一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构制造方法及图纸

技术编号:14614245 阅读:130 留言:0更新日期:2017-02-10 01:24
本实用新型专利技术公开了一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,其组成包括底座托盘、预紧夹片和压盖,所述的底座托盘安装在机床主轴的一端,所述的压盖与所述的底座托盘采用活动连接的方式固定,所述的预紧夹片安装在所述的底座托盘的内壁上,所述的底座托盘安装在机床主轴的末端,所述的底座托盘上设有顶紧螺栓孔,所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装有配重块。本实用新型专利技术用于静压主轴回转误差测试,通过调节底座托盘的螺钉,可减小夹结构与主轴之间的装配误差,操作方便成本低。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,属于机械夹具技术超精密测量领域。
技术介绍
机床主轴是机床的关键部件,机床主轴的回转精度决定机床的加工精度,且机床的加工精度越高,机床主轴回转精度占有的比重越大;通过测试主轴的回转误差,可寻找主轴回转误差的来源、预测待加工工件表面的形状以及提高机床的加工精度等等。目前,主轴回转误差测试系统通常由高精度电容或电感位移传感器、标准球和计算机等组成,传感器的性能、标准球的加工精度决定了该种测试系统的测试精度,然而该种测量系统传感器易受环境的干扰,影响最终主轴回转误差测试结果。因此,提出了一种基于动态干涉仪的主轴回转误差测试系统,该种测试方法动态干涉仪作为测量传感器,平晶作为检测基准,通过干涉仪实时采集获取平晶表面三维形貌,通过分析平晶形貌信息获取主轴回转误差,平晶是高精密光学元件。因此,平晶的装夹方式影响着主轴回转测试的测量结果。常用的平晶检测系统由激光干涉仪、平晶装夹结构、计算机以及图像处理软件等软硬件设备组成,由于平晶是高精密光学元件,稍有外力作用在平晶表面都会引起平晶表面三维结构的变化,甚至平晶自身的重力都会引起平晶表面三维形貌的变化,因此在装配待检测平晶时,尽量避免产生装夹结构与平晶产生装夹应力,以免产生的应力破坏平晶表面的三维形貌;那么当平晶在处于回转过程时,将会引入新的干扰因素影响平晶表面三维形貌的测量。根据现有平晶的装夹结构,尚未发现能适用与在动态回转过程中检测平晶平面度的专用夹具。因此,本文设计一种用于回转误差测试装置的平晶装夹结构,该装夹结构具有结构简单、操作方便以及装夹应力小等特点。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有装夹技术存在的不足,提供一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,所述的平晶装夹结构包括底座托盘、预紧夹片和压盖,所述的底座托盘安装在机床主轴的一端,所述的压盖与所述的底座托盘采用活动连接的方式固定,所述的预紧夹片安装在所述的底座托盘的内壁上。所述的底座托盘安装在机床主轴的末端,所述的底座托盘上设有顶紧螺栓孔,所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装有配重块。所述的底座托盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉。所述的底座托盘的内部底面处安装有环形垫圈。所述的预紧夹片的厚度不超过5mm,且表面设有硅胶垫片。所述的预紧夹片的外壁上安装有连接凹槽,底座托盘上安装的无头内六角螺钉与所述的连接凹槽固定连接。所述的压盖具有凹形结构,便于加入硅胶类垫圈。有益效果:1、本技术的底座托盘安装在机床主轴的末端,通过顶紧螺栓孔安装顶紧螺钉进行固定,并在所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装配重块,能够有效防止装夹结构在回转过程中发生偏振。2、本技术的底座托盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉,通过调节螺钉即可调节平晶平面与回转轴线的垂直度,省时便捷。3、本技术的预紧夹片安装在底座托盘的内壁上,通过调节螺钉可装配不同口径的光学平晶,适用性强。4、本技术的预紧夹片表面设有硅胶垫片,能够有效避免光学平晶与夹片刚性接触而破坏平晶表面结构,安全性高。5、本技术的压盖具有凹形结构,便于加入硅胶类垫圈,在调节光学平晶工作平面与回转轴线的垂直度时,能够避免光学平晶与压盖发生刚性接触而破坏平晶表面结构。附图说明图1为本技术的结构示意图;图2为本技术底座托盘的结构示意图;图3为本技术压盖的结构示意图;图4为本技术预紧夹片的结构示意图;图中:1-底座托盘、2-压盖、3-预紧夹片、4-环形垫圈、5-调节螺钉、6-配重块、7-无头内六角螺钉、8-顶紧螺栓孔、9-凹形结构、10-连接凹槽。具体实施方式下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,所述的平晶装夹结构包括底座托盘1、预紧夹片3和压盖2,所述的底座托盘1安装在机床主轴的一端,所述的压盖2与所述的底座托盘1采用活动连接的方式固定,所述的预紧夹片3安装在所述的底座托盘1的内壁上。所述的底座托盘1安装在机床主轴的末端,所述的底座托盘1上设有顶紧螺栓孔8,所述的顶紧螺栓孔8周围均匀分布安装有配重块6。所述的底座托盘1的外部分别设有均匀分布的调节螺钉5。所述的底座托盘1的内部底面处安装有环形垫圈4。所述的预紧夹片3的厚度不超过5mm,且表面设有硅胶垫片。所述的预紧夹片3的外壁上安装有连接凹槽10,底座托盘1上安装的无头内六角螺钉7与所述的连接凹槽10固定连接。所述的压盖2具有凹形结构9,便于加入硅胶类垫圈。上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明,但是本专利并不限于上述实施方式,在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本专利宗旨的前提下做出各种变化。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,其特征在于,所述的平晶装夹结构包括底座托盘、预紧夹片和压盖,所述的底座托盘安装在机床主轴的一端,所述的压盖与所述的底座托盘采用活动连接的方式固定,所述的预紧夹片安装在所述的底座托盘的内壁上。

【技术特征摘要】
1.一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,其特征在于,所述的平晶装夹结构包括底座托盘、预紧夹片和压盖,所述的底座托盘安装在机床主轴的一端,所述的压盖与所述的底座托盘采用活动连接的方式固定,所述的预紧夹片安装在所述的底座托盘的内壁上。
2.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,其特征在于:所述的底座托盘安装在机床主轴的末端,所述的底座托盘上设有顶紧螺栓孔,所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装有配重块。
3.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹结构,其特征在于:所述的底座托盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉。
4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:葛江华张德伟付鹏强任博远
申请(专利权)人:哈尔滨理工大学
类型:新型
国别省市:黑龙江;23

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