一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法技术

技术编号:15648692 阅读:59 留言:0更新日期:2017-06-17 01:23
本发明专利技术涉及一种结构几何要素检验方法,特别涉及一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法。所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面上,判断所检测的结构是否满足设计要求。本发明专利技术通过将设计图样绘制在透明胶片上,将绘制有图样的透明胶片作为检验标准样件,直接覆盖在待检测的表面,对表面结构的几何要素进行检测,操作简便,快速直观的获得了检测结果。

【技术实现步骤摘要】
一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法
本专利技术涉及一种结构几何要素检验方法,特别涉及一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法。
技术介绍
在产品结构几何要素检验工作中,经常涉及一些表面结构复杂的产品,有些产品的表面加工有各种尺寸的孔和槽,该类产品涉及几何尺寸和孔位置度尺寸较多、精度要求不高。如图1、图2所示,电子产品中大量印制板涉及到几百甚至上千种胶模、伺服驱动板冷板、DIO板散热板等零件的机械加工,零件形状复杂,涉及几何尺寸有型槽、孔、孔与孔之间的位置度等多尺寸的复杂零件,并且部分胶模类印制件,属非金属材料加工,零件薄如纸片。无法采用常用的卡尺类通用量具进行检验。如果采用传统的检验模式,检验员劳动强度非常大,易发生错漏检,并且薄、软特性的非金属材料类零件无法用通用量具检测。
技术实现思路
本专利技术的目的:提供一种快速检测表面复杂结构的,位置度与几何尺寸的检验方法本专利技术的技术方案:所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面上,判断所检测的结构是否满足设计要求。作为本技术方案的一种改进,所述的方法包括如下步骤:步骤一,将设计图样按1:1的比例绘制透明胶片上;步骤二,测量绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求;步骤三,将符合设计要求的透明胶片图样覆盖在待检测件的表面,进行比对,并判断待检测件的几何要素是否符合设计要求。作为本技术方案的一种改进,对待检测的表面结构按UG图进行二维图绘制,并采用绘图机打印出图,对纸质图样用游标卡尺进行几何尺寸检测,将检测合格的纸质图样通过复印机绘制在透明胶片上。作为本技术方案的一种改进,在透明胶片上复印图样时,每张图复印时间间隔为二十分钟以上,室内温度保持在18℃~20℃之间。作为本技术方案的一种改进,通过非接触影像测量仪,测量绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求。作为本技术方案的一种改进,测量判断绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求时,测量误差应小于0.05mm。本专利技术的有益效果:本专利技术通过将设计图样绘制在透明胶片上,将绘制有图样的透明胶片作为检验标准样件,直接覆盖在待检测的表面,对表面结构的几何要素进行检测,操作简便,快速直观的获得了检测结果。本专利技术方法的实施,解决了大量印制板用胶模、伺服驱动板冷板、DIO板散热板等复杂型孔、型槽、孔与孔之间的位置度等几何要素多的零件的检验问题。为印制板用胶模、冷板、散热板等复杂型孔、型槽、孔与孔之间的位置度的测量提供了一个新途径。并且,本方法仅仅使用了透明胶片这一常用的材料,成本低、经济实惠高效快捷。特别适合多R、多角度、孔位置度等无标准量具的快速检验,对防止型槽、斜孔、多孔的“多与少”的加工质量起到较好的防范作用,适宜批量零件的检验,解决了电子部等兼职检验员无手段检验的问题,保证了产品质量实现了高效复验。剔除不产生价值的过程与投入,做到最低的付出产生最好的效果。附图说明图1为待检测表面结构例一;图2为待检测表面结构例二。具体实施方式下面对本技术方案做进一步详细说明。本技术方案所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面结构上,判断所检测的结构是否满足设计要求。在完成该方法时一般采用如下步骤,步骤一,将设计图样按1:1的比例绘制透明胶片上;步骤二,测量绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求;步骤三,将符合设计要求的透明胶片图样覆盖在待检测件的表面,进行比对,并判断待检测件的几何要素是否符合设计要求。在该实施步骤中,对待检测表面结构进行检测前,首先检验了透明胶片上绘制图样的几何要素是否满足设计要求,保证了绘制有图样的透明胶片作为标准样件的精确度。并且,在对透明胶片上图样的几何要素进行检测时,一般要求检验的误差小于0.05mm。在透明胶片上绘制图样最好按如下方法完成:对待检测的表面结构按UG图进行二维图绘制,并采用绘图机打印出图,对纸质图样用游标卡尺进行几何尺寸检测,将检测合格的纸质图样通过复印机绘制在透明胶片上。将电子格式的二维图打印时,最好采用绘图机打印,因为普通的电子图片打印设备,失真严重,无法保证后续透明胶片制作的精度。一方面绘图机无妨直接将电子图样绘制在透明胶片上,一方面通过这种方法避免了电子图样输出时容易导致失真的问题。并且,在打印出纸质图样后,还会对纸质图样的几何要素进行检测,进一步保证了后续图样的精确度。通过复印机在透明胶片上绘制图样时,最好每张图复印时间间隔二十分钟以上,室内温度保持在18℃~20℃之间。这样有利于避免复印机发热,造成透明胶片变形,影响图样几何要素尺寸的问题。将室温保持在18℃~20℃,有利于避免透明胶片的变形,对图样几何要素的影响。另外,最好通过非接触影像测量仪,测量绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求。由于透明胶片质地柔软,采用常用的卡尺等量具,测量时很容易引起胶片的变形,影响测量的精度。本文档来自技高网...
一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法

【技术保护点】
一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为:所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面上,判断所检测的结构是否满足设计要求。

【技术特征摘要】
1.一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为:所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面上,判断所检测的结构是否满足设计要求。2.根据权利要求1所述的一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为,所述的方法包括如下步骤:步骤一:将设计图样按1:1的比例绘制在透明胶片上;步骤二:测量绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求;步骤三:将符合设计要求的透明胶片图样覆盖在待检测件的表面,进行比对,并判断待检测件的几何要素是否符合设计要求。3.根据权利要求2所述的一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为:对待检测的表面结构按U...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢成英
申请(专利权)人:中国航空工业第六一八研究所
类型:发明
国别省市:陕西,61

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