微波元件测试装置制造方法及图纸

一种微波元件测试装置，包含一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。在本发明专利技术一实施例中，该第一夹持件经由该第一万向轴承设置于该底板上，因此该第一夹持件在一平面的位置可以微调，以适应待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件，避免电磁波外漏而影响测试结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于微波元件测试领域，特别关于一种微波元件测试装置。
技术介绍
最终产品的测试是产品的品质管制最重要且不可忽略的一环，在面对多样化和以客制化为主的厂商，用于最终产品测试的测试装置必须能够适应不同规格的产品来进行测试，所以在这样的状况下测试装置的可调整性便十分重要。除了测试装置要能适应不同规格的产品而调整之外，产品本身在生产时所造成的尺寸误差在测量时也需要注意。例如，通信产品的导波件是以铸造方式来制作，因此制成的导波件会有较大的生产误差。在测量具有此一导波件的微波元件时，测量装置就要能够容许这样大的误差存在，使其在测量时不至于影响到测量值的正确性。图1是一公知的微波元件测试装置的示意图。微波元件11的测试是由测试接头12与导波管13的组合接收并引导微波元件11所产生的收/发微波信号，被引导的微波信号经由仪器测量并分析以判断微波元件11的功能是否符合规格。为使测试接头12能适应微波元件11的铸造上产生尺寸误差，因此在导波管13的一端设置硅胶14。由于硅胶14的弹性与易变形的特性，使测试接头12得以在一定范围之内做偏移，藉此偏移来容纳微波元件11的尺寸误差。然而，公知的测试装置在使用一段时间后，由于硅胶14的变形，使得测试接头12无法在测试结束后偏移回到中心位置，很容易在下次测试时卡在元件接口15而造成无法测量的状况。此外，以上述的偏移方式所能容纳的制造误差是有限的，微波元件11的尺寸误差过大的话，测试接头12将无法密合元件接口15而使得微波外泄影响到测试结果。
技术实现思路
本专利技术一实施例提供一种微波元件测试装置，包含一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。在本专利技术一实施例中，该第一夹持件经由该第一万向轴承设置于该底板上，因此该第一夹持件在一平面的位置可以微调，以适应待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件，避免电磁波外漏而影响测试结果。于本专利技术一实施例中，该第二夹持件具有一凹部，该第一夹持件设置于该凹部中。于本专利技术一实施例中，该底板具有一第一开孔，且一导波管穿置于该第一开孔中。于本专利技术一实施例中，该第一夹持件夹固该导波管。于本专利技术一实施例中，所述微波元件测试装置还包含一连接模组，经由至少一第一万向轴承设置于该第二夹持件上。于本专利技术一实施例中，该连接模组包含：至少一滑导件；至少一连杆，所述连杆包含一第一端部与一第二端部，其中该第二端部穿置于该滑导件中；以及至少一弹压件，所述弹压件设置于该第二端部，且压抵于该连杆；其中该至少一连杆经由该至少一第一万向轴承连接该第二夹持件。于本专利技术一实施例中，所述微波元件测试装置还包含：一第一移动模组，包含一座体及一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合且沿第一方向移动；以及一第二移动模组，设置于该嵌合座上且可沿第二方向移动，其中该第一方向与该第二方向在平面上是非垂直关系；其中该座体具有至少一开孔，该第二端部设置于该开孔中。于本专利技术一实施例中，该第二移动模组包含：一基板，设置于该嵌合座上；一第一板件，设置于该基板上且具有至少一第一斜边；以及一第二板件，设置于该基板上且具有至少一第二斜边，该第二斜边经配置以与该第一斜边相对移动。于本专利技术一实施例中，该基板具有一凹部，该第二板件具有一凸部，该凸部设置于该凹部內。于本专利技术一实施例中，该基板具有一凸部，该嵌合座具有一凹部，该凸部设置于该凹部內。于本专利技术一实施例中，该座体具有一第一嵌合部，该嵌合座具有一与该第一嵌合部相对应的第二嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌合。本专利技术另一实施例提供一种微波元件测试装置，包含至少一滑导件；至少一连杆，包含一第一端部与一第二端部，其中该第二端部穿置于该滑导件中；至少一万向轴承，设置于该第一端部；以及至少一弹压件，设置于该第二端部，且压抵于该连杆。在本专利技术一实施例中，该弹压件可让该测试接头在一方向做微幅的上下调整以容许待测微波元件在铸造时产生的高度误差。在测试当时，该弹压件受压缩所产生的弹压力，亦可让该测试接头得以紧压该待测微波元件，使得电磁波不外漏而影响测试结果。在本专利技术一实施例中，该微波元件测试装置可通过该至少一第二万向轴承微调在一平面的位置，以适应待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件，避免电磁波外漏而影响测试结果。于本专利技术一实施例中，所述微波元件测试装置还包含一夹持模组，经配置以夹固一导波管，该至少一连杆经由该至少一万向轴承连接该夹持模组。本专利技术另一实施例提供一种微波元件测试装置，包含一第一移动模组及一第二移动模组；该第一移动模组包含一座体及一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合且沿第一方向移动；该第二移动模组设置于该嵌合座上且可沿第二方向移动，其中该第一方向与该第二方向在平面上是非垂直关系。在本专利技术一实施例中，该微波元件测试装置通过该第二移动模组的第二方向与该第一移动模组的第一方向在平面上是非垂直关系，而微调在一平面的位置，以适应该待测微波元件在铸造时产生的水平尺寸误差，使得
该导波管的测试接头紧密接合待测微波元件1，避免电磁波外漏而影响测试结果。于本专利技术一实施例中，该第二移动模组包含：一基板，设置于该嵌合座上；一第一板件，设置于该基板上且具有至少一第一斜边；以及一第二板件，设置于该基板上且具有至少一第二斜边，该第二斜边经配置以与该第一斜边相对移动。于本专利技术一实施例中，该基板具有一凹部，该第二板件具有一凸部，该凸部设置于该凹部內。于本专利技术一实施例中，该基板具有一凸部，该嵌合座具有一凹部，该凸部设置于该凹部內。于本专利技术一实施例中，该座体具有一第一嵌合部，该嵌合座具有一与该第一嵌合部相对应的一第二嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌合。上文已相当广泛地概述本专利技术的技术特征及优点，俾使下文的本专利技术详细描述得以获得较佳了解。构成本专利技术的权利要求标的的其它技术特征及优点将描述于下文。本专利技术所属
中具有通常知识者应了解，可相当容易地利用下文揭示的概念与特定实施例可作为修改或设计其它结构或工艺而实现与本专利技术相同的目的。本专利技术所属
中具有通常知识者亦应了解，这类等效建构无法脱离本专利技术权利要求所界定的本专利技术的精神和范围。附图说明图1是一公知的微波元件测试装置的示意图；图2及图3是本专利技术一实施例的微波元件测试装置的组合示意图；图4是图2的分解示意图；图5是图3的分解示意图；图6及图7是本专利技术一实施例的微波元件测试装置的夹持模组的分解示意图；图8及图9是本专利技术一实施例的微波元件测试装置的连接模组的分解
示意图；图10及第图11是本专利技术一实施例的微波元件测试装置的第一移动模组的分解示意图；图12及图13是本专利技术一实施例的微波元件测试装置的第二移动模组的分解示意图。其中，附图标记说明如下：11 微波元件12 测试接头13 导波管14 硅胶15 元件接口20 微波元件测试装置21 测试接头23 导波管30 夹持模组31 底板31A 开孔31B 开孔33 第一夹持件35 第二夹持件35A 凹部35B 开孔37 第一万向轴承37A 滚珠50 连接模组51 滑动件53 连杆本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微波元件测试装置，包含：一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。

