包含优化的电源的填充物位测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于获取填充至某物中的材料的表面的拓扑的物位指示器，所述物位指示器包括转动天线设备。安装在所述天线设备上的蓄能器在第一时间段内被充电，并且在测量期间供给高频单元所需的能量。因此，在测量过程中无需送至转动传感器部件的无线能量传输，这样测量不会因EMC干扰而失真。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及填充物位测量。更具体地，本专利技术涉及用于连接至填充物位测量装置的天线设备、包括天线设备的填充物位测量装置、天线设备或填充物位测量装置的用于确定液体的粘性的用途、这种类型的天线设备或填充物位测量装置的用于确定输送带上的散装材料的质量流(mass flow)的用途，来以及用于确定填充料或散装材料的表面拓扑(topology)的方法。
技术介绍
例如被用于监测物体领域中的填充物位测量装置和其它测量装置是已知的，并且它们以传输信号的形式发射电磁波或超声波，这些波至少部分地从填充料表面或对应物体反射。接着，可以由测量装置的天线单元接收至少部分被反射的传输信号(测量信号)，并由与其连接的电子器件对所述传输信号进行分析。通过扫描填充料或物体的表面，能够分别确定填充料表面或物体的拓扑。在填充物位测量领域，“拓扑”被理解为表示填充料或散装材料的表面的形状。在这种情况下，可以使用术语“形貌(topography)”。为了向测量装置供给电能并将所获得的数据传输至外部装置，测量装置可以配备有被称为“四线接口”的部件。
技术实现思路
本专利技术的目的在于公开一种能够检测填充料表面的拓扑并产生高质本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于连接至填充物位测量装置(201)的天线设备，所述天线设备包括：天线单元(111)，所述天线单元用于朝向填充料表面发射测量信号，并接收从所述填充料表面反射的所述测量信号；驱动轴(109)，在所述测量信号被发射时，所述驱动轴使所述天线单元绕着驱动轴线转动；第一能量储存器(203)，所述第一能量储存器用于为所述天线设备供给所述天线设备的操作所需的电能，其中，所述天线单元包括辐射体元件的阵列，所述阵列被设计用来发射所述测量信号并接收被反射的所述测量信号，并且，所述第一能量储存器附接至所述天线设备，使得当所述天线单元被所述驱动轴转动时，所述第一能量储存器与所述天线单元一起转动。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于连接至填充物位测量装置(201)的天线设备，所述天线设备包括：天线单元(111)，所述天线单元用于朝向填充料表面发射测量信号，并接收从所述填充料表面反射的所述测量信号；驱动轴(109)，在所述测量信号被发射时，所述驱动轴使所述天线单元绕着驱动轴线转动；第一能量储存器(203)，所述第一能量储存器用于为所述天线设备供给所述天线设备的操作所需的电能，其中，所述天线单元包括辐射体元件的阵列，所述阵列被设计用来发射所述测量信号并接收被反射的所述测量信号，并且，所述第一能量储存器附接至所述天线设备，使得当所述天线单元被所述驱动轴转动时，所述第一能量储存器与所述天线单元一起转动。2.根据权利要求1所述的天线设备，还包括：高频单元(110)，所述高频单元用于生成所述测量信号。3.根据权利要求2所述的天线设备，其中，所述高频单元(110)集成至所述天线单元(111)中，或附接至所述天线单元。4.一种用于确定填充料或散装材料的表面的拓扑的填充物位测量装置(201)，所述填充物位测量装置包括：主体(212)，所述主体具有电源和通信单元(102)和电动马达(103)；根据权利要求1-3中任一项所述的天线设备，其中，所述天线设备的驱动轴(109)被设计成用于连接至所述电动马达。5.根据权利要求4所述的填充物位测量装置(201)，还包括：电源和通信接口(210)，所述电源和通信接口用于将所述电源和通信单元(102)连接至两线线路，通过所述两线线路能够向所述填充物位测量装置供给测量操作所需的能量，并且能够将测量数据传输至远程控制单元(211)。6.根据权利要求4或5所述的填充物位测量装置(201)，还包括：第一定子-转子线圈对(105，120)，所述第一定子-转子线圈对用于从所述主体(212)的所述电源和通信单元(102)向所述天线设备无线地传输对所述第一能量储存器...

【专利技术属性】
技术研发人员：莱温·迪特尔勒，罗兰·韦勒，
申请(专利权)人：VEGA格里沙贝两合公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE