本发明专利技术涉及LED的质量检测技术领域，特别涉及一种LED模组漏电测试方法。该LED模组漏电测试方法包括以下步骤：（1）确定LED模组所用芯片的开启电压；（2）确定LED模组中LED芯片的串并联关系；（3）确定LED模组的最小开启电压；（4）通过LED分光分色设备判断LED模组的开启电压是否大于所有并联支路的最小开启电压，如果大于此值被判定为LED模组漏电符合标准，否则不符合。本发明专利技术方法运用于LED分光设备，解决了LED模组漏电在分光时不能判定的问题，提升了制程效率和产品的可靠性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及LED 的质量检测
，特别涉及一种LED 模组漏电测试方法。
技术介绍
LED( 发光二极管) 作为新一代的照明光源与白炽灯等传统光源相比，具有寿命长、光效高、节能环保等优点，成为近些年来用途极为广泛的光源产品，其应用范围不断大。照明、显示、医疗等领域都对LED 在各种环境条件下的表现提出了严格的要求。LED 漏电流作为影响发光二极管器件性能的重要参数也愈加受到人们的重视。LED的漏电流一般定义为：在LED 两极加上大小为-5V 的反向电压下所测得的微小电流。此时LED 可近似等效为一个PN 结的二极管，其伏安特性与一般的PN 结伏安特性相似，此时所测得的漏电流即为PN 结的反向电流。正常情况下LED 漏电流的大小一般为几个uA 甚至为0uA，最大不超过10uA，LED 漏电流过大会造成暗光、闪烁、死灯等不良现象。如上所述，一般检测LED 漏电流的方法是在LED 的两极加上大小为-5V 的反向电压，再测量通过的电流即为LED 的漏电流。但是，用此方法只能测得单个LED 的漏电流，如果是多个串联、并联的LED 模组或者采用COB 封装形式的LED，则无法检测出存在漏电现象的LED 或者芯片，因此效率较低。
技术实现思路
本专利技术为了弥补现有技术的不足，提供了一种LED 模组漏电测试方法。本专利技术是通过如下技术方案实现的：一种LED 模组漏电测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）确定LED 模组所用芯片的开启电压：根据LED 模组所用芯片的规格书确定该芯片的额定电压和开启电压，记录后备用；（2）确定LED 模组中LED芯片的串并联关系：将LED芯片分别进行标记，标记后绘制LED 模组的电路图，根据绘制的电路图判断各LED芯片的串并联关系，记录后备用；（3）确定LED 模组的最小开启电压：将步骤（2）中绘制的电路中的各并联支路分别标号，然后计算各并联支路中串联LED芯片的总电压，所述总电压为同一并联支路中所有LED芯片开启电压的总和；通过计算后得到各个并联支路的开启电压，取其中最小值为最小开启电压；（4）通过LED分光分色设备判断LED模组的开启电压是否大于所有并联支路的最小开启电压，如果大于此值被判定为LED模组漏电符合标准，否则不符合。其中，步骤（3）中所述LED芯片开启电压在步骤（1）中确定。其中，步骤（4）中LED分光分色设备采用的测试电流为额定电流。其中，额定电流由步骤（1）所述额定电压确定。其中，额定电流为1μA或者10μA。本专利技术的有益效果是：本专利技术方法运用于LED分光设备，解决了LED模组漏电在分光时不能判定的问题，提升了制程效率和产品的可靠性。具体实施方式实施例1：采用一款COB产品，该产品采用三安光电S-27BBMUD芯片和S-30BBHUP的晶片,此产品采用10串5并，每串中采取8pcs S-27BBMUD 和2pcs S-30BBHUPS1：查取S-27BBMUD的规格书，得到其开启电压最小值为2V，额定电流为1μA；查取S-30BBHUP的规格书，得到其开启电压最小值为6.3V，额定电流为1μA；S2：绘制该产品的LED 模组的电路图，得到此产品为包括5个并联支路每个并联支路包括10个串联在一起的LED芯片，其中每条并联支路中包括8pcs S-27BBMUD 和2pcs S-30BBHUP；S3：经计算得：各支路开启电压最小值：2V*8+6.3V*2=30.6V；S4：在LED分光分色设备中增加判定条件：额定电流If=1μA，LED模组的开启电压VF2>30.6V，经测试如果VF2大于30.6V即为合格，否则为不合格。