【技术实现步骤摘要】
本公开一般地涉及发光视觉显示技术的光学测量和校准，并且特别地，涉及用于有源矩阵有机发光二极管装置(amoled)和其它发射显示器的光学校准系统的面板像素定位校准。
技术介绍
技术实现思路
1、根据第一方面，提供了一种光学校正方法，用于校正具有像素的显示面板上的图像的显示，每个所述像素含有发光器件，所述方法包括：在所述显示面板的前方布置相机；在所述显示面板上显示一个或多个校准图案，同时使用所述相机拍摄所述校准图案的一个或多个校准图像，所述一个或多个校准图案包括粗略特征的间隔图案和精细特征的间隔图案，所述粗略特征的间距大于所述精细特征的间距；从所述校准图像中的所述粗略特征的图像生成所述校准图像内的面板像素定位的粗略估计；利用所述粗略估计在所述校准图像内定位所述精细特征的图像；从所述校准图像中所述精细特征的被定位的所述图像生成所述校准图像内的面板像素定位的高分辨率估计，所述高分辨率估计具有比所述粗略估计更高的精度；和使用所述高分辨率估计生成用于校正所述显示面板中显示的图像的校正数据。
2、在一些实施例中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且其中所述一个或多个校准图像包括单个图像。
3、在一些实施例中，所述粗糙特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开。在一些实施例中，所述精细特征遍布于所述一个或多个校准图案中。在一些实施例中，各所述精细特征包括前景色的像素，并且各所述粗糙特征包括被背景色的区域包围的前景色的像素，所述区域没有其他粗糙特征或精细特征。
4、在一
5、在一些实施例中，所述生成所述粗略估计包括：定位所述一个或多个校准图像中的所述粗糙特征的图像；识别与所述粗略特征的所述图像相对应的所述一个或多个校准图案的所述粗略特征；和从所述一个或多个校准图像中的所述粗略特征的所述图像的定位和所述一个或多个校准图案中的所述粗略特征的已知定位生成面板像素定位与校准图像像素定位之间的粗略映射，所述定位所述精细特征的图像包括：使用所述粗略估计和所述一个或多个校准图案中的所述精细特征的已知定位估计所述精细特征的图像在所述一个或多个校准图像内的预期定位，以及所述生成所述高分辨率估计包括：识别与所述精细特征的所述图像相对应的所述一个或多个校准图案的所述精细特征；和从所述一个或多个校准图像中的所述精细特征的所述图像的定位和所述一个或多个校准图案中的所述精细特征的已知定位生成面板像素定位与校准图像像素定位之间的高分辨率映射。
6、在一些实施例中，识别与所述精细特征的所述图像相对应的所述一个或多个校准图案的所述精细特征包括：对于精细特征的图像的各预期定位，确定所述一个或多个校准图像中的位于距离阈值内的最近的精细特征的图像。
7、在一些实施例中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且所述一个或多个校准图像包括单个图像，其中，所述粗略特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开，并且所述粗略特征包括被背景色的正方形区域包围的前景色的单个像素，所述正方形区域不存在其他粗略特征或精细特征，其中，所述精细特征遍布于所述单个校准图案中，并且各所述精细特征包括前景色的单个像素，并且其中，所述粗略估计包括第一2d多项式函数，所述高分辨率估计包括第二2d多项式函数，并且所述第二2d多项式函数的阶数大于所述第一2d多项式函数的阶数。
8、在一些实施例中，所述生成所述粗略估计包括：定位所述单个校准图像中的所述粗糙特征的图像；识别与所述粗略特征的所述图像相对应的所述单个校准图案的所述粗略特征；和从所述单个校准图像中的所述粗略特征的所述图像的定位和所述单个校准图案中的所述粗略特征的已知定位生成面板像素定位与校准图像像素定位之间的粗略映射，所述定位所述精细特征的图像包括：使用所述粗略估计和所述单个校准图案中的所述精细特征的已知定位估计所述精细特征的图像在所述单个校准图像内的预期定位，以及所述生成所述高分辨率估计包括：对于精细特征的图像的每个预期定位，确定所述单个校准图像中的位于距离阈值内的最近的精细特征的图像，以识别与所述精细特征的所述图像相对应的所述单个校准图案的所述精细特征；和从所述单个校准图像中的所述精细特征的所述图像的定位和所述单个校准图案中的所述精细特征的已知定位生成面板像素定位与校准图像像素定位之间的高分辨率映射。
