用于测量玻璃抛光盘面的测量工具制造技术

本实用新型专利技术公开一种用于测量玻璃抛光盘面的测量工具，该测量工具包括：放置在抛光机的玻璃抛光盘面上的大理石标准平面尺；设置于大理石标准平面尺上的表座，该表座上设有多个相互独立的数显千分表尺，每个数显千分表尺均通过数据传输模块与用于将每个数显千分表尺的测量数据进行显示输出的显示器相连。本实用新型专利技术具有结构简单、工作可靠性高且测量精确的特点，通过多个数显千分表即可准确、直观的对玻璃抛光盘面进行测量，为后续对玻璃抛光盘面进行校准提高了依据，从而通过该玻璃抛光盘面进行抛光加工的玻璃有较高的一次性加工良率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种玻璃抛光机的辅助工具，尤其是涉及一种用于测量玻璃抛光机的玻璃抛光盘面的测量工具。
技术介绍
目前，所有做玻璃抛光的厂家，测量玻璃抛光机的抛光盘面都是将大理石标准平面尺放在盘面上，将丝米铜片放在盘面和大理石标准平面尺中间用手来回拖动确定用铜片的张数，从而确定盘变形情况，再针对性的修复盘面。若盘面不平整则抛光后玻璃平整度超标，甚至抛光玻璃表面产生麻点(表面凹凸点密集)，导致抛光加工不合格。因此，现有技术存在如下缺陷：丝米铜片的不规则和变形测量出来的误差值较大，且人工凭手感确定铜片的张数会进一步加大误差，很难确保机器盘面真正的平整，而盘面不平整时对玻璃抛光加工时会导致一次性合格率低。
技术实现思路
为克服现有技术的缺陷，本技术提出一种用于测量玻璃抛光机的玻璃抛光盘面的测量工具，通过千分表尺辅助大理石标准平面尺校准一起精确测量璃抛光盘面，操作方便且实用。本技术采用如下技术方案实现：一种用于测量玻璃抛光盘面的测量工具，该测量工具包括：放置在抛光机的玻璃抛光盘面上的大理石标准平面尺；设置于大理石标准平面尺上的表座，该表座上设有多个相互独立的数显千分表尺，每个数显千分表尺均通过数据传输模块本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量玻璃抛光盘面的测量工具，其特征在于，该测量工具包括：放置在抛光机的玻璃抛光盘面上的大理石标准平面尺；设置于大理石标准平面尺上的表座，该表座上设有多个相互独立的数显千分表尺，每个数显千分表尺均通过数据传输模块与用于将每个数显千分表尺的测量数据进行显示输出的显示器相连。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量玻璃抛光盘面的测量工具，其特征在于，该测量工具包括：放置在抛光机的玻璃抛光盘面上的大理石标准平面尺；设置于大理石标准平面尺上的表座，该表座上设有多个相互独立的数显千分表尺，每个数显千分表尺均通过数据传输模块与用于将每个数显千分表尺的测量数据进行显示输出的显示器相连。2.根据权利要求1所述用...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨冬华，何雄，
申请(专利权)人：湖北慧点科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42