晶体管检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种晶体管检测装置，用来检测晶体管的性能，包括:基板，其上设有若干个固定孔，固定孔之间存在一定间距；电阻，其安插固定于基板的固定孔上；弹簧引脚，具有一弹簧及两导电引脚，该两导电引脚安装于弹簧之上，其中一导电引脚连接电阻的一端，另一导电引脚连接晶体管的其中一引脚；电源，具有两组电源输出口，该两组电源输出口各具有一正极输出端口和一负极输出端口；连接导线，其一端连接于电源上，另一端具有夹持件，该夹持件对应夹持电阻的另一端。利用本晶体管检测装置，采用弹簧引脚连接晶体管及电阻，使检测流程既方便、快捷，又可提高晶体管功能测试的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测装置，特别是涉及一种晶体管检测装置。
技术介绍
晶体管(例如SO-8、SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)在使用前一般需要进行检测，以验证其功能正常。以SO-8为例，其包括一个G极(栅极)引脚、三个S极(源极)引脚、四个D极(漏极)引脚。请参阅图1，图1为晶体管功能测试的一电路图。该功能测试为测试源极和漏极之间的电阻RDS，该电路需要在晶体管10的源极和漏极之间串接第一电源11及第一电阻12，在晶体管10的栅极和漏极之间串接第二电源13及第二电阻14。请参阅图2，图2绘示为图1晶体管功能测试电路的实物连接示意图。如图所示，所述晶体管10的一个四个漏极引脚、三个源极引脚、一个栅极引脚分别通过第一焊点15、第二焊点16、第三焊点17焊接于印刷线路板18上，直流电源19提供上述第一电源11及第二电源13，再通过导线连接以形成图1中的电路。所述导线的一端焊接在所述第一焊点15、第二焊点16、第三焊点17上，另一端连接所述第一电阻12、第二电阻14或所述直流电源19。然而，采用上述方式连接的测试电路，由于是使用具有夹具的导线连接所述电子元器件，并且该些电子元器件焊接在一电路板上。一方面，在检测时接线拆线的流程较繁琐；另一方面，因导线的夹具的散热性能较差，且高温焊接后所述晶体管功能参数不良可能会导致测试数据不准。有鉴于此，实有必要开发一种晶体管检测装置，以解决上述问题。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种晶体管检测装置，解决晶体管功能测试时接线拆线流程繁琐，以及因导线的夹具的散热性能较差，且高温焊接后所述晶体管功能参数不良导致测试数据不准的问题。为了达到上述目的，本专利技术提供的晶体管检测装置，用来检测晶体管的性能，包括：基板，其上设有若干个固定孔，所述固定孔之间存在一定间距；电阻，其安插固定于所述基板的固定孔上；弹簧引脚，具有一弹簧及两导电引脚，所述两导电引脚安装于该弹簧之上，其中一导电引脚连接所述电阻的一端，另一导电引脚连接所述晶体管的其中一引脚；电源，具有两组电源输出口，所述两组电源输出口各具有一正极输出端口和一负极输出端口；连接导线，其一端连接于所述电源上，另一端具有夹持件，所述夹持件对应夹持所述电阻的另一端。可选的，所述弹簧引脚的两导电引脚可进行旋转。可选的，所述电阻至少2个。可选的，所述电阻阻值在10Ω姆至100KΩ之间。可选的，所述电源为直流电源。可选的，所述电阻的阻值对应所述晶体管测试用电阻的阻值。相较于现有技术，利用本专利技术的晶体管检测装置，只需依据测试所需求阻值的电阻，将其固定在所述基板上，再将所述弹簧引脚的其中一导电引脚连接所述电阻，另一导电引脚连接所述晶体管的栅极引脚、源极引脚或者漏极引脚上。由于是将电阻固定在基板上，而所述晶体管的栅极引脚、源极引脚、漏极引脚与电阻之间的连接是通过弹簧引脚连接来完成，无须焊接。因此，既解决了测试时接线拆线的繁琐流程，又可避免因导线夹具的散热性能差，且高温焊接后所述晶体管功能参数不良导致测试数据不准的问题。【附图说明】图1绘示晶体管功能测试的一电路图。图2绘示图1晶体管功能测试电路的实物连接示意图。图3绘示本专利技术的晶体管检测装置的结构示意图。图4绘示本专利技术的晶体管检测装置一较佳实施例的装置结构示意图。【具体实施方式】请参阅图3，图3绘示本专利技术塑胶补偿植钉装置的结构示意图。