【技术实现步骤摘要】
本技术是涉及测量
,具体的说是涉及一种适用于大尺寸构件的摄影测量长度基准装置。
技术介绍
在船舶、海工、航空等大尺寸构件建造领域,利用摄影测量技术进行三维空间数据采集工作的实施中,需要一种适应于大尺寸构件的长度基准,而现有摄影测量系统自带的固定长度基准尺,其长度较短,摄影测长范围小,其较小的误差将对构件整体造成较大的偏差,导致大尺寸构件的测量精度低,适用性差,从而影响到构件的建造质量。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种适用于大尺寸构件的摄影测量长度基准装置,该装置可以解决大尺寸构件的尺寸测量精确度低、适用性差的问题。为解决上述技术问题,本技术采用的技术方案为:包括基座,所述的基座侧面加工有两个圆形凹槽,两个所述的凹槽中分别固定有一号薄圆柱体磁铁和二号薄圆柱体磁铁,所述的基座顶面开有全站仪标靶轴孔和摄影测量标靶轴孔,全站仪标靶和摄影测量标靶分别安装在全站仪标靶轴孔和摄影测量标靶轴孔中,所述的全站仪标靶由全站仪标靶圆柱体、楔形体和反射片组成,所述的楔形体固定连接在全站仪标靶圆柱体顶端,所述的反射片固定在楔形体斜面上,摄影测量标靶由摄影测量标靶圆柱体、圆环体和摄影标志组成,所述的圆环体固定在摄影测量标靶圆柱体顶端,所述的摄影标志固定在圆环体中心。为优化上述技术,采取的具体措施还包括:所述的一号薄圆柱磁铁和二号薄圆柱磁铁规格相同且与圆形凹槽直径相同,同时薄圆柱磁铁的外侧和基座的表面平齐。所述的反射片为半圆形反射片,表面覆盖有漫反射涂层材料。所述的反射片圆心与全站仪标靶圆柱体顶面圆心重合。所述的摄影标志为圆形,采用回光反射材料制成。所述的摄影标志圆 ...
【技术保护点】
一种适用于大尺寸构件的摄影测量长度基准装置,其特征是:包括基座(1),所述的基座(1)侧面加工有两个圆形凹槽,两个所述的凹槽中分别固定有一号薄圆柱体磁铁(4)和二号薄圆柱体磁铁(4),所述的基座(1)顶面开有全站仪标靶轴孔(2)和摄影测量标靶轴孔(3),全站仪标靶和摄影测量标靶分别安装在全站仪标靶轴孔(2)和摄影测量标靶轴孔(3)中,所述的全站仪标靶由全站仪标靶圆柱体(6)、楔形体(7)和反射片(8)组成,所述的楔形体(7)固定连接在全站仪标靶圆柱体(6)顶端,所述的反射片(8)固定在楔形体(7)斜面上,摄影测量标靶由摄影测量标靶圆柱体(9)、圆环体(10)和摄影标志(11)组成,所述的圆环体(10)固定在摄影测量标靶圆柱体(9)顶端,所述的摄影标志(11)固定在圆环体(10)中心。
【技术特征摘要】
1.一种适用于大尺寸构件的摄影测量长度基准装置,其特征是:包括基座(1),所述的基座(1)侧面加工有两个圆形凹槽,两个所述的凹槽中分别固定有一号薄圆柱体磁铁(4)和二号薄圆柱体磁铁(4),所述的基座(1)顶面开有全站仪标靶轴孔(2)和摄影测量标靶轴孔(3),全站仪标靶和摄影测量标靶分别安装在全站仪标靶轴孔(2)和摄影测量标靶轴孔(3)中,所述的全站仪标靶由全站仪标靶圆柱体(6)、楔形体(7)和反射片(8)组成,所述的楔形体(7)固定连接在全站仪标靶圆柱体(6)顶端,所述的反射片(8)固定在楔形体(7)斜面上,摄影测量标靶由摄影测量标靶圆柱体(9)、圆环体(10)和摄影标志(11)组成,所述的圆环体(10)固定在摄影测量标靶圆柱体(9)顶端,所述的摄影标志(11)固定在圆环体(10)中心。2.根据权利要求1所述的一种适用于大尺寸构件的摄影测量长度基准装置,其特征在于:所述的一号薄圆柱磁铁(4)和二号薄圆柱磁铁(5)规格相同且与圆形凹槽直径相同,同时薄圆柱磁铁的外侧和基座(1)的表面平齐。3.根据权利要求1所述的一种适用于大尺寸构件的摄影测量长度基准装置,其特征在于:所述的反射片(8)为半圆形反射片,表面覆盖有漫反射涂层材料。4....
【专利技术属性】
技术研发人员:梁艳,谢荣,谢易,朱征宇,张亚球,马庆振,李博辰,吴小雨,
申请(专利权)人:江苏海事职业技术学院,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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