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用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，涉及一种片状材料试样。第一正方形片状聚酯薄膜、第二正方形片状聚酯薄膜和第三正方形片状聚酯薄膜由上至下依次紧密贴合，第二正方形片状聚酯薄膜的中心位置开有正方形开口，且第二正方形片状聚酯薄膜的一...
该专利属于哈尔滨理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨理工大学授权不得商用。

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