用于识别光学阵列极性并测量光信号功率或损耗的装置制造方法及图纸

公开了一种用于确定光纤阵列极性的装置。该装置可用来确定光信号损耗或强度。可使用适配器来将装置耦合到多种光纤连接器。该装置包括位置传感检测器和处理电路。该位置传感检测器包括接收光信号的传感器和响应于光信号的接收而输出各输出信号的电极。该处理电路接收输出信号并识别光信号入射在传感器上的位置。处理电路还确定光纤的光学阵列中的接收位置及基于该接收位置和相应发射位置的光学阵列的极性。所述处理电路可基于输出信号的聚合体来确定光信号的强度或损耗。

【技术实现步骤摘要】

本申请针对一种用于识别光学阵列极性和/或测量光信号功率或损耗的设备，以及特别针对使用位置传感检测器来执行识别和测量的设备。
技术介绍
测量光信号强度的常规设备利用被单独耦合到光学阵列的每个光纤的光学检测器。可使用常规设备来测量通过阵列的每个光纤发射的光信号的光学强度。然而，单独地将设备耦合到每个光纤以便获得强度测量结果的需要是耗费时间的。某些常规设备装备有多个传感器，由此每个传感器捕捉从阵列的各光纤接收到的光信号。为了使这些设备适当地工作，传感器必须分别地与光纤对准。由于光学阵列连接器（诸如多纤维拉式MPO）连接器）是性别（gender）特定的（即，钉扎（pinned）或非钉扎（unpinned））事实，所以要求性别顺从设备以便将设备附着到连接器并确保对准。因此，对光学阵列执行现场测试的人员可需要为两个性别携带多个设备。接插线对相反性别的替换使用可在测量结果中引入假象并增加不确定性。此外，这些设备仅可用于某个尺寸的光学阵列（具有特定数目的光纤的行或列）。其不可用来测试在与设备被设计成用于的阵列相比光纤的行或列的数目方面不同的许多其它市售阵列。
技术实现思路
描述了一种用于确定光纤阵列极性的装置。该装置包括位置传感检测器。该位置传感检测器具有可相对于光学阵列定位的传感器。传感器从光学阵列接收入射在传感器上的许多光信号同时传感器保持在相对于光学阵列的固定位置上。所述多个光信号源自于形成光学阵列的相应多个光纤，由此，所述多个光纤中的每个光纤相对于光学阵列中的其它光纤而言在光学阵列中具有关联的发射和接收位置。该位置传感检测器具有被电耦合到传感器的多个电极。所述多个电极响应于由传感器接收到所述多个光信号中的光信号而输出相应的多个输出信号。所述多个输出信号指示所述多个光信号中的光信号入射在传感器上的位置。在实施例中，所述装置包括被电耦合到所述多个电极的处理电路。处理电路接收用于所述多个光信号中的每一个的所述多个输出信号，并识别所述多个光信号入射在传感器上的各位置。处理电路还基于所识别位置来确定所述多个光纤中的至少一个光纤的光学阵列中的接收位置。此外，处理电路基于所述至少一个光纤的所确定的接收位置和所述至少一个光纤的光学阵列中的相应发射位置来确定光学阵列的极性。还描述了一种用于确定光纤阵列极性的方法。在该方法中，在位置传感检测器的传感器处从光学阵列接收多个光信号。所述多个光信号入射在传感器上同时传感器相对于光学阵列保持在固定位置。所述多个光信号源自于形成光学阵列的相应多个光纤，由此，所述传感器可相对于光学阵列定位，并且所述多个光纤中的每个光纤相对于光学阵列中的其它光纤而言具有关联的发射和接收位置。在一个实施例中，位置传感检测器的多个电极响应于由传感器接收到所述多个光信号中的光信号而输出相应的多个输出信号。所述多个输出信号中的每个输出信号指示所述多个光信号中的光信号入射在传感器上的位置到所述多个电极中的各电极的接近度。此外，针对所述多个光信号识别所述多个光信号入射在传感器上的各位置。基于用于每个接收光信号的相应多个输出信号来识别各位置。基于所识别位置来确定所述多个光纤中的至少一个光纤的光学阵列中的接收位置。另外，基于所确定的接收位置和所述至少一个光纤的光学阵列中的相应发射位置来确定光学阵列的极性。描述了一种用于测量光信号强度的装置。该装置包括位置传感检测器。该位置传感检测器包括可相对于光学阵列定位的光学传感器。该光学传感器具有单个基板光学传感区域，其尺寸被确定成足以从光学阵列接收多个光信号同时光学传感区域相对于光学阵列保持在固定位置。该光学传感器在光学传感区域内的位置处接收光信号。该位置传感检测器包括被电耦合到光学传感区域的多个电极。所述多个电极响应于由光学传感区域接收到光信号而输出相应的多个输出信号。所述多个输出信号中的每个输出信号具有与光信号的强度和光信号被接收到所述多个电极的相应电极的位置处的接近度两者成比例的电气特性。