一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统，它涉及芯片测试装置技术领域。它包括模式选择模块、芯片检测模块和结果显示模块，模式选择模块包括有拨码开关，芯片检测模块包括有51单片机、芯片插座、第一继电器、第二继电器；结果显示模块包括有LED灯和蜂鸣器，将所述芯片检测模块的检测结果通过LED灯、蜂鸣器显示出来；51单片机分别与拨码开关、芯片插座、第一继电器、第二继电器、LED灯、蜂鸣器连接，芯片插座分别与第一继电器、第二继电器连接，第一继电器、第二继电器接地。本发明专利技术操作方便，无需人工连接复杂线路，能够方便、准确地判断芯片是否损坏，并给出检测结果，结果可靠，有效提高教学和学习效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试装置
，尤其涉及一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统。
技术介绍
数字电路相关实践课程是数字电子技术理论教学的延伸，实践过程中所用芯片保持完好是实验成功的前提条件。由于电路设计或连接错误导致实验失败时，可以检查电路或连线进行修改，但芯片损坏往往需要对其每个引脚进行测试。最常用的方式是手工检测，即通过手工连线、搭建电路，根据芯片的功能表或真值表给相应引脚提供输入电平，观察对应功能引脚的电平输出，判读芯片是否完好，但这种方法效率不高，需要连接复杂的线路，不断地切换输入开关，检测结果可靠性不高。因此，本领域的技术人员致力于开发一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统。
技术实现思路
有鉴于现有技术的上述缺陷，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统，结构简单，设计合理，操作方便，无需人工连接复杂线路，能够方便、准确地判断芯片是否损坏，并给出检测结果，结果可靠，有效提高教学和学习效率，实用性强，易于推广使用。为实现上述目的，本专利技术提供了一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统，包括模式选择模块、芯片检测模块和结果显示模块，模式选择模本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统，其特征在于：包括模式选择模块、芯片检测模块和结果显示模块，模式选择模块包括有拨码开关(1)，芯片检测模块包括有51单片机(2)、芯片插座(3)、第一继电器(4)、第二继电器(5)，结果显示模块包括有LED灯(6)和蜂鸣器(7)，51单片机(2)分别与拨码开关(1)、芯片插座(3)、第一继电器(4)、第二继电器(5)、LED灯(6)、蜂鸣器(7)连接，芯片插座(3)分别与第一继电器(4)、第二继电器(5)连接，第一继电器(4)、第二继电器(5)接地。

【技术特征摘要】
1.一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统，其特征在于：包括模式选择模块、芯片检测模块和结果显示模块，模式选择模块包括有拨码开关(1)，芯片检测模块包括有51单片机(2)、芯片插座(3)、第一继电器(4)、第二继电器(5)，结果显示模块包括有LED灯(6)和蜂鸣器(7)，51单片机(2)分别与拨码开关(1)、芯片插座(3)、第一继电器(4)、第二继电器(5)、LED灯(6)、蜂鸣器(7)连接，芯片插座(3)分别与第一继电器(4)、第二继电器(5)连接，第一继电器(4)、第二继电器(5)接地。2.如权利要求1所述的一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统，其特征在于：所述的芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘艳，张斌，高茜，唐海贤，景昊，
申请(专利权)人：河海大学常州校区，
类型：发明
国别省市：江苏;32