为了达到上述目的，本专利技术提供的晶体管功能测试装置，用来检测晶体管10的性能，其包括：基板20，其上设有若干个固定孔，所述固定孔之间存在一定间距；电阻21，其安插固定于所述基板20的固定孔上；弹簧引脚22，具有一弹簧223及两导电引脚，所述两导电引脚安装于所述弹簧223之上，其中一导电引脚221连接所述电阻21的一端，另一导电引脚222连接所述晶体管10的其中一引脚；电源23，具有两组电源输出口(231，232)，所述两组电源输出口(231，232)各具有一正极输出端口和一负极输出端口；连接导线24，其一端连接于所述电源23上，另一端具有夹持件25，所述夹持件25对应夹持所述电阻21的另一端。其中，所述弹簧引脚22的两导电引脚可进行旋转。其中，所述弹簧引脚22至少为2个，以便晶体管10放置方位不同时，使其栅极、源极或者漏极引脚通过所述弹簧引脚22便捷地连接至所述电阻21。其中，所述电阻21至少为2个。其中，所述电阻21的阻值在10Ω姆至100KΩ之间。其中，所述电源23为直流电源。其中，所述电阻21的阻值对应所述晶体管测试用电阻的阻值。其中，所述晶体管、电阻及弹簧引脚安插于所述基板之上，测试完成之后可拆卸，以利回收使用。请再参阅图4，图4绘示本专利技术的晶体管检测装置一较佳实施例的装置结构示意图。于本实施例中，该晶体管检测装置检测晶体管10源极和漏极之间的电阻RDS。于本实施例中，所述第一弹簧引脚22的一导电引脚221连接所述第一电阻21的一端，另一导电引脚222连接所述晶体管10的漏极引脚。于本实施例中，所述电源输出口231的负极输出端口通过连接导线24连接至所述晶体管10的源极引脚，其正极输出端口通过连接导线24连接至第一电阻21的另一端。于本实施例中，所述第二弹簧引脚26的一导电引脚262连接所述第二电阻27的一端，另一导电引脚261连接所述晶体管10的栅极引脚。于本实施例中，所述电源输出口232的负极输出端口通过连接导线24连接至所述晶体管10的源极引脚，其正极输出端口通过连接导线24连接至第二电阻27的另一端。于本实施例中，所述晶体管10是以SO-8为例，其它类型的晶体管10(例如SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)也可以使用上述测试装置。相较于现有技术，利用本专利技术的晶体管检测装置，只需依据测试所需求阻值的电阻21，将其固定在所述基板20上，再通过弹簧引脚(22，26)将所述晶体管的栅极引脚、源极引脚、漏极引脚与电阻之间直接连接，无须进行焊接。因此，本专利技术的晶体管检测装置既解决了测试时接线拆线的繁琐流程，又可避免因导线夹具的散热性能差，且高温焊接后所述晶体管功能参数不良导致测试数据不准的问题。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体管检测装置，用来检测晶体管的性能，其特征在于，包括：基板，其上设有若干个固定孔，所述固定孔之间存在一定间距；电阻，其安插固定于所述基板的固定孔上；弹簧引脚，具有一弹簧及两导电引脚，所述两导电引脚安装于该弹簧之上，其中一导电引脚连接所述电阻的一端，另一导电引脚连接所述晶体管的其中一引脚；电源，具有两组电源输出口，所述两组电源输出口各具有一正极输出端口和一负极输出端口；连接导线，其一端连接于所述电源上，另一端具有夹持件，所述夹持件对应夹持所述电阻的另一端。

【技术特征摘要】
1.一种晶体管检测装置，用来检测晶体管的性能，其特征在于，包括：基板，其上设有若干个固定孔，所述固定孔之间存在一定间距；电阻，其安插固定于所述基板的固定孔上；弹簧引脚，具有一弹簧及两导电引脚，所述两导电引脚安装于该弹簧之上，其中一导电引脚连接所述电阻的一端，另一导电引脚连接所述晶体管的其中一引脚；电源，具有两组电源输出口，所述两组电源输出口各具有一正极输出端口和一负极输出端口；连接导线，其一端连接于所述电源上，另一端具有夹持件，所述夹持件对应夹持所述电阻的另一端。2.如权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张荣斌，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32