在实施例中，所述装置包括加法器，其接收所述多个输出信号并将其聚合，并且产生用于光信号的输出信号聚合体。在另一实施例中，所述装置包括被电耦合到加法器的处理电路，由此，所述处理电路接收输出信号聚合体，并基于该输出信号聚合体来确定光信号的强度。光信号的所确定的强度与输出信号聚合体成比例。附图说明图1示出了可耦合到具有光纤阵列的光纤连接器的光纤测试设备。图2示出了光纤阵列极性的图示。图3示出了根据实施例的光纤测试设备的示意图。图4示出了根据实施例的光纤测试设备的示意图。图5示出了用于确定光学阵列的极性的方法的流程图。图6示出了用于确定光信号强度的方法的流程图。具体实施方式在各种实施例中，在本文中描述的是一种用于确定光纤阵列极性的装置。当来自光学阵列的光信号入射在平面传感器上时，被电耦合到平面传感器的电极产生输出信号，该输出信号指示每个光信号入射在平面传感器上的位置。处理电路识别光信号的各位置并确定光学阵列中的光纤的极性。在各种实施例中，在本文中还描述了一种用于测量光信号强度的装置。求和电路从被耦合到光学传感器的电极接收多个输出信号并将其聚合，并且处理电路基于输出信号的聚合体来确定光信号的强度。图1图示出可耦合到具有光纤阵列104的光纤连接器102的光纤测试设备100的至少一个实施例。光纤测试设备100包括到光纤测试设备100的用户的接口106。接口106可用来向用户提供由光纤测试设备100执行的测试或测量的结果。接口106在图1中被示为是屏幕，但除了别的以外在各种实施例中接口106可以是扬声器或发光二极管（LED）面板。此外，接口106包括无线或有线调制解调器，其将测试或测量结果发射到另一设备（除了别的以外诸如计算机、平板电脑、智能电话或服务器）以向用户显示测试或测量的结果。光纤测试设备100还包括可相对于光纤阵列104定位的光学传感器108。光学传感器108从光学阵列104接收源自于相应多个光纤110（在下文中以单数形式称为光纤110）的多个光信号。在各种实施例中，光学传感器108可以是单个基板、大面积半导体光学检测器，其从光学阵列104接收所述多个光信号同时光学阵列104相对于光学传感器108保持在基本上固定的位置处。光学传感器108通过使光信号落下入射在光学传感器108的光学传感区域上来接收所述多个光信号。光学传感器108的光学传感区域大到足以涵盖或覆盖由光学阵列104中的光纤110的端面定义的区域。由于光学传感区域的尺寸，光学传感器104可以很少或可忽略的光学损耗捕捉源自于光学阵列104的所述多个光信号。如果光学系统（例如，透镜）位于光学阵列104与传感区域之间，使得光信号（其否则将入射在光学传感区域外面）被改向而完全被光学传感区域捕捉，则可利用较小的传感区域。可使用适配器（例如，机械适配器）来将光纤连接器102耦合到光学传感器108。该适配器可具有顺从于且被设计成配合光纤连接器102的相应性别或形状。虽然使用光纤测试设备100，但可将各种适配器互换以适应具有不同性别或形状的各种光纤连接器102。当测试具有不同连接器的光纤阵列104时，可将该适配器交换成另一顺从的适配器以将连接器102耦合到光学传感器108。另外，光学传感器108可被相对于光学阵列104定位并从光学阵列104接收光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定光纤阵列极性的装置，包括：位置传感检测器，其包括：传感器，其可相对于光学阵列定位，其中，所述传感器从光学阵列接收入射在传感器上的多个光信号同时所述传感器相对于光学阵列保持在固定位置，所述多个光信号源自于形成光学阵列的相应多个光纤，所述多个光纤中的每个光纤相对于光学阵列中的其它光纤在光学阵列中具有相关联的发射位置和接收位置；以及多个电极，其被电耦合到所述传感器，其中，所述多个电极响应于由所述传感器接收到所述多个光信号中的光信号而输出相应多个输出信号，所述多个输出信号指示所述多个光信号中的光信号入射在传感器上的位置；以及处理电路，其被电耦合到所述多个电极，其中，所述处理电路：接收用于所述多个光信号中的每一个的所述多个输出信号；识别所述多个光信号入射在传感器上的各位置；基于已识别位置来确定所述多个光纤中的至少一个光纤的光学阵列中的接收位置；以及基于所述至少一个光纤的所确定的接收位置和所述至少一个光纤的光学阵列中的相应发射位置来确定光学阵列的极性。

