The invention relates to the field of element detection, and discloses a method for detection of AES ICP elements and its application, the method includes: making the standard curve, the standard curve showing the correspondence between the measured element content and emission characteristics of spectral line intensity; emission feature detection m standard sample line intensity, the calculation of the the element to be measured standard value ratio of KM and the detection value; quality detection for emission characteristics of sample M 'spectral line intensity, y content of the sample obtained emission characteristics of spectral line intensity corresponding to the standard curve of analyte measurement; emission feature detection n standard sample line the strength calculation of the element to be measured standard value ratio of kn and the detection value according to the formula; (1) calculating sample content of the final value of X. The invention also relates to the application of the method in the detection of steel, iron alloy or refractory material elements.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及元素检测领域,具体地,涉及一种ICP-AES检测元素的方法,以及该方法在钢、铁合金或耐火材料金属元素检测中的应用。
技术介绍
现有ICP-AES检测方法为在选定的参数条件下,先用标样或标液测定工作曲线,然后用质控样校对工作曲线,校对时,用测定的工作曲线检测质控的结果与质控标准结果相近时,说明仪器稳定,用工作曲线直接检测试样结果。当用测定的工作曲线检测质控的结果与质控标准结果相差较大时,需重新测工作曲线。但当用ICP-AES方法检测高含量成分时,仪器波动性大,检测成分的含量越高,检测数据波动越大,用质控校正曲线斜率后,检测一个或两个试样后,又需要重新校正曲线斜率,造成用ICP-AES方法难以准确检测高含量成分,因此,很有必要研究一种用ICP-AES方法准确检测高含量成分的简便方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服现有技术中ICP-AES方法无法检测高含量金属元素的缺陷,提供一种ICP-AES检测元素的方法及其应用。为了实现上述目的,本专利技术提供了一种ICP-AES检测元素的方法,其特征在于,该方法包括:(1)以称取0.1000g试样为基准,用含有不同含量的待测元素的标样在ICP-AES上制作标准曲线,标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系;(2)检测第m个标样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量,计算该待测元素的标准值与检测值的比值km;(3)检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y测;(4)检测第n个标 ...
【技术保护点】
一种ICP‑AES检测元素的方法,其特征在于,该方法包括:(1)以称取0.1000g试样为基准,用含有不同含量的待测元素的标样在ICP‑AES上制作标准曲线,标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系;(2)检测第m个标样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量,计算该待测元素的标准值与检测值的比值km;(3)检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y测;(4)检测第n个标样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量,计算该待测元素的标准值与检测值的比值kn;(5)根据公式(1)计算试样含量最终值x;
【技术特征摘要】
1.一种ICP-AES检测元素的方法,其特征在于,该方法包括:(1)以称取0.1000g试样为基准,用含有不同含量的待测元素的标样在ICP-AES上制作标准曲线,标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系;(2)检测第m个标样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量,计算该待测元素的标准值与检测值的比值km;(3)检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y测;(4)检测第n个标样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量,计算该待测元素的标准值与检测值的比值kn;(5)根据公式(1)计算试样含量最终值...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨道兴,
申请(专利权)人:攀钢集团江油长城特殊钢有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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