【技术实现步骤摘要】
一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法
本专利技术涉及一种结构几何要素检验方法,特别涉及一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法。
技术介绍
在产品结构几何要素检验工作中,经常涉及一些表面结构复杂的产品,有些产品的表面加工有各种尺寸的孔和槽,该类产品涉及几何尺寸和孔位置度尺寸较多、精度要求不高。如图1、图2所示,电子产品中大量印制板涉及到几百甚至上千种胶模、伺服驱动板冷板、DIO板散热板等零件的机械加工,零件形状复杂,涉及几何尺寸有型槽、孔、孔与孔之间的位置度等多尺寸的复杂零件,并且部分胶模类印制件,属非金属材料加工,零件薄如纸片。无法采用常用的卡尺类通用量具进行检验。如果采用传统的检验模式,检验员劳动强度非常大,易发生错漏检,并且薄、软特性的非金属材料类零件无法用通用量具检测。
技术实现思路
本专利技术的目的:提供一种快速检测表面复杂结构的,位置度与几何尺寸的检验方法本专利技术的技术方案:所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面上,判断所检测的结构是否满足设计要求。作为本技术方案的一种改进,所述的方法包括如下步骤:步骤一,将设计图样按1:1的比例绘制透明胶片上;步骤二,测量绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求;步骤三,将符合设计要求的透明胶片图样覆盖在待检测件的表面,进行比对,并判断待检测件的几何要素是否符合设计要求。作为本技术方案的一种改进,对待检测的表面结构按UG图进行二维图绘制,并采用绘图机打印出图,对纸质图样用游标卡尺进行几何尺寸检测,将检测合格的纸质图样通过复印机绘制在透明胶 ...
【技术保护点】
一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为:所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面上,判断所检测的结构是否满足设计要求。
【技术特征摘要】
1.一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为:所述的方法,通过将待检测的平面结构,按1:1的比例绘制在透明胶片上,然后将透明胶片覆盖在待检测表面上,判断所检测的结构是否满足设计要求。2.根据权利要求1所述的一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为,所述的方法包括如下步骤:步骤一:将设计图样按1:1的比例绘制在透明胶片上;步骤二:测量绘制在胶片上的图样几何要素是否符合设计要求;步骤三:将符合设计要求的透明胶片图样覆盖在待检测件的表面,进行比对,并判断待检测件的几何要素是否符合设计要求。3.根据权利要求2所述的一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法,其特征为:对待检测的表面结构按U...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢成英,
申请(专利权)人:中国航空工业第六一八研究所,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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