二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具，它包括二极管安装基板和试验电路板，二极管安装基板上设置有若干用以安装被测试二极管的二极管安装管孔，二极管安装基板的一侧边设置有内置若干第一接线端子的卡槽，第一接线端子分别与二极管安装管孔电连接；试验电路板上设置有若干试验电路，试验电路板的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口，卡口上设置有若干第二接线端子，第二接线端子分别与试验电路电连接；试验电路板包括二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板。本实用新型专利技术只需安装一次二极管产品即可完成功率老化和反偏试验，从而实现了产品反偏和功率老化无间隙试验，缩短了产品的筛选试验时间。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种二极管试验夹具，具体地说是一种二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具，属于电子元器件测试装置

技术介绍
随着二极管的使用越来越广泛，二极管的使用环境也各不一样。为了能够满足各种使用环境的要求,需要在生产二极管时对二极管进行筛选试验。筛选试验：是指为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效的产品而进行的试验。通过筛选试验主要是指剔除早期失效的产品而进行的试验，它是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验，通过按照一定的程序施加环境应力，激发出产品潜在的设计和制造缺陷，以便剔除早期失效产品，降低失效率。元器件的筛选一般应由元器件生产方按照军用电子元器件规范或供需双方签订的合同进行。二极管筛选试验中主要包括二极管功率老化试验和二极管反偏试验。一、二极管功率老化试验：功率老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加一定的功率，模拟其工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，然后进行电气参数测量，筛选剔除那些失效或变值的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。功率老化筛选的指导思想是，经过功率老化筛选，有缺陷的元器件会失效，而优质品能够通过，这里必须注意试验方法正确和外加条件适当，否则，可能对参加筛选的元器件造成不必要的损伤。二、二极管反偏试验：二极管反偏试验是使产品在高温下加上反向偏压，这是一种严酷的工作方式，由于高温下漏电流增大，在温度和电场的作用下，质量差的器件就会失效，用这种方法可以判断生产批的质量好坏，尤其是高温性能的水平。目前二极管功率老化﹑反偏试验需要分别采用反偏试验夹具进行反偏试验和采用功率老化试验夹具进行功率老化试验，这种试验方式存在的以下问题：现有的反偏试验夹具是将进行试验的二极管所有管位各串联一个电阻，然后再并联。现有的功率老化试验夹具是将进行试验的二极管所有管位先并联一个电阻和LED指示灯，然后再串联。这种分开设计的反偏和功率老化试验夹具，进行筛选试验的产品需分别安装到反偏试验夹具和功率老化试验夹具上，即一支产品反偏安装一次，功率老化再安装一次，在实际生成过程中，玻封和塑封二极管产品由于其体积小、产品电极极性不明显的特点，在产品功率老化安装和测试方面存在较多的困难，从而使筛选工序工作量非常大，试验夹具也容易损坏，也增加了轴向产品应力损伤。为了加快筛选进度，迫切需要重新设计一种新的反二极管偏和功率老化试验夹具。
技术实现思路
为克服上述现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具，其能够实现低压小电流二极管反偏和功率老化试验的无间隙试验，从而缩短产品的筛选试验时间，也使筛选过程控制变得极为方便。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具，其特征是：包括二极管安装基板和试验电路板，所述二极管安装基板上设置有若干二极管安装管孔，二极管安装基板的一侧边设置有卡槽，所述卡槽内设置有若干第一接线端子，所述的第一接线端子分别与二极管安装管孔电连接；所述二极管安装管孔用以安装被测试二极管；所述试验电路板上设置有若干试验电路，试验电路板的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的
卡口，所述卡口上设置有若干与第一接线端子相对应的第二接线端子，所述的第二接线端子分别与试验电路电连接；所述试验电路板包括二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板。优选地，所述二极管反偏试验电路板上设置有二极管反偏试验电路，所述二极管反偏试验电路与设置在二极管反偏试验电路板一侧边卡口上的第二接线端子电连接。优选地，所述二极管反偏试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的反偏试验电阻，所述的反偏试验电阻的一端并联后与电源电压相连，反偏试验电阻的另一端分别与卡口上的第二接线端子电连接，卡口上其它未与反偏试验电阻连接的第二接线端子并联后接地。优选地，所述二极管功率老化试验电路板上设置有二极管功率老化试验电路，所述二极管功率老化试验电路与设置在二极管功率老化试验电路板一侧边卡口上的第二接线端子电连接。