测试夹具及其单尾回形探针制造技术

本实用新型专利技术公开一种单尾回形探针，包括一基部、一第一悬臂、一第二悬臂及一接触臂；第一悬臂自基部的一端延伸，其用于接触待测试产品；第二悬臂自基部的另一端延伸，且第二悬臂、第一悬臂位于基部的同一侧；接触臂凸设于第二悬臂的远离基部的一端，其用于接触测试夹具的印刷电路板，且接触臂与印刷电路板相接触时，接触臂垂直于印刷电路板。该单尾回形探针与现有的同等材质、相近价格的探针相比，耐电流能力和工作频率更高、阻抗和信号失真更低、测试效能更稳定。本实用新型专利技术还公开一种具有该单尾回形探针的测试夹具。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元器件测试领域，尤其涉及一种用于电子元器件测试的单尾回形探针及具有该单尾回形探针的测试夹具。
技术介绍
电子元器件在制造完成后需对其进行结构及电气功能的测试，以保证电子元器件符合系统的需求。在对电子元器件进行测试的装置中，需要利用探针来达成待测试电子元器件与电路板的电性连接，因此，探针的性能对测试效能将产生直接影响。现有的最典型的探针为弹簧针1，如图1所示，其具有针体11、设于针体11内的弹簧12及设于针体11两端的针头13，针头13外具有镀层14。这种弹簧针1的针头13以及针头13外的镀层14都易磨损；并且弹簧12尺寸受限，允许的电流小，导致弹簧丝过电流能力低，即使不断改进，也难以满足要求；而且多个部件组合，信号失真大。这种弹簧针1想要到达更高的电性性能，需要更好的材料，更好的镀层工艺，这些都会造成成本的增加。如图2所示，现有的另一种非弹簧结构的S形针2，其具有S形的针体21及设于针体21的弹性橡胶体22，其针体21为一体成型结构，因此电性性能优秀，但是针体21的动作严重依赖于弹性橡胶体22，以提供接触压力，一旦弹性橡胶体22疲劳则测试效能将大幅降低，因此在长时间的使用中，稳定性差，且总体的使用成本很高。因此，有必要提供一种在同等材质、相近价格条件下，耐电流能力和工作频率更高、阻抗和信号失真更低、测试效能更稳定的单尾回形探针及测试夹具，以解决上述现有技术的不足。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种同等材质、相近价格条件下，耐电流能力和工作频率更高、阻抗和信号失真更低、测试效能更稳定的单尾回形探针。本技术的另一目的在于提供一种同等材质、相近价格条件下，耐电流能力和工作频率更高、阻抗和信号失真更低、测试效能更稳定的测试夹具。为实现上述目的，本技术的技术方案为：提供一种单尾回形探针，适用于电子元器件的测试夹具，其包括一基部、一第一悬臂、一第二悬臂及一接触臂；第一悬臂自所述基部的一端延伸，其用于接触待测试产品；所述第二悬臂自所述基部的另一端延伸，且所述第二悬臂、所述第一悬臂位于所述基部的同一侧；所述接触臂凸设于所述第二悬臂的远离所述基部的一端，其用于接触所述测试夹具的印刷电路板，且所述接触臂与所述印刷电路板相接触时，所述接触臂垂直于所述印刷电路板。较佳地，所述接触臂垂直于所述第二悬臂。较佳地，所述接触臂的远离所述第二悬臂的端部形成有和所述印刷电路板相接触的接触端，所述接触端呈一字型、十字型、皇冠型或呈平面结构。较佳地，所述第一悬臂具有一远离所述第二悬臂的第一位置及一靠近所述第二悬臂的第二位置，当所述第一悬臂处于所述第二位置时，所述单尾回形探针处于工作状态。较佳地，当所述第一悬臂处于所述第二位置时，所述第一悬臂与所述第二悬臂相平行。较佳地，所述基部呈弧形结构。较佳地，所述单尾回形探针通过一呈圆柱形的丝材一体弯曲成型。较佳地，所述第一悬臂与待测试产品之间呈带状接触。对应地，本技术还公开一种测试夹具，其包括一印刷电路板、一夹具主体、一上盖及至少一单尾回形探针；夹具主体设于所述印刷电路板的上方，且所述夹具主体上设有复数个第一安装槽；上盖可拆卸地安装于所述夹具主体的上方，且所述上盖上开设有与所述第一安装槽相对应的第二安装槽；单尾回形探针可拆卸地安装于所述第一安装槽、所述第二安装槽内，所述单尾回形探针如上所述。与现有技术相比，由于本技术的单尾回形探针，其包括向基部的同一侧延伸的第一悬臂、第二悬臂，且第二悬臂的远离基部的一端凸设有接触臂，其中，第一悬臂用于接触待测试产品，接触臂用于接触测试夹具的印刷电路板，且接触臂与印刷电路板相接触时，两者之间形成垂直接触。首先，由于单尾回形探针的整体长度较小，因此其阻抗更低，各项电性指标均更加优越；其次，第一悬臂与待测试产品之间形成带状接触，容错率更高；再者，接触臂与印刷电路板之间形成直角接触，因此测试产品下压该单尾回形探针时，单尾回形探针不会有水平方向上的位移，对测试夹具的印刷电路板没有磨损，对该单尾回形探针自身也没有磨损，因此使用寿命更长；另外，弹性力由单尾回形探针自身提供，不需要额外的弹性件，使其耐电流能力和工作频率更高，测试效能更稳定。