用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样制造技术

技术编号:14970201 阅读:150 留言:0更新日期:2017-04-02 23:24
用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样,涉及一种片状材料试样。第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜和第三正方形片状聚酯薄膜由上至下依次紧密贴合,第二正方形片状聚酯薄膜的中心位置开有正方形开口,且第二正方形片状聚酯薄膜的一侧边的中心位置开有流出口,流出口与正方形开口连通,正方形开口内设有环氧树脂填充结构体。本实用新型专利技术材料试样有效模拟干式空心电抗器匝间聚酯薄膜与环氧树脂复合绝缘材料的结构及聚酯薄膜与环氧树脂的界面分布,该试样不仅可以方便地进行热老化、电老化、受潮、机械振动等各种老化试验,还可以很好地对其进行空间电荷和红外光谱测量。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种片状试样,具体涉及一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样
技术介绍
为了保证电能质量和电力系统输电的安全性及可靠性,电网对无功补偿装置的需求量不断增加,大量的干式空心并联电抗器被广泛地应用。然而,从近几年的运行情况来看,已经投入运行的干式空心电抗器出现异常和故障的情况常常发生。从故障统计结果上可以看出,线圈匝间绝缘击穿引起的故障数占总故障数的65%以上。电抗器在投入运行前或运行一段时间后,匝间绝缘会出现缺陷点,并在长期运行中受到热老化、机械力、操作过电压和环境条件等因素的综合影响,缺陷点附近的绝缘性能逐渐劣化,导致匝间绝缘击穿,使电抗器发生匝间短路,形成环流,短时间内产生大量的热量,最终导致电抗器起火烧损,这给电力系统的安全运行带来严重的影响。目前,干式空心电抗器的匝间绝缘击穿短路问题倍受电抗器生产厂家和使用单位的关注,对干式空心电抗器匝间绝缘故障类型及原因的分析较多,但是对其匝间绝缘老化机理的研究较少。因此弄清干式空心电抗器匝间绝缘老化及击本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样,其特征在于:它包括第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)、第三正方形片状聚酯薄膜(3)和环氧树脂填充结构体(4);所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)由上至下依次紧密贴合,所述第二正方形片状聚酯薄膜(2)的中心位置开有正方形开口(5),且第二正方形片状聚酯薄膜(2)的一侧边的中心位置开有流出口(6),流出口(6)与正方形开口(5)连通,正方形开口(5)内设有环氧树脂填充结构体(4)。

【技术特征摘要】
1.用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样,其特征在于:它包括第
一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)、第三正方形片状聚酯薄膜
(3)和环氧树脂填充结构体(4);所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片
状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)由上至下依次紧密贴合,所述第二正方
形片状聚酯薄膜(2)的中心位置开有正方形开口(5),且第二正方形片状聚酯薄膜(2)
的一侧边的中心位置开有流出口(6),流出口(6)与正方形开口(5)连通,正方形开
口(5)内设有环氧树脂填充结构体(4)。
2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚远航聂洪岩顾哲屹
申请(专利权)人:哈尔滨理工大学
类型:新型
国别省市:黑龙江;23

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1