一种珠体位置缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术是关于一种珠体位置缺陷检测方法及装置，通过将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域；在每个训练采样投影区域中，筛选出路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，获取标准路径折线；将与训练珠体图像相匹配的待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域；在每个检测采样投影区域中，筛选出检测边缘对；当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷。在检测过程中，精细划分训练采样投影区域，得到标准路径折线，所述标准路径折线能够准确描述珠体的形状；然后将边缘对的中点作为检测目标，精确感知珠体上的检测目标是否发生位置的变化，提高珠体位置缺陷检测的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及视觉图像检测
，尤其涉及一种珠体位置缺陷检测方法及装置。
技术介绍
珠体具有一致的宽度和不规则的延展路径，例如电线或钢缆等均属于珠体。珠体各个位置处的宽度一致，但是延展路径不规则；其中，珠体的延展路径可能为基本趋势为直线的路径，例如曲线；当珠体的延展路径的弯曲度较大时，其基本趋势还可以是折线；或者，珠体的延展路径可以为基本趋势为圆形的路径，例如闭合曲线或者圆弧等。在使用时，珠体通常被加工成异形形状，使珠体具有与工作场景相适应的不规则的延展路径。为了保证珠体能够正常工作，需要检测珠体是否存在位置缺陷，即检测珠体各个部位位置与标准位置的一致性，确定珠体是否发生变形。目前珠体位置缺陷检测通常在待检测珠体上设置几个检测点，通过对所述检测点处珠体边缘位置是否与标准位置吻合，确定珠体是否存在位置缺陷。然而，专利技术人通过研究发现，当珠体的形状发生改变时，在检测点位置处由于存在突出或凹陷等缺陷，可能使珠体边缘位置与标准位置重合，这样珠体的位置缺陷就无法检出，从而造成漏检，影响珠体位置缺陷检测精度。
技术实现思路
本专利技术实施例中提供了一种珠体位置缺陷检测方法及装置，以解决现有技术中的珠体位置缺陷检测精度低的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术实施例专利技术了如下技术方案：本专利技术实施例提供了一种珠体位置缺陷检测方法，该方法包括：将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域；在每个训练采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线；将待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域，其中，所述待检测珠体图像与所述训练珠体图像相匹配；在每个检测采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的检测边缘对；当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷。可选地，连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线之前，还包括：连接当前路径边缘对的中点，获得参考路径折线；沿所述参考路径折线，将训练珠体图像划分为多个优化采样投影区域；在每个优化采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对。可选地，连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线之前，还包括：获取多个训练珠体图像组成的训练珠体图像组，对所述训练珠体图像组中的图像划分相应的训练采样投影区域；在每个训练珠体图像中，从各个训练采样投影区域，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；在每个训练采样投影区域中，确定训练珠体图像组的路径边缘对统计中点，将所述统计中点作为所述训练采样投影区域的路径边缘对的中点。可选地，所述将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域，包括：根据训练珠体的弯曲度，确定多个训练采样投影区域间距；根据所述训练采样投影区域间距，将所述训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域。可选地，当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷之前，还包括：根据训练珠体的弯曲度，设置多个缺陷阈值。本专利技术实施例还提供一种珠体位置缺陷检测装置，该装置包括：训练采样投影区域划分模块，用于将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域；路径边缘对确定模块，用于在每个训练采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；标准路径折线生成模块，用于连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线；检测采样投影区域划分模块，用于将待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域，其中，所述待检测珠体图像与所述训练珠体图像相匹配；检测边缘对确定模块，用于在每个检测采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的检测边缘对；位置缺陷记录模块，用于当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷。可选地，装置还包括：参考路径折线获得模块，用于连接当前路径边缘对的中点，获得参考路径折线；优化采样投影区域划分模块，用于沿所述参考路径折线，将训练珠体图像划分为多个优化采样投影区域；路径边缘对优化模块，用于在每个优化采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对。可选地，该装置还包括：训练珠体图像组采样投影区域划分模块，用于获取多个训练珠体图像组成的训练珠体图像组，对所述训练珠体图像组中的图像划分相应的训练采样投影区域；训练珠体图像组路径边缘对确定模块，用于在每个训练珠体图像中，从各个训练采样投影区域，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；训练珠体图像组统计中点确定模块，用于在每个训练采样投影区域中，确定训练珠体图像组的路径边缘对统计中点，将所述统计中点作为所述训练采样投影区域的路径边缘对的中点。