图像阵列中的局部化现象的修正制造技术

本发明专利技术公开了补偿显示器件中的局部化现象的方法和系统。显示器包括像素阵列以及控制系统，控制系统用于调整像素阵列的内容数据信号，以补偿阵列中的像素的老化。控制系统经由至少一个像素的读输入部来测量阵列中的所述至少一个像素的参数。控制器通过使用参数确定局部化现象对像素的影响。经由至少一个像素的读输入部来测量阵列中至少一个像素的特性。调整所测量的特性以降低局部化现象的影响。控制器基于经过调整的所测量的特性来计算调整的老化补偿值。将老化补偿值应用至去往至少一个像素的数据内容信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请要求于2013年12月6日提交的美国临时专利申请61/912,926的权益，在这里将该在先申请的全部内容以引用的方式并入本文。
本专利技术涉及诸如用于显示器面板中的半导体阵列之类的半导体阵列，且更具体地涉及用于补偿OLED显示器中的局部化现象的系统。
技术介绍
可通过发光器件阵列来创建显示器，其中每个发光器件由各单独电路(即，像素电路)控制，这些单独电路具有晶体管以用于选择性地控制这些电路被编程有显示信息并根据显示信息发射光。可以将被制造于基板上的薄膜晶体管(TFT)组合到这类显示器中。TFT在显示面板中以及经过一段时间随着显示器的老化呈现出不均匀的性能。可以将补偿技术应用到这类显示器，以实现显示器上的图像一致性并消除显示器中的随着显示器老化的劣化。在一些用于向显示器提供补偿以消除显示器面板中以及随时间的变化的方案中，利用监控系统来测量与像素电路的老化(即，劣化)相关的时间相关参数。接着，使用所测量的信息来通知像素电路的后续编程，以确保可通过对编程进行调整来消除任何所测量的劣化。这种被监控的像素电路可能需要使用额外的晶体管和/或线路以选择性地将像素电路连接到监控系统，并为信息的读取做准备。额外的晶体管和/或线路的组合可能不适宜地降低像素间距(即，像素密度)。另一失真源可能是诸如由像素阵列显示的数据内容、温度影响、屏幕上的压力或入射光之类的局部化现象。例如，过高的局部化温度会导致补偿公式中出现失真的更高的输入数据，这会使对老化影响的修正发生失真。因此，在获得对这种像素的准确老化补偿时，用于像素的输入数据可能需要基于像素显示器上的局部化现象额外地补偿这些影响。
技术实现思路
一个公开示例为一种补偿显示器件中的局部化现象的方法，所述显示器件包括像素阵列以及控制器，所述控制器用于调整所述像素阵列的内容数据信号以补偿所述阵列中的像素的老化。测量所述阵列中的所述像素中的至少一者的参数。通过使用所述参数来确定局部化现象的影响。测量所述阵列中的所述像素中的至少一者的特性。调整所测量的特性以降低所述局部化现象的影响。基于经过调整的所测量的特性来计算调整的老化补偿值。将所述老化补偿值应用至去往所述像素中的至少一者的数据内容信号。另一个公开示例为一种显示器件，所述显示器件包括显示器阵列，所述显示器阵列包括多个像素。所述多个像素均包括用于写入数据内容的写输入部以及读输入部。控制器连接至所述显示器阵列。所述控制器用于经由所述阵列中的所述像素中的至少一者的所述读输入部测量所述像素中的所述至少一者的参数。所述控制器用于通过使用所述参数来确定确定局部化现象对所述像素的影响。所述控制器用于经由所述阵列中的所述像素中的至少一者的读输入部测量所述像素中的所述至少一者的特性。所述控制器用于调整所测量的特性以降低所述局部化现象的影响。所述控制器用于基于经过调整的所测量的特性计算调整的老化补偿值。所述控制器用于将所述老化补偿值应用至去往所述像素中的至少一者的所述写输入部的数据内容信号。对于本领域的普通技术人员来说，在阅读了各实施方式的详细说明之后，本专利技术的其它方面将变得更加清楚。上述详细说明是通过参照附图进行的，接下来将对这些附图进行简单说明。附图说明在阅读以下详细说明并参照附图之后，本专利技术的上述和其它优点将变得更加清楚。图1示出了用于半导体显示器阵列的两种不同的像素架构。图2是原始器件以及老化的且受温度影响的器件的电流与操作电压的关系曲线图。图3是针对显示器内容中的局部化现象由参考像素的测量值之间的插值创建的参考图。图4是示出了包括老化和局部化现象的影响的面板测量的原始结果的参考图。图5是示出了在借助参考像素通过使用简单扣除方法从面板测量的原始结果中移除局部化现象的影响以消除局部化现象的影响之后的老化补偿结果的参考图。图6示出了在半导体显示器阵列中使用的两种具有参考负载的变形像素结构，以用于修正局部化现象。图7是示出了在借助参考负载从面板测量的原始结果中移除局部化现象的影响之后的老化补偿结果的参考图。图8A是包括用于修正局部化现象的参考像素的显示器阵列的框图。图8B是包括可用作参考像素的子像素的像素的框图。图9是用于修正半导体阵列显示器中的局部化现象的方法的流程图。虽然本专利技术可以容易地做出各种变形和替代形式，但在附图中以示例的方式示出了具体实施例并且在本文中详细说明了这些具体实施例。然而，应当理解，本专利技术不限于所披露的特定形式。相反，本专利技术覆盖了落入所附权利要求所限定的本专利技术的精神和范围内的所有变形、等同物和替代形式。具体实施方式图1示出了用于半导体显示器阵列(例如，OLED型显示器中使用的阵列)的两种像素架构。图1示出的第一像素架构100包括驱动电路102和串联连接在电压源(VDD)106与电压源(VSS)108之间的负载104。写入开关110允许来自输入线路112的数据被编程至驱动电路102。读取开关114允许监控线路116读取驱动电路102的输出。在本示例中，负载104是被像素驱动的负载或是使内部像素电路复位的负载。驱动电路102是向显示器阵列中的像素提供功率的电路的驱动部或放大部。图1还示出的第二像素架构150包括驱动电路152和串联连接在电