对应地，具有该单尾回形探针的测试夹具也具有相同的技术效果。附图说明图1是现有的一种弹簧针的结构示意图。图2是现有的一种S形针的结构示意图。图3是本技术单尾回形探针一实施例的结构示意图。图4是图3的侧视图。图5是本技术单尾回形探针另一实施例的结构示意图。图6是本技术单尾回形探针又一实施例的结构示意图。图7是图3中单尾回形探针的一工作状态示意图。图8是图3中单尾回形探针的另一工作状态示意图。图9是本技术单尾回形探针在待测产品上形成的接触痕迹示意图。图10是本技术测试夹具的结构示意图。图11是图10的部分截面示意图。具体实施方式现在参考附图描述本技术的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。首先结合图3-8所示，本技术所提供的单尾回形探针100，其可拆卸地安装于电子元器件的测试夹具200，不需要通过注塑等方式固定在测试夹具200中，因此可以自由更换和安装。如图3-4、7-8所示，该单尾回形探针100包括一基部110及从基部110的两端延伸形成的一第一悬臂120及一第二悬臂130，第一悬臂120、第二悬臂130位于基部110的同一侧，该第一悬臂120用于接触待测试产品，第二悬臂130用于接触测试夹具200的印刷电路板210(见图7-8)；且第一悬臂120具有一远离第二悬臂130的第一位置及一靠近第二悬臂130的第二位置(见图4)，因此，该单尾回形探针100的弹性力由自身提供，不需要使用额外的弹性件。本技术中，单尾回形探针100还包括一凸设于第二悬臂130并与第二悬臂130呈一定夹角的接触臂140，该接触臂140凸设于第二悬臂130的远离基部110的一端，接触臂140的远离第二悬臂130的一端用来和印刷电路板210相接触，当接触臂140与印刷电路板210相接触时，接触臂140垂直于印刷电路板210，如图7-8所示。进一步结合图3-4、7-8所示，接触臂140垂直于第二悬臂130，且接触臂140的自由端形成呈平面结构的接触端141(见图4)。当接触臂140的接触端141接触印刷电路板210后，接触臂140与印刷电路板210之间形成直角接触，测试过程中产品下压单尾回形探针100时，该单尾回形探针100不会有水平方向上的位移，对印刷电路板210没有磨损，对单尾回形探针100自身也没有磨损，因此使用寿命更长。可以理解地，接触端141并不限于呈平面结构，将接触端141设置成一字型(如图5所示)、十字型(如图6所示)、皇冠型等，均不影响本技术技术方案的实现，因此，可根据需要设置接触端141的形状，此为本领域技术人员所熟知的技术。再次参看图4所示，本技术单尾回形探针100的基部110优选呈弧形结构，且当第一悬臂120处于第二位置时，第一悬臂120与第二悬臂130相平行，此时的单尾回形探针100呈U形结构。另外，本技术的单尾回形探针100通过一呈圆柱形的丝材一体弯曲成型，结构简单，没有多余部件，因此在进行测试时，信号失真较小。继续参看图4所示，当单尾回形探针100处于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单尾回形探针，适用于电子元器件的测试夹具，其特征在于，包括：一基部；一第一悬臂，所述第一悬臂自所述基部的一端延伸，其用于接触待测试产品；一第二悬臂，所述第二悬臂自所述基部的另一端延伸，且所述第二悬臂、所述第一悬臂位于所述基部的同一侧；一接触臂，所述接触臂凸设于所述第二悬臂的远离所述基部的一端，其用于接触所述测试夹具的印刷电路板，且所述接触臂与所述印刷电路板相接触时，所述接触臂垂直于所述印刷电路板。

【技术特征摘要】
1.一种单尾回形探针，适用于电子元器件的测试夹具，其特征在于，包括：一基部；一第一悬臂，所述第一悬臂自所述基部的一端延伸，其用于接触待测试产品；一第二悬臂，所述第二悬臂自所述基部的另一端延伸，且所述第二悬臂、所述第一悬臂位于所述基部的同一侧；一接触臂，所述接触臂凸设于所述第二悬臂的远离所述基部的一端，其用于接触所述测试夹具的印刷电路板，且所述接触臂与所述印刷电路板相接触时，所述接触臂垂直于所述印刷电路板。2.如权利要求1所述的单尾回形探针，其特征在于，所述接触臂垂直于所述第二悬臂。3.如权利要求1所述的单尾回形探针，其特征在于，所述接触臂的远离所述第二悬臂的端部形成和所述印刷电路板相接触的接触端，所述接触端呈一字型、十字型、皇冠型或呈平面结构。4.如权利要求1所述的单尾回形探针，其特征在于，所述第一悬臂具有一远离所述第二悬臂的第一位置及一靠近所述第二悬臂的第二位置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭怀程，冯添书，
申请(专利权)人：乐依文半导体东莞有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44