可选地，训练采样投影区域划分模块包括：训练采样投影区域间距确定模块，用于根据训练珠体的弯曲度，确定多个训练采样投影区域间距；训练采样投影区域分布模块，用于根据所述训练采样投影区域间距，将所述训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域。可选地，该装置还包括缺陷阈值设置模块，用于根据训练珠体的弯曲度，设置多个缺陷阈值。本专利技术的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本专利技术的实施例提供的一种珠体位置缺陷检测方法及装置，通过将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域；在每个训练采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，获取标准路径折线；将待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域，其中，所述待检测珠体图像与所述训练珠体图像相匹配；在每个检测采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的检测边缘对；当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷。在珠体位置缺陷的检测过程中，通过精细划分训练采样投影区域，得到标准路径折线，所述标准路径折线能够准确描述珠体的形状；然后将边缘对的中点作为检测目标，通过边缘对中点到标准路径折线的距离，精确感知珠体上的检测目标是否发生位置的变化，提高了珠体位置缺陷检测的精度。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的珠体示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种珠体位置缺陷检测方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种直线珠体训练采样投影区域划分示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种折线珠体训练采样投影区域划分示意图；图5为本专利技术实例提供的一种圆形珠体训练采样投影区域划分示意图；图6为本专利技术实施例提供的一种圆形珠体的标准路径折线示意图；图7为本专利技术实施例提供的一种位置缺陷检测结果示意图；图8为本专利技术实施例提供的另一种珠体位置缺陷检测方法的流程示意图；图9为本专利技术实施例提供的再一种珠体位置缺陷检测方法的流程示意图；图10为本专利技术实施例提供的一种珠体位置缺陷检测装置的结构示意图；图11为本专利技术实施例提供的另一种珠体位置缺陷检测装置的结构示意图；图12为本专利技术实施例提供的再一种珠体位置缺陷检测装置的结构示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术中的技术方案，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种珠体位置缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域；在每个训练采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线；将待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域，其中，所述待检测珠体图像与所述训练珠体图像相匹配；在每个检测采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的检测边缘对；当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种珠体位置缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域；在每个训练采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线；将待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域，其中，所述待检测珠体图像与所述训练珠体图像相匹配；在每个检测采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的检测边缘对；当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷。2.根据权利要求1所述的珠体位置缺陷检测方法，其特征在于，连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线之前，还包括：连接当前路径边缘对的中点，获得参考路径折线；沿所述参考路径折线，将训练珠体图像划分为多个优化采样投影区域；在每个优化采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对。3.根据权利要求1所述的珠体位置缺陷检测方法，其特征在于，连接相邻路径边缘对的中点，生成标准路径折线之前，还包括：获取多个训练珠体图像组成的训练珠体图像组，对所述训练珠体图像组中的图像划分相应的训练采样投影区域；在每个训练珠体图像中，从各个训练采样投影区域，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；在每个训练采样投影区域中，确定训练珠体图像组的路径边缘对统计中点，将所述统计中点作为所述训练采样投影区域的路径边缘对的中点。4.根据权利要求1所述的珠体位置缺陷检测方法，其特征在于，所述将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域，包括：根据训练珠体的弯曲度，确定多个训练采样投影区域间距；根据所述训练采样投影区域间距，将所述训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域。5.根据权利要求1所述的珠体位置缺陷检测方法，其特征在于，当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时，记录位置缺陷之前，还包括：根据训练珠体的弯曲度，设置多个缺陷阈值。6.一种珠体位置缺陷检测装置，其特征在于，该装置包括：训练采样投影区域划分模块，用于将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域；路...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨艺，彭斌，钟克洪，
申请(专利权)人：凌云光技术集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11