The maximum deflection limit state of circular membrane under uniform load: the method to determine the thickness of H, radius a, elastic modulus E, Poisson's ratio of circular membrane for fixed and clamped V transversely applied a uniform load Q, the film after deformation in contact with a flat and smooth. That film is smooth and flat and before deformation are parallel, and keep the distance between these two H unchanged, thereby limiting the maximum deflection of circular membrane after deformation, deformation of the static equilibrium analysis of axisymmetric based measurement using thin film and smooth plate radius of the contact area and the value of B, it can be determined by uniform Q load on film applied in contact with the smooth plate after the circular membrane.
【技术实现步骤摘要】
最大挠度受限制状态下圆形薄膜均布载荷的确定方法
本专利技术涉及均布载荷下周边固定夹紧的圆形薄膜在最大挠度受限制状态下施加在圆形薄膜上的均布载荷的确定方法。
技术介绍
圆形薄膜结构在机械、电子、生物工程等领域有着广泛的应用。电容式压力传感器的研制中,需要让圆形薄膜结构工作在两种模式下,非接触模式:薄膜与光滑电极板不产生接触;接触模式:薄膜与光滑电极板接触。在接触模式下,压力下(均布载荷下)周边固定夹紧的圆形薄膜的最大挠度,始终受到与变形前的薄膜相平行的光滑电极板的限制。而从文献查新的结果看,最大挠度受限后周边固定夹紧的圆形薄膜在均布载荷作用下的轴对称变形问题,还没有被解析求解,因而影响到电容式压力传感器的研制工作。
技术实现思路
本专利技术解析求解了最大挠度受限后周边固定夹紧的圆形薄膜在均布载荷作用下的轴对称变形问题,并在此基础上给出了均布载荷下周边固定夹紧的圆形薄膜在最大挠度受限制状态下施加在圆形薄膜上的均布载荷的确定方法。最大挠度受限制状态下圆形薄膜均布载荷的确定方法:对厚度为h、半径为a、杨氏弹性模量为E、泊松比为ν的周边固定夹紧的圆形薄膜横向施加一个均布载荷q,使变形后的薄膜与一个光滑平板相接触,并让光滑平板与变形前的薄膜相平行,且保持光滑平板与变形前的薄膜之间的距离H不变,从而限制圆形薄膜在变形后的最大挠度,那么基于对这个轴对称变形问题的静力平衡分析,该圆形薄膜在接触光滑平板后施加在薄膜上的均布载荷q与接触区域的半径b的解析关系可以表示为其中,β=(a+b)/(2a),α=(a2+2ab-3b2)/(4a2),c0和c1的值由方程和确定,其中,而d0的 ...
【技术保护点】
最大挠度受限制状态下圆形薄膜均布载荷的确定方法,其特征在于:对厚度为h、半径为a、杨氏弹性模量为E、泊松比为ν的周边固定夹紧的圆形薄膜横向施加一个均布载荷q,使变形后的薄膜与一个光滑平板相接触,并让光滑平板与变形前的薄膜相平行,且保持光滑平板与变形前的薄膜之间的距离H不变,从而限制圆形薄膜在变形后的最大挠度,测得薄膜与光滑平板接触区域的半径b的值,该圆形薄膜在接触光滑平板后施加在薄膜上的均布载荷q由以下公式确定,
【技术特征摘要】
1.最大挠度受限制状态下圆形薄膜均布载荷的确定方法,其特征在于:对厚度为h、半径为a、杨氏弹性模量为E、泊松比为ν的周边固定夹紧的圆形薄膜横向施加一个均布载荷q,使变形后的薄膜与一个光滑平板相接触,并让光滑平板与变形前的薄膜相平行,且保持光滑平板与变形前的薄膜之间的距离H不变,从而限制圆形薄膜在变形后的最大挠度,测得薄膜与光滑平板接触区域的半径b的值,该圆形薄膜在接触光滑平板后施加在薄膜上的均布载荷q由以下公式确定,其中,β=(a+b)/(2a),
【专利技术属性】
技术研发人员:孙俊贻,王腾飞,练永盛,杨志欣,王英瞩,郭莹,何晓婷,
申请(专利权)人:重庆大学,
类型:发明
国别省市:重庆,50
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