用于OLED显示器退化的补偿系统和方法技术方案

所公开的是用于补偿显示器OLED退化的系统和方法。基于灰度级、温度和时间对用于每个子像素的OLED退化的校正因子k进行建模和跟踪，并将校正因子k用于对提供给OLED显示器的图像数据进行校正。图像数据进行校正。图像数据进行校正。

【技术实现步骤摘要】
用于OLED显示器退化的补偿系统和方法


[0001]本公开涉及用于发光视觉显示技术的图像校正，尤其涉及用于校正有源矩阵有机发光二极管器件(AMOLED)显示器的图像的有机发光器件(OLED)退化补偿系统和方法。

技术介绍

技术实现思路

[0002]根据第一方面，提供了一种对安装在主机设备中的显示面板模块的像素的退化进行补偿的方法；其中每个像素包括发光器件；该方法包括：在显示面板模块的操作期间，对针对每个像素的图像数据的灰度级数据进行采样，并对每个像素对应的温度数据进行采样；根据与针对每个像素的所述灰度级数据和所述温度数据的函数关系来确定针对每个像素的更新后的校正因子；将针对每个像素的校正因子应用到针对所述像素的所述图像数据上，生成校正的图像数据用于通过所述显示面板模块进行显示。
[0003]一些实施例进一步提供了将更新后的校正因子存储在主机设备或显示面板模块中的非易失性存储器中。在一些实施例中，在每次确定更新后的校正因子时，将更新后的校正因子存储在非易失性存储器中。在一些实施例中，紧接在主机设备关闭之前，将更新后的校正因子存储在非易失性存储器中。
[0004]一些实施例进一步提供了将针对每个子像素的更新后的校正因子存储在主机设备或显示面板模块中的易失性存储器中。在一些实施例中，将针对每个子像素的更新后的校正因子存储在易失性存储器中的查找表中。
[0005]在一些实施例中，还根据与采样时间段的函数关系来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0006]在一些实施例中，将针对每个子像素的更新后的校正因子确定为每个子像素的采样的灰度级数据的第一函数、采样时间段的第二函数和采样的温度数据的第三函数的乘积之和。
[0007]在一些实施例中，使用查找表、采样的灰度级数据、采样时间段和采样的温度数据来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0008]根据另一方面提供一种设备，包括：显示面板模块、图像数据块、主机处理单元和补偿块。
[0009]显示面板模块包括：显示面板，其包括多个像素，每个像素包括发光器件、显示处理单元、显示器非易失性存储器和显示器易失性存储器。
[0010]图像数据块用于向显示面板提供图像数据。
[0011]主机处理单元包括：主机非易失性存储器和主机易失性存储器。
[0012]主机处理单元被配置用于：针对每个像素，将表示像素退化的校正因子存储在主机非易失性存储器中；在显示面板工作期间，针对每个像素对从图像块接收的图像数据的灰度级数据进行采样，以及对从显示面板接收的与像素对应的温度数据进行采样；以及根
据与针对每个像素的采样的灰度级数据和温度数据的函数关系来确定针对每个像素的更新后的校正因子。
[0013]补偿块用于将针对每个像素的更新后的校正因子应用于从图像数据块接收的针对像素的图像数据，并生成校正的图像数据以供显示面板显示。
[0014]在一些实施例中，主机非易失性存储器或显示器非易失性存储器还用于存储更新后的校正因子。在一些实施例中，主机非易失性存储器或显示器非易失性存储器还用于在每次确定更新后的校正因子时存储更新后的校正因子。在一些实施例中，主机非易失性存储器或显示器非易失性存储器还用于紧接在主机设备关机之前存储更新后的校正因子。
[0015]一些实施例还提供了用于存储针对每个子像素的更新后的校正因子的主机易失性存储器或显示器易失性存储器。在一些实施例中，将针对每个子像素的更新后的校正因子存储在主机易失性存储器或显示器易失性存储器中的查找表中。
[0016]在一些实施例中，处理单元根据OLED退化模型确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0017]在一些实施例中，处理单元还根据与采样时间段的函数关系来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0018]在一些实施例中，处理单元将针对每个子像素的更新后的校正因子确定为每个子像素的采样的灰度级数据的第一函数、采样时间段的第二函数和采样的温度数据的第三函数的乘积之和。
[0019]在一些实施例中，处理单元使用查找表、采样的灰度级数据、采样时间段和采样的温度数据来确定针对每个子像素的更新后的校正因子。
[0020]在一些实施例中，其中处理单元包括主机设备的图形处理单元(GPU)或中央处理单元(CPU)。
[0021]鉴于结合附图对各种实施例和/或方面的详细描述，本公开的前述和其他的方面以及实施例对于本领域技术人员将是明显的，下面将给出简要的附图说明。
