一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法技术

技术编号:14695087 阅读:129 留言:0更新日期:2017-02-23 19:24
本发明专利技术涉及油气田勘探开发领域,尤其是一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法。发明专利技术通过对断层和裂缝的数据化,在点充填的基础上,选定合适的网格单元边长,设计了断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式的评价模型,实现了断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式的定量计算。本发明专利技术对于断层和裂缝参数的统计计算、野外地质素描图的处理等多个方面具有较高的实用价值,并且预测成本低廉、可操作性强,能大量减少人力的支出。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及油气田勘探开发领域,尤其是一种断层、裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法。
技术介绍
在野外或室内地质工作中,当断层/裂缝发育时,其发育密度、均匀性以及组合样式准确定量表征是地质工作的一大难点。传统的断层/裂缝密度、组合样式评价往往通过简单的米尺测量、统计计算,该过程工作量大、准确度低,实际操作中受到很大的限制;并且断层/裂缝的密度有尺度效应,用不同边长的计算单元,得到的某一地区的裂缝面密度可能有很大的差异。本专利技术专利通过对断层/裂缝的数据化,在点充填的基础上,选定合适的网格单元边长,设计了断层/裂缝发育密度、均匀性以及组合样式的评价模型,实现了裂缝、断层发育密度、均匀性以及组合样式的定量计算。
技术实现思路
本专利技术旨在解决上述问题,提供了一种断层、裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法,它解决了断层/裂缝参数计算过程中采用人工手段工作量大、费时费力且计算的裂缝、断层参数不准确的问题。本专利技术的技术方案为:一种断层、裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法,具体步骤如下:第一步通过野外观测、遥感监测、地震解释、薄片观测、油田动态开发以及小层对比等技术方法,本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/52/201610835609.html" title="一种断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法原文来自X技术">断层和裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法</a>

【技术保护点】
一种断层、裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法,所述的步骤如下:1)通过野外观测、遥感监测、地震解释、薄片观测、油田动态开发以及小层对比等技术方法,获取断层/裂缝的平面展布图;2)如图2所示,将每条断层/裂缝沿着走向线依次取点,断层/裂缝取点依次标记为(ai0、ai1、ai2...ain‑1、ain),其中,i表示第i条断层或裂缝,n为该条断层或裂缝的取点数目;设置断层/裂缝的充填间距b,充填后得到的断层/裂缝数据体为ΩD(X,Y,Q),X,Y为充填点的坐标,Q代表该充填点为第几条裂缝/断层;3)确定断层/裂缝参数计算单元边长r,通过计算不同边长(r)的计算单元的平均面密度ρraver,拟...

【技术特征摘要】
1.一种断层、裂缝发育密度、均匀性以及组合样式评价方法,所述的步骤如下:1)通过野外观测、遥感监测、地震解释、薄片观测、油田动态开发以及小层对比等技术方法,获取断层/裂缝的平面展布图;2)如图2所示,将每条断层/裂缝沿着走向线依次取点,断层/裂缝取点依次标记为(ai0、ai1、ai2...ain-1、ain),其中,i表示第i条断层或裂缝,n为该条断层或裂缝的取点数目;设置断层/裂缝的充填间距b,充填后得到的断层/裂缝数据体为ΩD(X,Y,Q),X,Y为充填点的坐标,Q代表该充填点为第几条裂缝/断层;3)确定断层/裂缝参数计算单元边长r,通过计算不同边长(r)的计算单元的平均面密度ρraver,拟合公式得到乘幂函数:ρraver=a·rb(1)公式(1)中,ρraver为不同单元边长r对应的工区断层/裂缝平均面密度,单位:km/km2;r为不同的计算单元边长,单位:km;a、b为拟合系数,无量纲,计算整个工区断层/裂缝的平均面密度ρaver:ρaver=LS---(2)]]>公式(2)中,L为工区内断层/裂缝的总长度;S为工区面积;ropt=ρaver/ab---(3)]]>公式(3)中ropt为ρraver=ρaver时对应的单元边长,单位:km;a、b为拟合系数,无量纲;计算单元边长r选取1.8×ropt~2.2×ropt;4)统计数据体ΩD(X,Y,Q)中落入单元Ek的数据体TD(X,Y,Q),记录数目为node,如图3所示,对于任意一个单元(边长r)Ek,在单元边界依次布置间距为b的m条测线,第i条测线计算断层/裂缝充填点的筛选条件:Xk+b·(k-1)<TDX≤Xk+b·k(4)公式(4)中,Xk为单元Ek左下方的底角坐标,单位:km;b为充填步长,单位:km;k为单元边界依次布置的第k条测线;TDX为数据体TD充填点的X坐...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘敬寿丁文龙杨海盟谷阳肖子亢
申请(专利权)人:中国地质大学北京
类型:发明
国别省市:北京;11

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