用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样制造技术

用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，涉及一种片状材料试样。第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜和第三正方形片状聚酯薄膜由上至下依次紧密贴合，第二正方形片状聚酯薄膜的中心位置开有正方形开口，且第二正方形片状聚酯薄膜的一侧边的中心位置开有流出口，流出口与正方形开口连通，正方形开口内设有环氧树脂填充结构体。本实用新型专利技术材料试样有效模拟干式空心电抗器匝间聚酯薄膜与环氧树脂复合绝缘材料的结构及聚酯薄膜与环氧树脂的界面分布，该试样不仅可以方便地进行热老化、电老化、受潮、机械振动等各种老化试验，还可以很好地对其进行空间电荷和红外光谱测量。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种片状试样，具体涉及一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样。
技术介绍
为了保证电能质量和电力系统输电的安全性及可靠性，电网对无功补偿装置的需求量不断增加，大量的干式空心并联电抗器被广泛地应用。然而，从近几年的运行情况来看，已经投入运行的干式空心电抗器出现异常和故障的情况常常发生。从故障统计结果上可以看出，线圈匝间绝缘击穿引起的故障数占总故障数的65％以上。电抗器在投入运行前或运行一段时间后，匝间绝缘会出现缺陷点，并在长期运行中受到热老化、机械力、操作过电压和环境条件等因素的综合影响，缺陷点附近的绝缘性能逐渐劣化，导致匝间绝缘击穿，使电抗器发生匝间短路，形成环流，短时间内产生大量的热量，最终导致电抗器起火烧损，这给电力系统的安全运行带来严重的影响。目前，干式空心电抗器的匝间绝缘击穿短路问题倍受电抗器生产厂家和使用单位的关注，对干式空心电抗器匝间绝缘故障类型及原因的分析较多，但是对其匝间绝缘老化机理的研究较少。因此弄清干式空心电抗器匝间绝缘老化及击穿的机理，降低因匝间绝缘击穿导致电抗器烧损的概率十分必要。目前市场上的干式空心电抗器匝间主要绝缘材料有三种类型：分别是三层聚脂薄膜与环氧树脂组成的复合绝缘；一层聚脂薄膜加一层聚丙烯与环氧树脂组成的复合绝缘；一层聚脂薄膜加一层聚酰亚胺与环氧树脂组成的复合绝缘。对干式空心电抗器匝间绝缘进行热老化、电老化、受潮、机械振动等试验的研究主要是针对环氧树脂和各种薄膜材料单独展开，还没有对复合绝缘材料和复合绝缘材料界面分布进行研究，不能有效模拟干式空心电抗器匝间绝缘结构。此外，在研究绝缘材料的老化过程时，进行空间电荷与红外光谱的测量，对于研究电抗器匝间绝缘材料的老化过程十分重要，而这两个内容的测量都需要片状试样。可见，设计一个用于研究干式空心电抗器匝间复合绝缘老化过程的片状试样是十分必要的。
技术实现思路
在下文中给出了关于本技术的简要概述，以便提供关于本技术的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本技术的穷举性概述。它并不是意图确定本技术的关键或重要部分，也不是意图限定本技术的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。鉴于此，本技术提供了一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，以至少达到有效模拟干式空心电抗器匝间复合绝缘材料的结构及复合材料的界面分布；进行热老化、电老化、受潮、机械振动各种老化试验，并可以对其进行空间电荷测试和红外光谱测量的目的。根据本技术的一个方面，提供了一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，具体结构为：它包括第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜、第三正方形片状聚酯薄膜和环氧树脂填充结构体；所述第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜和第三正方形片状聚酯薄膜由上至下依次紧密贴合，所述第二正方形片状聚酯薄膜的中心位置开有正方形开口，且第二正方形片状聚酯薄膜的一侧边的中心位置开有流出口，流出口与正方形开口连通，正方形开口内设有环氧树脂填充结构体。进一步地：所述第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜和第三正方形片状聚酯薄膜的边长均为10cm。进一步地：所述第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜和第三正方形片状聚酯薄膜的厚度均为0.002mm。进一步地：所述正方形开口的边长为8cm。