压源(VDD)156与电压源(VSS)158之间的负载154。写入开关160允许来自输入线路162的数据被编程至驱动电路152。读取开关164允许监控线路166读取驱动电路152的输出。在本示例中，负载154是被像素驱动的负载或是使内部像素电路复位的负载。驱动电路152是向显示器阵列中的像素提供功率的电路的驱动部或放大部。在像素架构100和150二者中，各个输入线路112和162和监控线路116和166连接至控制器，控制器通过由写入开关110和160控制的输入线路112、162对相应像素进行编程，并通过由读取开关114和164控制的监控线路116和166对相应像素进行监控。在本示例中，被驱动器102和152驱动的像素是有机发光器件(OLED)，有机发光器件可以包括诸如具有可随时间变化的操作特性的薄膜晶体管之类的部件。一种用于延长半导体阵列使用寿命和/或改善阵列一致性的方法是针对老化对OLED的影响进行外部补偿。在本示例中，通过控制器测量显示器阵列的底板和负载输入特性，并使用所述底板和负载特性数据来针对OLED的使用寿命和一致性进行补偿。一些取决于由阵列显示的内容或取决于局部化环境问题的局部化现象影响可在基于所测量的输入特性数据的影响的老化补偿函数中引起偏差。例如，当将半导体阵列用于显示器件时，像素上所显示的内容能够影响整个显示器上的电压分布或局部化温度。因此，如果在显示不同内容期间测量底板和负载特性，所测量的特性会因局部化现象而出现差异。在这种情况下，补偿是以特性的累积变化为基础的，且因而补偿由于不同内容的局部化显示而随时间出现偏差并导致误差。局部化现象的另一示例可能是阵列中的某些像素的升高的温度，例如显示器的一部分暴露于日光。因日光而升高的温度可影响暴露于日光的区域中的像素的电压分布或局部化温度，并因此所测量的输入特性对于这些像素来说将出现差异。类似于内容影响，此补偿也是以特性的累积变化为基础的，且因此此补偿由于局部化温度影响而会随时间出现偏差并本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种补偿显示器件中的局部化现象的方法，所述显示器件包括像素阵列和控制器，所述控制器用于调整所述像素阵列的内容数据信号以补偿所述阵列中的像素的老化，所述方法包括：测量所述阵列中的所述像素中的至少一者的参数；使用所述参数来确定所述局部化现象的影响；测量所述阵列中的所述像素中的至少一者的特性；调整所测量的特性以降低所述局部化现象的影响；基于经过调整的所测量的特性来计算调整的老化补偿值；并且将所述老化补偿值应用至去往所述像素中的至少一者的数据内容信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.12.06 US 61/912,9261.一种补偿显示器件中的局部化现象的方法，所述显示器件包括像素阵列和控制器，所述控制器用于调整所述像素阵列的内容数据信号以补偿所述阵列中的像素的老化，所述方法包括：测量所述阵列中的所述像素中的至少一者的参数；使用所述参数来确定所述局部化现象的影响；测量所述阵列中的所述像素中的至少一者的特性；调整所测量的特性以降低所述局部化现象的影响；基于经过调整的所测量的特性来计算调整的老化补偿值；并且将所述老化补偿值应用至去往所述像素中的至少一者的数据内容信号。2.如权利要求1所述的方法，其中，所述像素中的至少一者是参考像素，并且其中，确定所述局部化现象的影响的步骤包括比较所述参考像素的所测量的参数与靠近所述参考像素的至少一个像素的所测量的同一参数。3.如权利要求2所述的方法，其中，所述参考像素包括用于接收数据内容信号的第一子像素以及不与数据内容信号连接的第二子像素，其中，从所述第二子像素中测量所述参考像素的所述参数。4.如权利要求3所述的方法，其中，所述第一子像素代替所述第二子像素来生成数据内容。5.如权利要求2所述的方法，其中，所述参考像素的所述参数被插值，以用于与靠近所述参考像素的所述至少一个像素的所测量的同一参数进行比较。6.如权利要求1所述的方法，其中，所述像素中的所述至少一者包括参考负载，并且其中，确定所述局部化现象的影响的步骤包括比较所
\t述参考负载的所测量的参数与所述像素中的所述至少一者的同一参数。7.如权利要求6所述的方法，其中，所述参考负载的所测量的参数被插值，以用于与靠近包括所述参考负载的像素的另一像素的同一参数进行比较。8.如权利要求1所述的方法，其中，确定所述局部化现象的影响的步骤包括输入模型中的一个点处的所测量的参数和另一点处的所测量的参数以计算所述局部化现象的影响。9.如权利要求1所述的方法，其中，确定所述局部化现象的影响的步骤包括对所测量的参数中的快速变化进行滤波。10.如权利要求1所述的方法，其中，所述局部化现象是所述像素根据数据内容信号显示的内容。11.如权利要求1所述的方法，其中，局部化现象是温度。12.一种显示器件，其包括：显示器阵列，其包括多个像...

【专利技术属性】
技术研发人员：戈尔拉玛瑞扎·恰吉，迈赫迪·托巴蒂安，
申请(专利权)人：伊格尼斯创新公司，
类型：发明
国别省市：加拿大;CA