【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种高湿气体的冷却降湿除水的装置,具体地说是利用半导体制冷的方法将高湿气体中的水汽冷凝并排出,从而达到降湿除水的作用,以利于在低湿度条件下测量技术的快速简单测量。
技术介绍
在实际样品检测和筛查过程,很多现有甚至是主流测量技术都面临着一个需要解决的问题:实际样品的高湿度会大大降低检测的灵敏度以及分辨效果和识别能力,如湿度的存在使得质谱的灵敏度大大降低,与此同时也使得离子迁移谱的谱峰变复杂,分辨能力变差同时降低了灵敏度。因此解决这一难题对于在线筛查或现场监测具有重要的意义。目前国内为均针对这一问题进行了许多研究,其中分子筛等除水吸附剂和膜进样装置以及联用技术均已经有所应用。吸附剂在吸附水汽除水的同时也会吸附待测物,另外它还需要短时间内不断更新,这些不足限制了它的更广泛的应用;膜进样是目前比较流行的技术,但是待测物扩散透过膜的时间较长,并且对待测物有选择作用,这些不利用现场快速监测和广泛应用;联用技术也是一种解决高湿度的途径,但是几种技术联用增加了仪器的复杂性,仪器价格昂贵,便携性弱,适合于实验室分析,不利于现场分析。因此提出一种快速降湿除水的装置或方法具有必要性。
技术实现思路
本专利技术涉及一种高湿气体的冷却降湿除水的装置,具体地说是利用半导体制冷的方法将高湿气体中的水汽冷凝并排出,从而达到降湿除水的作用,以利于在低湿度条件下测量技术的快速简单测量。本专利技术采用的技术方 ...
【技术保护点】
一种半导体冷却降湿除水装置,其特征在于:半导体制冷模块(11)的冷端扣合有上盖,上盖与冷端紧密贴接,于与冷端接触的上盖表面开设有凹槽,作为气体流动槽(2);于凹槽四周的上盖表面上开设有环形凹槽(6)作为O圈槽,环形凹槽内放置有密封O圈,上盖与冷端经密封O圈密闭连接;半导体制冷模块(11)的冷端竖向放置,上盖表面的气体流动槽(2)是由二条以上从上至下设置的凹槽构成的迂回通道,二条以上凹槽从左至右依次单数凹槽下端与其相邻偶数凹槽的下端相连通、偶数凹槽上端与其相邻单数凹槽的上端相连通;于二条以上凹槽中最左侧的凹槽底部设有通孔,作为高湿气体样品进气口(1),于二条以上凹槽中最右侧的凹槽底部设有通孔,作为排气口(9);排气口(9)处设有二通阀门;于二条以上凹槽中的凹槽下端设有通孔,作为分排水通道(8),二个以上的分排水通道(8)经管路连通至总排水通道(4),于总排水通道(4)上设有二通阀门。
【技术特征摘要】
1.一种半导体冷却降湿除水装置,其特征在于:
半导体制冷模块(11)的冷端扣合有上盖,上盖与冷端紧密贴接,于
与冷端接触的上盖表面开设有凹槽,作为气体流动槽(2);
于凹槽四周的上盖表面上开设有环形凹槽(6)作为O圈槽,环形凹槽
内放置有密封O圈,上盖与冷端经密封O圈密闭连接;
半导体制冷模块(11)的冷端竖向放置,上盖表面的气体流动槽(2)
是由二条以上从上至下设置的凹槽构成的迂回通道,二条以上凹槽从左至
右依次单数凹槽下端与其相邻偶数凹槽的下端相连通、偶数凹槽上端与其
相邻单数凹槽的上端相连通;于二条以上凹槽中最左侧的凹槽底部设有通
孔,作为高湿气体样品进气口(1),于二条以上凹槽中最右侧的凹槽底部
设有通孔,作为排气口(9);排气口(9)处设有二通阀门;
于二条以上凹槽中的凹槽下端设有通孔,作为分排水通道(8),二个
以上的分排水通道(8)经管路连通至总排水通道(4),于总排水通道(4)
上设有二通阀门。
2.根据权利要求1所述装置,其特征在于:
于半导体制冷模块(11)的热端设有二个以上垂直于热端表面的散热
片(12),于散热片(12)远离热端侧设有散热风扇(13),制冷过程中的
热量经由散热片和散热风扇转移并散去。
3.根据权利要求1所述装置,其特征在于:
高湿气体样品进气口(1)与高湿气体气...
【专利技术属性】
技术研发人员:李海洋,彭丽英,王帧鑫,周庆华,蒋丹丹,
申请(专利权)人:中国科学院大连化学物理研究所,
类型:发明
国别省市:辽宁;21
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