姿态测量装置自动校正的方法及系统制造方法及图纸

一种姿态测量装置自动校正的方法，包括发射模块、接收模块、处理模块，所述接收模块包括姿态测量装置和接收装置，所述发射模块包括发射装置，所述发射装置可以发射激光面，所述接收模块包括两个光感应装置。与现有技术相比，本发明专利技术利用发射装置发射激光面而接收装置接收不同特征光信号的方式，调整x轴、y轴、z轴角度零点的位置，降低了姿态测量装置的误差累积带来的影响，减少了使用者的不适应感并增加了沉浸感，对于体感操作和虚拟现实有较大的意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及姿态测量领域，更具体地说，涉及一种姿态测量装置自动校正的方法及系统。
技术介绍
姿态测量一般采用姿态测量装置来测量角度信息，姿态测量装置的类型很多，利用三轴地磁解耦和三轴加速度计，受外力加速度影响很大，在运动/振动等环境中，输出方向角误差较大,此外地磁传感器有缺点，它的绝对参照物是地磁场的磁力线,地磁的特点是使用范围大，但强度较低，约零点几高斯，非常容易受到其它磁体的干扰。陀螺仪输出角速度，是瞬时量，角速度在姿态平衡上是不能直接使用，需要角速度与时间积分计算角度，得到的角度变化量与初始角度相加，就得到目标角度，其中积分时间Dt越小，输出角度越精确,但陀螺仪的原理决定了它的测量基准是自身，并没有系统外的绝对参照物，加上Dt是不可能无限小,所以积分的累积误差会随着时间流逝迅速增加，最终导致输出角度与实际不符。
技术实现思路
为了解决当前姿态测量装置累计误差影响角度测量的缺陷，本专利技术提供一种可以消除累计误差的姿态测量装置自动校正的方法及系统。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种姿态测量装置自动校正的方法，包括发射模块、接收模块、处理模块，所述接收模块包括姿态本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种姿态测量装置自动校正的方法，其特征在于，包括发射模块、接收模块、处理模块，所述接收模块包括姿态测量装置和接收装置，所述发射模块包括发射装置，所述发射装置可以发射激光面，所述接收模块包括两个光感应装置，所述姿态测量装置通过以下步骤进行自动校正：S1：所述发射装置发射激光面，所述接收模块处于待机状态；S2：所述接收模块根据所述光感应装置传递的信号判断是否传递校正信息到所述处理模块；S3：所述处理模块根据所述接收模块传递的信息对所述姿态测量装置进行校正。

【技术特征摘要】
1.一种姿态测量装置自动校正的方法，其特征在于，包括发射模块、接收模块、处理模块，所述接收模块包括姿态测量装置和接收装置，所述发射模块包括发射装置，所述发射装置可以发射激光面，所述接收模块包括两个光感应装置，所述姿态测量装置通过以下步骤进行自动校正：S1：所述发射装置发射激光面，所述接收模块处于待机状态；S2：所述接收模块根据所述光感应装置传递的信号判断是否传递校正信息到所述处理模块；S3：所述处理模块根据所述接收模块传递的信息对所述姿态测量装置进行校正。2.根据权利要求1所述的姿态测量装置自动校正的方法，其特征在于，所述接收模块包括手柄，所述手柄包括反光面，所述反光面设置在所述手柄的端部，具有反光及透光的能力，所述光感应装置固定在所述手柄的内部，并朝向所述反光面的方向，激光光线可以在所述反光面的表面发生反射和折射，折射光线可以使所述光感应装置产生响应，存在一个临界角，使在所述反光面发生折射的入射激光的入射角小于所述临界角时，折射光线的强度不足以使所述光感应装置产生响应；当在所述反光面发生折射的入射激光的入射角大于等于所述临界角时，折射光线的强度可以使所述光感应装置产生响应。3.根据权利要求2所述的姿态测量装置自动校正的方法，其特征在于，所述临界角为85°。4.根据权利要求2所述的姿态测量装置自动校正的方法，其特征在于，所述发射装置为光源模组，所述光源模组包括前面板和面激光发射器，所述面激光发射器设置在所述前面板上。5.根据权利要求4所述的姿态测量装置自动校正的方法，其特征在于，所述接收模块根据所述光感应装置传递的信号通过以下步骤判断校正信息：S2.1以所述光源模组为基准建...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴东，
申请(专利权)人：深圳市虚拟现实科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44