一种小径管表面直道缺陷深度测量方法技术

本发明专利技术公开了一种小径管表面直道缺陷深度测量方法，包括以下步骤：1)采用目视检测方法发现待测小径管表面的直道缺陷；2)清理待测小径管表面的铁锈及异物，并选取耦合剂及表面波探头；3)在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并绘制对比试块的距离‑波幅曲线；4)通过表面波探头及超声探伤仪检测待测小径管，并根据检测的结果与步骤3)绘制的距离‑波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量，该方法能够判断出小径管表面的直道缺陷是否大于等于允许的直道缺陷最大深度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于缺陷深度测量
，涉及一种小径管表面直道缺陷深度测量方法。
技术介绍
电站锅炉用受热面管子等小径管常可采用热轧、冷拔(轧)工艺制造，若质量控制不好，会在钢管表面出现直道缺陷，裂纹易在此萌生展，直至钢管泄漏造成非计划停运事故。GB 5310-2008《高压锅炉用无损钢管》的第6.13.1条对冷拔(轧)钢管表面上直道缺陷允许的深度不大于壁厚的4％，且最大为0.2mm；对热轧钢管(挤压)钢管上直道缺陷允许的深度不大于壁厚的5％，且最大为0.4mm。电站锅炉过热器和再热器管子的壁厚为4.5mm～13.5mm，执行GB 5310-2008《高压锅炉用无损钢管》，一般对过热器和再热器用的小径管表面上直道缺陷允许存在直道缺陷最大深度为0.2mm或0.4mm。采用目视检测方法容易发现受热面小径管表面直道缺陷，但是难以确定直到缺陷的深度。因此，需要一种小径管表面直道缺陷深度测量方法，能够检测出小径管表面的直道缺陷是否大于等于允许最大深度，从而判断出小径管表面的质量是否合格。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供了一种小径管表面直道缺陷深度测量方法，该方法能够快速判断出小径管表面的直道缺陷是否大于等于允许的直道缺陷最大深度。为达到上述目的，本专利技术所述的小径管表面直道缺陷深度测量方法包括以下步骤：1)采用目视检测方法发现待测小径管表面的直道缺陷；2)清理待测小径管表面的铁锈及异物，并选取耦合剂及表面波探头，其中，表面波探头中透声楔的底面为与待测小径管表面相配合的凹面；3)在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并往对比试块的表面涂覆耦合剂，然后通过表面波探头及超声探伤仪检测对比试块上的人工线槽，并根据检测的数据绘制距离-波幅曲线；4)在待测小径管的表面涂覆耦合剂，再通过表面波探头及超声探伤仪检测待测小径管，并根据检测的结果与步骤3)绘制的距离-波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量。通过钢丝球清洗待测小径管表面的铁锈及异物，并通过角磨机打磨待测小径管表面的尖锐结构。表面波探头发出的表面波的频率为1.25～5MHz，表面波探头中晶片的数量为1个，晶片为边长为6mm的正方形结构。当待测小径管为冷轧小径管时，人工线槽的深度为2mm；当待测小径管为热轧小径管时，人工线槽的深度为4mm。步骤3)的具体操作为：在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再在对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并往对比试块的表面涂覆耦合剂，然后将表面波探头置于与人工线槽距离为1/4周长的位置，表面波探头产生的表面波经对比试块反射后的波为80％满屏反射波，将该80％满屏反射波作为距离-波幅曲线的起点；将表面波探头置于与人工开槽1/2周长的位置，测量表面波探头产生的表面波经对比试块反射后的波的幅值为a，再将表面波探头置于与人工开槽3/4周长的位置，测量表面波探头产生的表面波经对比试块反射后的波的幅值为b，然后根据与人工线槽距离为1/4周长的位置、1/2周长的位置及3/4周长的位置测量的幅值绘制距离-波幅曲线。步骤4)的具体操作为：目视发现待测小径管的直道缺陷，并在待测小径管的表面标记A点、B点及C点，其中，A点、B点及C点距所述直道缺陷的距离分别为1/4周长、1/2周长及3/4周长，然后在待测小径管的表面涂覆耦合剂；将表面波探头分别置于A点的位置、B点的位置及C点的位置，检测表面波探头产生的表面波经待测小径管表面反射回来的波的幅值，然后根据A点的位置、B点的位置及C点的位置检测的幅值与步骤3)绘制的距离-波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量。本专利技术具有以下有益效果：本专利技术所述的小径管表面直道缺陷深度测量方法在测量时，先截取对比试块，再在对比试块上制作人工线槽，其中，人工线槽的深度为直道缺陷最大充许深度，并通过表面波探头检测对比试块，并绘制对比试块的距离-波幅曲线，然后再通过表面波探头检测待测小径管上的直道缺陷，并采用对比的方法将检测的结果与对比试块的距离-波幅曲线进行对比，即可判断出小径管表面的直道缺陷是否大于等于允许的直道缺陷最大深度，从而判断出该小径管是否合格，操作方便，测量较为准确。