显示面板测试系统以及显示面板的测试方法技术方案

本发明专利技术提供一种显示面板测试系统以及显示面板的测试方法，该系统包括转接板、压头、以及显示面板，所述显示面板中增设有第一对位点和以及与第一对位点电性连接的第二对位点，压头上增设有与第一对位点对应的第一对位探针和与第二对位点对应的第二对位探针，转接板内设有薄膜晶体管用于控制测试信号的传输，当第一对位点和第二对位点对位准确时，转接板内的薄膜晶体管将会开启，测试信号才能传输到显示面板中，而第一对位点和第二对位点对位不准时，转接板内的薄膜晶体管将保持截止，测试信号不会传输到显示面板中，能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题，减少对位时间，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板测试系统及显示面板的测试方法。
技术介绍
随着显示技术的发展，液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)及有机发光二极管显示器(OrganicLightEmittingDisplay，OLED)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。通常在显示面板的在生产过程中会设置多个测试环节，来保证显示面板的品质，提升生产效率，其中，在显示面板成盒(Cell)后，会对显示面板进行点亮测试，通过显示简单的画面来检测显示面板的显示品质。目前，为了方便检测，显示面板的玻璃上会设计有一系列的测试点(TestPad)，在这些测试点上输入对应的测试信号就可以产生简单的画面，以进行点亮测试。现有技术中，点亮测试过程通常包括：先将显示面板固定到显示面板固定台(JIG)上，然后将带有探针的压头压合到显示面板上，使得探针与测试点接触，进而将测试信号一一接触输入到显示面板内部的。其中，压头在压合时，需要将探针、及本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板测试系统，其特征在于，包括：显示面板(1)、对应所述显示面板(1)设置的压头(2)、以及与所述压头电性连接的转接板(3)；所述压头(2)上依次排列的有一第一对位探针(21)、数个测试信号探针(23)、一第二对位探针(22)；所述显示面板(1)上设有对应所述第一对位探针(21)设置的第一对位点(TP1)、对应所述第二对位探针(22)设置的第二对位点(TP2)、以及数个与所述测试信号探针(23)一一对应的测试点(CT)，所述第一对位点(TP1)与所述第二对位点(TP2)设于所述显示面板(1)上的走线(11)电性连接；所述转接板(3)内设有信号转接电路，所述信号转接电路包括：一电阻(R)...

【技术特征摘要】
1.一种显示面板测试系统，其特征在于，包括：显示面板(1)、对应所述显示面板(1)设置的压头(2)、以及与所述压头电性连接的转接板(3)；所述压头(2)上依次排列的有一第一对位探针(21)、数个测试信号探针(23)、一第二对位探针(22)；所述显示面板(1)上设有对应所述第一对位探针(21)设置的第一对位点(TP1)、对应所述第二对位探针(22)设置的第二对位点(TP2)、以及数个与所述测试信号探针(23)一一对应的测试点(CT)，所述第一对位点(TP1)与所述第二对位点(TP2)设于所述显示面板(1)上的走线(11)电性连接；所述转接板(3)内设有信号转接电路，所述信号转接电路包括：一电阻(R)、以及数个薄膜晶体管(T)，所述测试信号探针(23)的数量与薄膜晶体管(T)的数量相同；所述电阻(R)一端接入薄膜晶体管关闭信号，另一端经由第一节点(A)电性连接第一对位探针(21)；所述数个薄膜晶体管(T)的栅极均电性连接第一节点(A)，源极分别接入一测试信号，漏极分别电性连接一测试信号探针(23)；所述第二对位探针(22)经由转接板(3)接入薄膜晶体管开启信号；所述薄膜晶体管开启信号与所述薄膜晶体管关闭信号的电位相反；测试时，将所述压头(2)压合到显示面板(1)上，使得所述第一对位探针(21)与所述第一对位点(TP1)对位接触，第二对位探针(22)与所述第二对位点(TP2)对位接触，数个测试信号探针(23)分别与数个测试点(CT)一一对位接触，所述薄膜晶体管开启信号经由走线(11)传输到第一节点(A)，各个薄膜晶体管(T)均打开，测试信号写入显示面板(1)显示测试画面。2.如权利要求1所述的显示面板测试系统，其特征在于，所述压头(2)上设有4个测试信号探针(23)，所述显示面板(1)设有4个测试点(CT)，所述信号转接电路包括4个薄膜晶体管(T)；所述4个薄膜晶体管(T)的源极接入的测试信号分别为：高电位点亮信号(ELH)、低电位点亮信号(ELL)、恒压高电位信号(VGH)、恒压低电位信号(VGL)。3.如权利要求2所述的显示面板测试系统，其特征在于，所述4个薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管，所述薄膜晶体管开启信号为恒压高电位信号(VGH)，所述薄膜晶体管关闭信号为恒压低电位信号(VGL)。4.如权利要求2所述的显示面板测试系统，其特征在于，所述4个薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管，所述薄膜晶体管关闭信号为恒压高电位信号(VGH)，所述薄膜晶体管开启信号为恒压低电位信号(VGL)。5.如权利要求1所述的显示面板测试系统，其特征在于，还包括：显示面板固定台(4)，测试时，所述显示面板(1)固定于所述显示面板固定台(4)上。6.一种显示面板的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供一显示面板测试系统，包括：显示面板(1)、对...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡磊，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42