优选地，所述二极管功率老化试验电路包括与二极管安装基板上的被测试二极管数量一致的功率老化试验电阻和LED指示灯，所述的功率老化试验电阻和LED指示灯相互交替组成串联电路，串联电路的一端与电源电压相连，串联电路的另一端接地；一个功率老化试验电阻和一个LED指示灯组成一组测试电路，每组测试电路的两端分别与卡口上的第二接线端子电连接。本技术的有益效果是：本技术提出了一种新的功率老化﹑反偏试验通用夹具，二极管产品只需安装一次即可完成功率老化和反偏试验，从而实现了产品反偏和功率老化无间隙试验，缩短了产品的筛选试验时间，加快了产品的试验进度，也使筛选过程控制变得极为方便。与现有技术相比，本技术主要具有以下优势：1.被测试元器件无需进行二次安装，被测试元器件安装和拆卸的工作量减小一半，提高了工作效率。2.对于轴向产品，由于无需二次安装，减少了由安装和拆卸引起的应力损伤。3.实现了产品在夹具上的测试，提高了测试速度，减少了产品测试所需的周转时间，反偏试验结束后可以快速地进行下一步的功率老化试验。4.由于实现了产品反偏和功率老化的无间隙试验，筛选过程控制变得极为方便，特别对于那些产品数量较大的批次，产品拆成小批次后，这些小批次的产品都能及时完成反偏和功率老化试验，降低了过程中的风险。5.由于无需进行二次安装，实现了产品从初测到终点测试的一一对应，在需要对产品的参数做试验前后对比时就格外容易。附图说明图1是本技术在将二极管安装基板和试验电路板安装在一起进行二极管试验时的结构示意图；图2是本技术将二极管安装基板和试验电路板分开时的结构示意图；图3是本技术的二极管安装基板的结构示意图；图4是本技术的二极管反偏试验电路板的结构示意图；图5是本技术的二极管功率老化试验电路板的结构示意图；图中，1二极管安装基板、11二极管安装管孔、12卡槽、2试验电路板、21卡口、2-1二极管反偏试验电路板、21-1二极管反偏试验电路板卡口、2-2二极管功率老化试验电路板、21-2二极管功率老化试验电路板卡口。具体实施方式为了简化本技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。
应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本技术省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本技术。如图1至图5所示，本技术的一种二极管功率老化﹑反偏试验通用夹具，它包括二极管安装基板1和试验电路板2，所述二极管安装基板1上设置有若干二极管安装管孔11，二极管安装基板1的一侧边设置有卡槽12，所述卡槽12内设置有若干第一接线端子(a11、a12、a13…a1n和b11、b12、b13…b1n)，所述的第一接线端子分别与二极管安装管孔11电连接；所述二极管安装管孔11用以安装被测试二极管(D11、D12、D13…D1n)；所述试验电路板2上设置有若干试验电路，试验电路板2的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口21，所述卡口21上设置有若干与第一接线端子相对应的第二接线端子，所述的第二接线端子分别与试验电路电连接。所述试验电路板2包括二极管反偏试验电路板2-1和二极管功率老化试验电路板2-2。如图4所示，本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是：包括二极管安装基板和试验电路板，所述二极管安装基板上设置有若干二极管安装管孔，二极管安装基板的一侧边设置有卡槽，所述卡槽内设置有若干第一接线端子，所述的第一接线端子分别与二极管安装管孔电连接；所述二极管安装管孔用以安装被测试二极管；所述试验电路板上设置有若干试验电路，试验电路板的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口，所述卡口上设置有若干与第一接线端子相对应的第二接线端子，所述的第二接线端子分别与试验电路电连接；所述试验电路板包括二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板。

【技术特征摘要】
1.二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是：包括二极管安装基板和试验电路板，所述二极管安装基板上设置有若干二极管安装管孔，二极管安装基板的一侧边设置有卡槽，所述卡槽内设置有若干第一接线端子，所述的第一接线端子分别与二极管安装管孔电连接；所述二极管安装管孔用以安装被测试二极管；所述试验电路板上设置有若干试验电路，试验电路板的一侧边设置有与卡槽相对应且相互卡接的卡口，所述卡口上设置有若干与第一接线端子相对应的第二接线端子，所述的第二接线端子分别与试验电路电连接；所述试验电路板包括二极管反偏试验电路板和二极管功率老化试验电路板。2.根据权利要求1所述的二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是：所述二极管反偏试验电路板上设置有二极管反偏试验电路，所述二极管反偏试验电路与设置在二极管反偏试验电路板一侧边卡口上的第二接线端子电连接。3.根据权利要求2所述的二极管功率老化、反偏试验通用夹具，其特征是：所述二极管反偏试验电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝思成，耿宁宁，李兴广，
申请(专利权)人：济南市半导体元件实验所，
类型：新型
国别省市：山东;37