表面的指定位置粘结垫片(110)并在所述垫片(110)表面粘结裸芯片(103);采用键合工艺将第一键合丝(105)的两端键合于所述裸芯片(103)的金属PAD及所述第一焊盘(104)上;制作副PCB板(102),并在所述副PCB板(102)表面制作第二焊盘(106);将所述副PCB板(102)粘结于所述主PCB板(101)上;采用键合工艺将第二键合丝(107)的两端键合于所述裸芯片(103)的金属PAD及所述第二焊盘(106)上,采用金属插针(111)连接所述主PCB板(101)和所述副PCB板(102)以实现电气连接;将所述保护罩(112)粘结于所述主PCB...

【专利技术属性】
技术研发人员:王起
申请(专利权)人:西安科锐盛创新科技有限公司
类型:发明
国别省市:陕西,61

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