一种光纤干涉法测折射率的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光纤干涉测量折射率的装置，包括激光器光源，环形器，样品池，光电探测器，解调模块，准直器。样品池的一端装有准直仪，准直器中有10％反射90％透射式透镜，样品池的后端为法拉第旋镜。激光器发出的光经过准直器后变成平行光入射进样品池，并且在后端被法拉第旋镜反射回来。法拉第旋镜避免了样品池内入射光和反射光之间的干涉。准直器的反射光和法拉第旋镜的反射光两路光会发生干涉现象。本实用新型专利技术测量精度高，结构简单易于实现小型化，可以对气体、液体多种样本进行测量，测量折射率的范围广，可以实现数字化自动测量。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光纤干涉法测折射率的装置，通过光纤干涉测量原理对于气体、液体的折射率进行高精度数字化的测量。
技术介绍
目前，传统的测定折射率的方法主要是通过阿贝折射率测量仪，阿贝折射率测量仪主要是通过光的全反射原理，在被测液体和棱镜的表面形成全发射现象，从而以临界角的位置为轴线形成明暗分界的区域，通过探测明暗分界区域的位置来实现对样本的折射率的测量。由于运用全反射的原理，测量折射率的范围受到一定的限制，对于折射率较高或者较低的样品不能够测量。阿贝折射率测量仪由纯物理光学器件搭建，光路搭建和调校困难，仪器整体操作复杂，体积大，不便于实现小型化和数字化测量。阿贝折射率测量仪多用于液体的折射率的测量，对于气体折射率的测量有一定的局限性。辛督强等人(一种基于光纤干涉的液体折射率测量装置，专利号：201520180701.5)报道了一种光纤干涉的液体折射率测量装置，光纤干涉两臂之间没有补偿，外界振动和温度影响会带来附加的光程差，导致测量不准确，装置整体抗干扰能力差，准确度和精确度下降。
技术实现思路
为了克服传统折射率测量仪光路搭建困难，使用操作复杂，不能实现数字化自动测量，测量的折射率范围较小本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤干涉法测折射率的装置，包括激光器(1)、环形器(2)、光纤准直器(3)、进样口(4)、法拉第旋镜(5)、出样口(6)、样品池(7)、光电探测器(8)和解调模块(9)，激光器输出的激光经过环形器入射进样品池，样品池的前端有准直器，准直器中有反射/透射式透镜，样品池的后端有法拉第旋镜，准直器的反射光和法拉第旋镜的反射光会发生干涉现象，环形器的另一端接有光电探测器，可以将光信号转换为电信号再传到解调模块，进行解调后得到相应的折射率数值。

【技术特征摘要】
1.一种光纤干涉法测折射率的装置，包括激光器(1)、环形器(2)、光纤准直器(3)、进样口(4)、法拉第旋镜(5)、出样口(6)、样品池(7)、光电探测器(8)和解调模块(9)，激光器输出的激光经过环形器入射进样品池，样品池的前端有准直器，准直器中有反射/透射式透镜，样品池的后端有法拉第旋镜，准直器的反射光和法拉第旋镜的反射光会发生干涉现象，环形器的另一端接有光电探测器，可以将光信号转换为电信号再传到解调模块，进行解调后得到相应的折射率数值。2.根据权利要求1所述的一种光纤干涉法测折射率的装置，其特征在于：所述的样品池(7)是由透明玻璃制成，长度为250mm，内径为10mm，外径20mm。3.根据权利要求1所述的一种光纤干涉法测折射率的装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：高文智，陈建冬，崔洪亮，李亚，
申请(专利权)人：吉林大学，
类型：新型
国别省市：吉林;22