附图说明图1为本专利技术绘制的距离-波幅曲线图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术做进一步详细描述：参考图1，本专利技术所述的小径管表面直道缺陷深度测量方法包括以下步骤：1)采用目视检测方法发现待测小径管表面的直道缺陷；2)清理待测小径管表面的铁锈及异物，并选取耦合剂及表面波探头，其中，表面波探头中透声楔的底面为与待测小径管表面相配合的凹面；3)在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并往对比试块的表面涂覆耦合剂，然后通过表面波探头及超声探伤仪检测对比试块上的人工线槽，并根据检测的数据绘制距离-波幅曲线；4)在待测小径管的表面涂覆耦合剂，再通过表面波探头及超声探伤仪检测待测小径管，并根据检测的结果与步骤3)绘制的距离-波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量。通过钢丝球清洗待测小径管表面的铁锈及异物，并通过角磨机打磨待测小径管表面的尖锐结构。表面波探头发出的表面波的频率为1.25～5MHz，表面波探头中晶片的数量为1个，晶片为边长为6mm的正方形结构。当待测小径管为冷轧小径管时，人工线槽的深度为2mm；当待测小径管为热轧小径管时，人工线槽的深度为4mm。步骤3)的具体操作为：在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再在对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并往对比试块的表面涂覆耦合剂，然后将表面波探头置于与人工线槽距离为1/4周长的位置，表面波探头产生的表面波经对比试块反射后的波为80％满屏反射波，将该80％满屏反射波作为距离-波幅曲线的起点；将表面波探头置于与人工开槽1/2周长的位置，测量表面波探头产生的表面波经对比试块反射后的波的幅值为a，再将表面波探头置于与人工开槽3/4周长的位置，测量表面波探头产生的表面波经对比试块反射后的波的幅值为b，然后根据与人工线槽距离为1/4周长的位置、1/2周长的位置及3/4周长的位置测量的幅值绘制距离-波幅曲线。步骤4)的具体操作为：目视发现待测小径管的直道缺陷，并在待测小径管的表面标记A点、B点及C点，其中，A点、B点及C点距所述直道缺陷的距离分别为1/4周长、1/2周长及3/4周长，然后在待测小径管的表面涂覆耦合剂；将表面波探头分别置于A点的位置、B点的位置及C点的位置，检测表面波探头产生的表面波经待测小径管表面反射回来的波的幅值，然后根据A点的位置、B点的位置及C点的位置检测的幅值与步骤3)绘制的距离-波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量。参考图1，当待测小径管检测出来的幅值与位置的点位于距离-波幅曲线下方时，则说明待测小径管表面的直道缺陷深度小于Nmm，即待测小径管合格；当待测小径管检测出来的幅值与位置的点位于距离-波幅曲线上方时，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种小径管表面直道缺陷深度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：1)采用目视检测方法发现待测小径管表面的直道缺陷；2)清理待测小径管表面的铁锈及异物，并选取耦合剂及表面波探头，其中，表面波探头中透声楔的底面为与待测小径管表面相配合的凹面；3)在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并往对比试块的表面涂覆耦合剂，然后通过表面波探头及超声探伤仪检测对比试块上的人工线槽，并根据检测的数据绘制距离‑波幅曲线；4)在待测小径管的表面涂覆耦合剂，再通过表面波探头及超声探伤仪检测待测小径管，并根据检测的结果与步骤3)绘制的距离‑波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量。

【技术特征摘要】
1.一种小径管表面直道缺陷深度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：1)采用目视检测方法发现待测小径管表面的直道缺陷；2)清理待测小径管表面的铁锈及异物，并选取耦合剂及表面波探头，其中，表面波探头中透声楔的底面为与待测小径管表面相配合的凹面；3)在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并往对比试块的表面涂覆耦合剂，然后通过表面波探头及超声探伤仪检测对比试块上的人工线槽，并根据检测的数据绘制距离-波幅曲线；4)在待测小径管的表面涂覆耦合剂，再通过表面波探头及超声探伤仪检测待测小径管，并根据检测的结果与步骤3)绘制的距离-波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量。2.根据权利要求1所述的小径管表面直道缺陷深度测量方法，其特征在于，通过钢丝球清洗待测小径管表面的铁锈及异物，并通过角磨机打磨待测小径管表面的尖锐结构。3.根据权利要求1所述的小径管表面直道缺陷深度测量方法，其特征在于，表面波探头发出的表面波的频率为1.25～5MHz，表面波探头中晶片的数量为1个，晶片为边长为6mm的正方形结构。4.根据权利要求1所述的小径管表面直道缺陷深度测量方法，其特征在于，当待测小径管为冷轧小径管时，人工线槽的深度为2mm；当待测小径管为热轧小径管时，人工线槽的深度为4mm。5.根据权利要求1所述的小径管表面直道缺陷深度测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：张红军，高磊，孟永乐，吕一楠，殷尊，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61