【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及在抗蚀剂领域等中使用的产碱剂等,更详细而言,本专利技术涉及具有产生胍类、双胍类、磷腈类、鏻类等强碱的性质的硼酸盐系化合物,含有这些化合物而成的产碱剂和含有该产碱剂的碱反应性组合物。
技术介绍
高分子(树脂)用于例如电子部件、光学制品、光学部件的成形材料、层形成材料或粘接剂等。高分子(树脂)由通过使用聚合引发剂使高分子前体(单体)彼此键合而形成高分子链的聚合反应、或使高分子链彼此连结的交联反应而生成,多数情况下其物理性质和化学性质与高分子前体(单体)不同。通过该聚合反应或交联反应,形成分子进行了2维或3维连结的结构,将该现象称为固化,已知例如基于红外线、可见光、紫外线、X射线等光(活性能量射线)敏性的聚合引发剂的固化(以下,有时简称为光固化)、基于热敏性的聚合引发剂的固化(以下,有时简称为热固化)等。固化中使用的聚合引发剂可以根据产生的活性种大致分为自由基产生剂、产酸剂、产碱剂这3组。自由基产生剂是通过光(活性能量射线)的照射、加热产生自由基种的聚合引发剂,以往被广泛使用,但自由基种存在由于空气中的氧而失活、阻碍聚合反应、从而抑制反应这样的缺点。因此,在使用自由基产生剂时,需要阻断空气中的氧等的特别设计。产酸剂是通过光(活性能量射线)的照射、加热产生酸的聚合引发剂,因此不受氧的阻碍,所以自1990年代后半期起有各式各样的产酸剂投入实际应用。但是,所产生的酸有时在固化后也残留于体系内,被指出如下问题:使含有产酸剂的固化性组合物固化后的固化膜由于残留的酸的影响而变性、膜性能降低等问题;由酸导致的对半导体基板上的金属布线的腐蚀性的问题。与此相对,产 ...
【技术保护点】
一种下述通式(A)所表示的化合物,式中,R1表示碳原子数为1~12的烷基;可以经卤原子、碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基或碳原子数为1~6的烷硫基取代的碳原子数为8~16的芳炔基;碳原子数为2~12的烯基;2‑呋喃基乙炔基;2‑硫苯乙炔基;或2,6‑二噻烷基,R2~R4各自独立地表示碳原子数为1~12的烷基;可以经卤原子、碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基或碳原子数为1~6的烷硫基取代的碳原子数为8~16的芳炔基;可以经卤原子、碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基或碳原子数为1~6的烷硫基取代的碳原子数为6~14的芳基;呋喃基;噻吩基;或N‑烷基取代吡咯基,Z+表示具有胍鎓基、双胍鎓基或磷腈鎓基的铵阳离子或鏻阳离子。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.01.24 JP 2014-0117741.一种下述通式(A)所表示的化合物,式中,R1表示碳原子数为1~12的烷基;可以经卤原子、碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基或碳原子数为1~6的烷硫基取代的碳原子数为8~16的芳炔基;碳原子数为2~12的烯基;2-呋喃基乙炔基;2-硫苯乙炔基;或2,6-二噻烷基,R2~R4各自独立地表示碳原子数为1~12的烷基;可以经卤原子、碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基或碳原子数为1~6的烷硫基取代的碳原子数为8~16的芳炔基;可以经卤原子、碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基或碳原子数为1~6的烷硫基取代的碳原子数为6~14的芳基;呋喃基;噻吩基;或N-烷基取代吡咯基,Z+表示具有胍鎓基、双胍鎓基或磷腈鎓基的铵阳离子或鏻阳离子。2.如权利要求1所述的化合物,其中,所述通式(A)中的Z+所表示的具有胍鎓基、双胍鎓基或磷腈鎓基的铵阳离子或鏻阳离子为下述通式(B1)所表示的具有胍鎓基的铵阳离子、下述通式(B2)所表示的具有双胍鎓基的铵阳离子、下述通式(B3)或(B4)所表示的具有磷腈鎓基的铵阳离子、以及下述通式(B5)或(B6)所表示的鏻阳离子,式(B1)中,R5~R8和R10各自独立地表示氢原子、碳原子数为1~12的烷基或氨基,R9表示氢原子、碳原子数为1~12的烷基、氨基或下述式(b1)所表示的基团,可以由R5与R6并且/或者由R7与R10形成碳原子数为2~4的亚烷基,其中,R5~R10中氢原子的数量为0~2,式(B2)中,R11~R15和R18各自独立地表示氢原子或碳原子数为1~12的烷基,R16与R17各自独立地表示氢原子、碳原子数为1~12的烷基、或者可以经硝基、碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为1~6的烷氧基、碳原子数为1~6的烷硫基或碳原子数为2~12的二烷基氨基取代的碳原子数为6~14的芳基,可以由R16与R17形成碳原子数为2~4的亚烷基,其中,R11~R18中氢原子的数量为0~2,式(B3)中,R19表示氢原子或碳原子数为1~12的烷基,Q1~Q3各自独立地表示下述通式(b2)或(b3)所表示的基团,或者由Q1和Q2表示下述通式(b4)所表示的环状结构,其中,与式(B3)中的氮原子键合的氢原子的数量为1~5,式(b2)中,R20和R21各自独立地表示氢原子或碳原子数为1~6的烷基,可以由R20与R21形成碳原子数为2~4的亚烷基,式(b3)中,R22~R27各自独立地表示氢原子或碳原子数为1~6的烷基,式(b4)中,R28和R29各自独立地表示氢原子或碳原子数为1~6的烷基,式(B4)中,Q4~Q9各自独立地表示所述通式(b2)或(b3)所表示的基团,其中,与式中的氮原子键合的氢原子的数量为0~4,式(B5)中,R30表示氢原子或所述通式(b2)或(b3)所表示的基团,R31~R36各自独立地表示氢原子或碳原子数为1~6的烷基,或者可以由R31与R32、由R32与R33、由R34与R35、由R35与R36并且/或者由R33与R36形成碳原子数...
【专利技术属性】
技术研发人员:酒井信彦,筑场康佑,
申请(专利权)人:和光纯药工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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