附图说明
[0022]通过阅读以下详细描述并参考附图，本公开的前述和其他优点将变得清楚明确。
[0023]图1示出了应用于本公开的退化补偿系统和方法的一个示例显示系统，并且该示例显示系统的像素通过本公开的退化补偿系统和方法进行校正。
[0024]图2为根据一个实施例的OLED退化补偿系统的示意框图。
[0025]图3为根据另一实施例的OLED退化补偿系统的示意框图。
[0026]已经通过附图中的示例示出了具体的实施例或实施方式，并且在本文中将对其进行详细描述，然而本公开易于进行各种修改和替代形式。应当理解的是，本公开不旨在限于所公开的具体形式，而是本公开包含所有落入由所附权利要求限定的本专利技术的精神和范围内的修改、等价和替代形式。
具体实施方式
[0027]OLED器件是发光二极管(LED)，其中发光电致发光层是有机化合物薄膜，该有机化合物薄膜响应于电流而发光。这层有机层位于两个电极之间。通常，这些电极中的至少一个
是透明的。与传统的液晶显示器(LCD)相比，有源矩阵有机发光器件(AMOLED)显示器具有更低的功耗、制造灵活性、更快的响应时间、更大的视角、更高的对比度、更轻的重量以及对柔性基板的适应性。AMOLED显示器可在无背光源的情况下工作，这是因为它会发出可见光，并且每个像素都由独立发光的不同颜色的OLED组成。OLED面板可以显示深黑级，并且可以比LCD显示器薄。
[0028]LED和AMOLED显示器通常需要某种形式的图像校正后加工。所有的LED和AMOLED显示器(无论采用何种背板技术)均在像素间呈现出亮度差异，这主要是由于工艺或构造上的不均等，或者是由于长期的操作使用而导致的老化所致。显示器中的亮度不均匀性也可能是由LED和OLED材料本身在化学和性能上的自然差异而引起的。这些不均匀性必须由LED和AMOLED显示器电子器件管理，以使显示设备达到商业上可接受的性能水平，以供大众市场使用。
[0029]为了促进图像校正，对于给定的单一化(singularization)之后的显示器，还可以使用诸如像素内补偿(IPC)或电测量或IPC补偿和电测量两者的组合的方法来获取校正数据。然后将校正数据作为初始校正数据存储在显示系统和最终产品中的非易失性存储器(NVM)芯片上，以用于当出现进一步退化时进行后续处理和更新。
[0030]虽然本文描述的实施例将是在AMOLED显示器的背景下，但应理解的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于补偿安装在主机设备中的显示面板模块的像素的退化的方法，其中每个像素包括发光器件，所述方法包括：在所述显示面板模块工作期间，对针对每个像素的图像数据的灰度级数据进行采样，并且对每个像素对应的温度数据进行采样；根据与针对每个像素的所述灰度数据和所述温度数据的函数关系来确定针对每个像素的更新后的校正因子；和将针对每个像素的所述校正因子应用于针对所述像素的所述图像数据，生成校正的图像数据以供所述显示面板模块显示。2.根据权利要求1所述的方法，其中，根据与采样时间段的函数关系来进一步确定针对每个像素的所述更新后的校正因子。3.根据权利要求2所述的方法，其中，将针对每个像素的所述更新后的校正因子确定为每个像素的所述灰度级数据的第一函数、所述采样时间段的第二函数和所述温度数据的第三函数的乘积之和。4.根据权利要求1所述的方法，所述方法进一步包括：针对每个像素，将表示像素退化的初始校正因子存储在非易失性存储器中。5.根据权利要求1所述的方法，所述方法进一步包括：将所述更新后的校正因子存储在非易失性存储器中。6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述显示模块包括所述非易失性存储器。7.根据权利要求5所述的方法，其中，所述主机设备包括所述非易失性存储器。8.根据权利要求5所述的方法，其中，每次确定所述更新后的校正因子时，将所述更新后的校正因子存储在所述非易失性存储器中。9.根据权利要求5所述的方法，其中，当所述主机设备断电时，将所述更新后的校正因子存储在所述非易失性存储器中。10.根据权利要求5所述的方法，所述方法进一步包括：将针对每个像素的所述更新后的校正因子存储在所述显示模块中的易失性存储器中的查找表中。11.根据权利要求5所述的方法，所述方法进一步包括：将针对每个像素的所述更新后的校正因子存储在所述主机设备中的易失性存储器中的查找表中。12.一种设备，包括：显示面板模块，其包括：显示面板，所述显示面板包括多个像素，每个像素包括发光器件；显示处理单元；显示器非易失性存储器；和显示器易失性存储器；图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐舒俊，何俊虎，刘彤，加布里埃尔，
申请(专利权)人：伊格尼斯创新公司，
类型：发明
国别省市：