本技术提出的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样所达到的效果为：该材料试样有效模拟干式空心电抗器匝间聚酯薄膜与环氧树脂复合绝缘材料的结构及聚酯薄膜与环氧树脂的界面分布，在制作时还充分避免了空气的混入；该试样不仅可以方便地进行热老化、电老化、受潮、机械振动等各种老化试验，还可以很好地对其进行空间电荷和红外光谱测量。附图说明图1是根据本技术的实施例的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样的结构分解图；图2是根据本技术的实施例的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样的结构图；图中：1为第一正方形片状聚酯薄膜；2为第二正方形片状聚酯薄膜；3为第三正方形片状聚酯薄膜；4为环氧树脂填充结构体；5为正方形开口；6为流出口。具体实施方式在下文中将结合附图对本技术的示范性实施例进行描述。为了清楚和简明起见，在说明书中并未描述实际实施方式的所有特征。然而，应该了解，在开发任何这种实际实施例的过程中必须做出很多特定于实施方式的决定，以便实现开发人员的具体目标，例如，符合与系统及业务相关的那些限制条件，并且这些限制条件可能会随着实施方式的不同而有所改变。此外，还应该了解，虽然开发工作有可能是非常复杂和费时的，但对得益于本技术公开内容的本领域技术人员来说，这种开发工作仅仅是例行的任务。在此，还需要说明的一点是，为了避免因不必要的细节而模糊了本技术，在附图中仅仅示出了与根据本技术的方案密切相关的装置结构和/或处理步骤，而省略了与本技术关系不大的其他细节。如图1和图2所示，用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，具体结构为：它包括第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2、第三正方形片状聚酯薄膜3和环氧树脂填充结构体4；所述第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2和第三正方形片状聚酯薄膜3由上至下依次紧密贴合，采用平板硫化机使三片正方形片状聚酯薄膜贴合，所述第二正方形片状聚酯薄膜2的中心位置开有正方形开口5，且第二正方形片状聚酯薄膜2的一侧边的中心位置开有流出口6，流出口6与正方形开口5连通，正方形开口5内设有环氧树脂填充结构体4，所述流出口6的宽度为1cm。所述第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2和第三正方形片状聚酯薄膜3的边长均为10cm。所述第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2和第三正方形片状聚酯薄膜3的厚度均为0.002mm。所述正方形开口5的边长为8cm。虽然本技术所揭示的实施方式如上，但其内容只是为了便于理解本技术的技术方案而采用的实施方式，并非用于限定本技术。任何本技术所属
内的技术人员，在不脱离本技术所揭示的核心技术方案的前提下，可以在实施的形式和细节上做任何修改与变化，但本技术所限定的保护范围，仍须以所附的权利要求书限定的范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于：它包括第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)、第三正方形片状聚酯薄膜(3)和环氧树脂填充结构体(4)；所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)由上至下依次紧密贴合，所述第二正方形片状聚酯薄膜(2)的中心位置开有正方形开口(5)，且第二正方形片状聚酯薄膜(2)的一侧边的中心位置开有流出口(6)，流出口(6)与正方形开口(5)连通，正方形开口(5)内设有环氧树脂填充结构体(4)。

【技术特征摘要】
1.用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于：它包括第
一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)、第三正方形片状聚酯薄膜
(3)和环氧树脂填充结构体(4)；所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片
状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)由上至下依次紧密贴合，所述第二正方
形片状聚酯薄膜(2)的中心位置开有正方形开口(5)，且第二正方形片状聚酯薄膜(2)
的一侧边的中心位置开有流出口(6)，流出口(6)与正方形开口(5)连通，正方形开
口(5)内设有环氧树脂填充结构体(4)。
2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚远航，聂洪岩，顾哲屹，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：新型
国别省市：黑龙江;23