用于检查晶体缺陷结构的方法和系统技术方案

提供用于检查晶体缺陷结构的方法和系统的实施方式。在方法中，尤其易受由晶体缺陷引起的衍射影响的X射线波长被识别。然后，提供X射线源发出被识别的X射线波长的X射线。当将结构设置在相对于X射线源的一系列位置时，使多个非平行阵列的X射线照射该结构，产生衍射X射线的系列图案。数字化捕获衍射X射线的图案并传送给计算机，计算机比较他们来定位晶体缺陷。对于表面缺陷，可使用目标物标记缺陷以允许物理移除。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术通常涉及用于检查拥有晶体结构的材料的方法和系统，尤其涉及用于在具有晶体结构的材料中定位晶体缺陷的方法和系统。
技术介绍
通常地，高温合金广泛地用于在升高温度下耐高应力的应用上，例如用于燃气涡轮发动机的组件(例如刀片和叶片)中。制造方法的改进已导致单晶形式的组件铸件，导致改进的高温寿命和強度，其超过了传统制备的具有由晶粒边界分离的多个晶粒的金属材料。由于单晶高温合金组件改进的性能，经受住苛刻操作条件的能力是可预期的。然而，ー个或多个相对于单晶完整性的显著偏离严重制约了在苛刻操作条件之下工作的单晶高温合金组件的能力，且可缩短组件的使用寿命。因为沿着缺陷周围的晶体边界断裂和分·离的可能性増加了，用于涡轮刀片和叶片的铸件需要对伪晶粒和其他晶体缺陷进行精密的检查。当前的行业惯例是使用刻蚀步骤来在单晶铸件的表面暴露伪晶粒和晶体缺陷。刻蚀后，可视化检查铸件从而相对于适合于铸件想要用途的合适的验收准则来评价刻蚀表面。虽然刻蚀步骤从历史上为暴露等轴和多晶定向凝固的高温合金铸件的外部晶粒结构提供良好的晶粒对比，这些刻蚀エ艺趋向于依赖检查员，是耗时的，并且由于过多的原料损失导致尺寸不合格，尤其本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查结构(30)的方法，包括：配置X射线源(12)以发射预定X射线波长的X射线(16)；将所述结构设置于相对于X射线源的多个位置(31)；对于每个位置，使预定X射线波长的X射线的非平行列阵朝向所述结构照射，用于由晶体缺陷(32)衍射来产生衍射X射线(36)的图案(38)；捕获衍射X射线的每个图案；并且互相比较每个捕获到的衍射X射线的图案以定位所述晶体缺陷。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：S·辛赫，A·苏罗米，V·K·托尔皮戈，A·金尼，
申请(专利权)人：霍尼韦尔国际公司，
类型：发明
国别省市：