阵列基板和阵列基板的测试方法、显示装置制造方法及图纸

技术编号:14658859 阅读:92 留言:0更新日期:2017-02-17 00:41
本发明专利技术属于显示技术领域,具体涉及一种阵列基板和阵列基板的测试方法、显示装置。该阵列基板包括至少两个间隔设置的测试点,其中两个所述测试点之间连接设置有接触感应器件,所述接触感应器件能在该两个所述测试点的任一个外加激励信号的作用下发生感应,并在另一个所述测试点上产生反馈信号,以便于根据另一个所述测试点的反馈信号判定探针是否与所述测试点有效接触。该阵列基板及其相应的测试方法能有效避免测试过程中由于用于信号输入的探针脱针或漏针造成设备误检的情况,方便、准确的识别脱针或漏针。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于显示
,具体涉及一种阵列基板和阵列基板的测试方法、显示装置
技术介绍
在平板显示器件(FlatPanelDisplay,简称FPD)产业日益兴旺的今天,随着制备过程中工艺的复杂化和精细化,各种检测(Test)设备、老化(Aging)设备也越来越多。例如点灯测试就是不可缺少的一项检测,而在测试的过程中由于脱针或漏针(PinMiss)造成设备误检的情况时有发生,如何保证测试过程中探针与输入信号的测试点(Pad)正常接触,实现检测设备或老化设备自动识别脱针或漏针已经成为工程师和设备厂商研究的热点。如图1所示为正常的探针压在测试点上的示意图,此时可以进行正常的点灯,进行检测测试和老化测试。为提高效率,目前的检测设备或老化设备基本都将探针组合为一个整体(Block),并在测试过程中直接将产品放置在机台某一特定位置的检测区中,再由机械手(包括若干电机)送到点灯输入信号的位置进行自动化测试。然而,任何电机在长时间运行过程中都会出现位置偏差,检测设备中所有的导轨和丝杠随着使用时间的增长可能存在一定的行程误差,或者由于操作者的初次位置设定(Teaching)异常使得探针整体和产本文档来自技高网...
阵列基板和阵列基板的测试方法、显示装置

【技术保护点】
一种阵列基板,包括至少两个间隔设置的测试点,其特征在于,其中两个所述测试点之间连接设置有接触感应器件,所述接触感应器件能在该两个所述测试点的任一个外加激励信号的作用下发生感应,并在另一个所述测试点上产生反馈信号,以便于根据另一个所述测试点的反馈信号判定探针是否与所述测试点有效接触。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板,包括至少两个间隔设置的测试点,其特征在于,其中两个所述测试点之间连接设置有接触感应器件,所述接触感应器件能在该两个所述测试点的任一个外加激励信号的作用下发生感应,并在另一个所述测试点上产生反馈信号,以便于根据另一个所述测试点的反馈信号判定探针是否与所述测试点有效接触。2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述测试点为多条平行设置的金属条。3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述接触感应器件为电容,所述测试点包括第一测试点和第二测试点,所述电容包括第一极板和第二极板,所述第一极板与所述第一测试点连接,所述第二极板与所述第二测试点连接。4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述第一测试点和所述第二测试点为多个所述测试点中分别位于相对两边沿的、直线距离最大的两个所述测试点。5.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板中包括用于形成薄膜晶体管的多个导电层,所述第一极板和所述第二极板与多个所述导电层中的任两层分别同层设置,该任两层所述导电层中间隔有至少一层绝缘层。6.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-5任一项所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:包珊珊韩约白金鑫鑫白晓鹏赵普查赵锦
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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