【技术特征摘要】
2015.08.19 US 14/8305641.一种用于确定光纤阵列极性的装置，包括：位置传感检测器，其包括：传感器，其可相对于光学阵列定位，其中，所述传感器从光学阵列接收入射在传感器上的多个光信号同时所述传感器相对于光学阵列保持在固定位置，所述多个光信号源自于形成光学阵列的相应多个光纤，所述多个光纤中的每个光纤相对于光学阵列中的其它光纤在光学阵列中具有相关联的发射位置和接收位置；以及多个电极，其被电耦合到所述传感器，其中，所述多个电极响应于由所述传感器接收到所述多个光信号中的光信号而输出相应多个输出信号，所述多个输出信号指示所述多个光信号中的光信号入射在传感器上的位置；以及处理电路，其被电耦合到所述多个电极，其中，所述处理电路：接收用于所述多个光信号中的每一个的所述多个输出信号；识别所述多个光信号入射在传感器上的各位置；基于已识别位置来确定所述多个光纤中的至少一个光纤的光学阵列中的接收位置；以及基于所述至少一个光纤的所确定的接收位置和所述至少一个光纤的光学阵列中的相应发射位置来确定光学阵列的极性。2.权利要求1的设备，其中，所述处理电路还接收指示所述至少一个光纤的光学阵列中的发射位置的信息。3.权利要求1的设备，其中，确定光学阵列的极性还包括确定所述至少一个光纤的所确定的接收位置与相应发射位置之间的偏移。4.权利要求1的设备，其中，如果所述至少一个光纤的接收位置与所述至少一个光纤的相应发射位置相同，则光学阵列的极性被确定为是第一类型。5.权利要求1的设备，其中，如果所述至少一个光纤的接收位置从所述至少一个光纤的相应发射位置偏移一个位置，则光学阵列的极性被确定为是第二类型。6.权利要求1的设备，其中，如果所述至少一个光纤的接收位置从所述至少一个光纤的相应发射位置换位，则光学阵列的极性被确定为是第三类型。7.权利要求1的设备，其中，所述处理电路还确定光纤接收位置的顺序，以及接收光纤的发射位置的顺序，所述多个光信号按光纤接收位置的顺序被检测为源自于光纤，所述多个光信号按光纤发射位置的顺序发射到光纤中。8.权利要求7的装置，其中，确定光学阵列的极性还包括将接收位置的顺序与发射位置的顺序相比较以识别各接收和发射位置之间的偏移。9.权利要求1的设备，还包括：接口，其被通信耦合到处理电路，其中，所述接口接收光学阵列的极性的指示并向用户指示该极性。10.权利要求1的设备，其中，所述装置可通过具有与光学阵列的连接器相顺从的性别或形状的可互换适配器而选择性地耦合到光学阵列。11.权利要求1的设备，其中：所述光学阵列在固定位置处被光学耦合到所述装置同时所述多个光信号入射在传感器上；以及所述传感器由具有光学传感区域的单个基板形成，所述光学传感区域具有足以接收所述多个光信号的尺寸同时所述传感器保持在相对于光学阵列的固定位置。12.权利要求1的设备，还包括：光学系统，其被光学耦合到传感器和光学阵列，其中，所述光学系统从光学阵列接收所述多个光信号并使所述多个光信号中的至少一个光信号改向至...

【专利技术属性】
技术研发人员：JD谢尔，
申请(专利权)人：弗兰克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US