实施例2：采用一款COB产品，该产品采用三安光电S-27BBMUD芯片和S-30BBHUP的晶片；S1：查取S-27BBMUD的规格书，得到其开启电压最小值为2V，额定电流为1μA；查取S-30BBHUP的规格书，得到其开启电压最小值为6.3V，额定电流为1μA；S2：绘制该产品的LED 模组的电路图，得到此产品为包括5个并联支路，第一个并联支路包括5pcs S-27BBMUD和3pcs S-30BBHUP；第二并联支路包括3pcs S-27BBMUD和5pcs S-30BBHUP；其余并联支路包括8pcs S-27BBMUD 和2pcs S-30BBHUP；S3：经计算得：第一个并联支路开启电压：2V*5+6.3V*3=28.9V；第二个并联支路开启电压：2V*3+6.3V*5=37.5V；其余并联支路开启电压：2V*8+6.3V*2=30.6V；则各支路开启电压最小值：28.9V；S4：在LED分光分色设备中增加判定条件：额定电流If=1μA，LED模组的开启电压VF2>28.9V，经测试如果VF2大于28.9V即为合格，否则为不合格。实施例2：采用一款COB产品，该产品采用三安光电S-27BBMUD芯片和S-30BBHUP的晶片；S1：查取S-27BBMUD的规格书，得到其开启电压最小值为2V，额定电流为1μA；查取S-30BBHUP的规格书，得到其开启电压最小值为6.3V，额定电流为1μA；S2：绘制该产品的LED 模组的电路图，得到此产品为包括5个并联支路，第一个并联支路包括5pcs S-27BBMUD和5pcs S-30BBHUP；第二并联支路包括3pcs S-27BBMUD和5pcs S-30BBHUP；其余并联支路包括8pcs S-27BBMUD 和2pcs S-30BBHUP；S3：经计算得：第一个并联支路开启电压：2V*5+6.3V*5=41.5V；第二个并联支路开启电压：2V*3+6.3V*5=37.5V；其余并联支路开启电压：2V*8+6.3V*2=30.6V；则各支路开启电压最小值：30.6V；S4：在LED分光分色设备中增加判定条件：额定电流If=1μA，LED模组的开启电压VF2>30.6V，经测试如果VF2大于30.6V即为合格，否则为不合格。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种LED 模组漏电测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）确定LED 模组所用芯片的开启电压：根据LED 模组所用芯片的规格书确定该芯片的额定电压和开启电压，记录后备用；（2）确定LED 模组中LED芯片的串并联关系：将LED芯片分别进行标记，标记后绘制LED 模组的电路图，根据绘制的电路图判断各LED芯片的串并联关系，记录后备用；（3）确定LED 模组的最小开启电压：将步骤（2）中绘制的电路中的各并联支路分别标号，然后计算各并联支路中串联LED芯片的总电压，所述总电压为同一并联支路中所有LED芯片开启电压的总和；通过计算后得到各个并联支路的开启电压，取其中最小值为最小开启电压；（4）通过LED分光分色设备判断LED模组的开启电压是否大于所有并联支路的最小开启电压，如果大于此值被判定为LED模组漏电符合标准，否则不符合。
【技术特征摘要】
1.一种LED 模组漏电测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）确定LED 模组所用芯片的开启电压：根据LED 模组所用芯片的规格书确定该芯片的额定电压和开启电压，记录后备用；（2）确定LED 模组中LED芯片的串并联关系：将LED芯片分别进行标记，标记后绘制LED 模组的电路图，根据绘制的电路图判断各LED芯片的串并联关系，记录后备用；（3）确定LED 模组的最小开启电压：将步骤（2）中绘制的电路中的各并联支路分别标号，然后计算各并联支路中串联LED芯片的总电压，所述总电压为同一并联支路中所有LED芯片开启电压的总和；通过计算后得到各个并联支路的开启电压，取其中最小值为最小开启电...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱友华，王鹏，童国树，孙金环，
申请(专利权)人：刘成，
类型：发明
国别省市：山东;37
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