【技术特征摘要】
2015.04.13 TW 1041117491.一种微波元件测试装置，包含：一底板；一第一夹持件，经由至少一第一万向轴承设置于该底板上；以及一第二夹持件，与该第一夹持件以并列夹持的排列方式固定于该底板之上。2.根据权利要求1所述的微波元件测试装置，其特征在于，该第二夹持件具有一凹部，该第一夹持件设置于该凹部中。3.根据权利要求1所述的微波元件测试装置，其特征在于，该底板具有一第一开孔，且一导波管穿置于该第一开孔中。4.根据权利要求3所述的微波元件测试装置，其特征在于，该第一夹持件夹固该导波管。5.根据权利要求1所述的微波元件测试装置，其特征在于，所述微波元件测试装置还包含一连接模组，经由至少一第一万向轴承设置于该第二夹持件上。6.根据权利要求5所述的微波元件测试装置，其特征在于，该连接模组包含：至少一滑导件；至少一连杆，所述连杆包含第一端部与第二端部，其中该第二端部穿置于该滑导件中；以及至少一弹压件，所述弹压件设置于该第二端部，且压抵于该连杆；其中该至少一连杆经由该至少一第一万向轴承连接该第二夹持件。7.根据权利要求5所述的微波元件测试装置，其特征在于，所述微波元件测试装置还包含：一第一移动模组，包含一座体及一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合且沿第一方向移动；以及一第二移动模组，设置于该嵌合座上且可沿第二方向移动，其中该第一方向与该第二方向在平面上是非垂直关系；其中该座体具有至少一开孔，该第二端部设置于该开孔中。8.根据权利要求7所述的微波元件测试装置，其特征在于，该第二移动模组包含：一基板，设置于该嵌合座上；一第一板件，设置于该基板上且具有至少一第一斜边；以及一第二板件，设置于该基板上且具有至少一第二斜边，该第二斜边经配置以与该第一斜边相对移动。9.根据权利要求8所述的微波元件测试装置，其特征在于，该基板具有一...

【专利技术属性】
技术研发人员：余秀文，古世良，
申请(专利权)人：台扬科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71