一种实验用微波测量系统技术方案

本发明专利技术公开了一种实验用微波测量系统，所述微波信号源与隔离器连接，所述隔离器与波长表连接，所述波长表与可变衰减器连接，所述可变衰减器与晶体检波器，所述晶体检波器与检波指示器连接，当信号源输出功率最大时，测量吸收式谐振腔波长表的谐振曲线，确定中心振荡频率，本发明专利技术可以快速有效测量出结果，安全性较高。

【技术实现步骤摘要】
一种实验用微波测量系统
本专利技术涉及测量系统，尤其涉及基于实验用微波测量系统，属于计算机软件的

技术介绍
微波测量线是用来测量微波传输线中合成电场（沿轴线）分布状态（含最大值、最小值和其相对应的位置）的设备，利用微波测量线系统可以测得微波传输中合成波波腹节点的位置和对应的场幅、波导波长、相波长和驻波比等参数，微波测量线有同轴测量线和波导测量线。微波测量是对微波信号和微波电路有关参数的测量技术，主要测量对象有：功率、频率或波长、波形与频谱、噪声电平、驻波、衰减和相移等，采用微波测量、自动控制和计算机等技术构成的快速、精确、多参数、多功能的综合测量系统，主要有两种结构类型：自动网络分析仪和六端口网络分析仪。
技术实现思路
专利技术目的：为了克服现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种实验用微波测量系统。技术方案：为实现上述目的，本专利技术提供一种实验用微波测量系统，包括微波信号源、隔离器、波长表、可变衰减器、晶体检波器、检波指示器，所述微波信号源与隔离器连接，所述隔离器与波长表连接，所述波长表与可变衰减器连接，所述可变衰减器与晶体检波器，所述晶体检波器与检波指示器连接，当信号源输出功率最大时，测量吸收式谐振腔波长表的谐振曲线，确定中心振荡频率。优选于，所述隔离器在3cm波段可以做到正向衰减小于0.5dB，反向衰减25dB，这样可以扩大测量范围。附图说明图1为本实施例基于实验用微波测量系统的结构框图。具体实施方式以下结合附图并通过具体实施例对本专利技术做进一步阐述，应当指出：对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术原理的前提下，对本专利技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。实施例1：如图1所示一种实验用微波测量系统，包括微波信号源、隔离器、波长表、可变衰减器、晶体检波器、检波指示器，所述微波信号源与隔离器连接，所述隔离器在3cm波段可以做到正向衰减小于0.5dB，反向衰减25dB，这样可以扩大测量范围，所述隔离器与波长表连接，所述波长表与可变衰减器连接，所述可变衰减器与晶体检波器，所述晶体检波器与检波指示器连接，当信号源输出功率最大时，测量吸收式谐振腔波长表的谐振曲线，确定中心振荡频率，本专利技术可以快速有效测量出结果，安全性较高。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实验用微波测量系统，其特征在于，包括微波信号源、隔离器、波长表、可变衰减器、晶体检波器、检波指示器，所述微波信号源与隔离器连接，所述隔离器与波长表连接，所述波长表与可变衰减器连接，所述可变衰减器与晶体检波器，所述晶体检波器与检波指示器连接。

【技术特征摘要】
1.一种实验用微波测量系统，其特征在于，包括微波信号源、隔离器、波长表、可变衰减器、晶体检波器、检波指示器，所述微波信号源与隔离器连接，所述隔离器与波长表连接，所述波长表与可变衰减器连接，所述可变衰减器与晶体检波器，所述晶体检波器与检波指示器连接。2.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈哲，
申请(专利权)人：太仓鼎诚电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32