9、根据第二广泛方面，提供了一种光学校正系统，用于校正具有像素的显示面板上的图像的显示，各所述像素具有发光器件，所述系统包括：设置在所述显示面板前方的相机；光学处理电路，其耦接至所述相机，所述相机适于：在所述显示面板上显示一个或多个校准图案，同时用所述相机拍摄所述校准图案的一个或多个校准图像，所述一个或多个校准图案包括粗略特征的间隔图案和精细特征的间隔图案，所述粗略特征的间距大于所述精细特征的间距；从所述校准图像中的所述粗略特征的图像生成所述校准图像内的面板像素定位的粗略估计；使用所述粗略估计定位所述校准图像内的所述精细特征的图像；从所述校准图像中的所述精细特征的被定位的所述图像生成所述校准图像内的面板像素定位的高分辨率估计，所述高分辨率估计具有比所述粗略估计更高的精度；和使用所述高分辨率估计生成用于校正所述显示面板中显示的图像的校正数据。
10、在一些实施例中，所述光学处理电路适于通过下述步骤生成所述粗略估计：定位所述一个或多个校准图像中的所述粗糙特征的图像；识别与所述粗略特征的所述图像相对应的所述一个或多个校准图案的所述粗略特征；和从所述一个或多个校准图像中的所述粗略特征的所述图像的定位和所述一个或多个校准图案中的所述粗略特征的已知定位生成面板像素定位与校准图像像素定位之间的粗略映射，并且，所述光学处理电路适于通过下述步骤定位所述精细特征的图像：使用所述粗略估计和所述一个或多个校准图案中的所述精细特征的已知定位估计所述精细特征的图像在所述一个或多个校准图像内的预期定位，并且，所述光学处理电路适于通过下述步骤生成所述高分辨率估计：识别与所述精细特征的所述图像相对应的所述一个或多个校准图案的所述精细特征；和从所述一个或多个校准图像中的所述精细特征的所述图像的定位和所述一个或多个校准图案中的所述精细特征的已知定位生成面板像素定位与校准图像像素定位之间的高分辨率映射。
11、在一些实施例中，所述光学处理电路适于通过下述步骤识别与所述精细特征的所述图像相对应的所述一个或多个校准图案的所述精细特征：对于精细特征的图像的每个预期定位，确定所述一个或多个校准图像中的位于距离阈值内的最近的精细特征的图像。
12、在一些实施例中，所述光学处理电路适于通过下述步骤生成所述粗略估计：定位所述单个校准图像中的所述粗糙特征的图像；识别与所述粗略特征的所述图像相对应的所述单个校准图案的所述粗略特征；和从所述单个校准图像中的所述粗略特征的所述图像的定位和所述单个校准图案中的所述粗略特征的已知定位本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种光学校正方法，用于校正具有像素的显示面板上的图像的显示，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，使用所述校准图像中的所述粗略特征的图像在所述校准图像内定位所述精细特征的图像还包括：
3.根据权利要求2所述的光学校正方法，其中，使用所述精细特征的被定位的所述图像生成用于校正所述显示面板中显示的图像的校正数据还包括：
4.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且其中，所述一个或多个校准图像包括单个图像。
5.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述粗略特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开。
6.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述精细特征遍布于所述一个或多个校准图案中。
7.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，各所述精细特征包括前景色的像素，并且各所述粗略特征包括被背景色的区域包围的前景色的像素，所述区域没有其他粗略特征或精细特征。
8.根据权利要求3所述的光学校正方法，其中，所述粗略估计包括第一2D多项式函数
9.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且所述一个或多个校准图像包括单个校准图像，其中，所述粗略特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开，并且所述粗略特征包括被背景色的正方形区域包围的前景色的单个像素，所述正方形区域不存在其他粗略特征或精细特征，其中，所述精细特征遍布于所述单个校准图案中，并且各所述精细特征包括前景色的单个像素。
10.根据权利要求9所述的光学校正方法，其中，使用所述校准图像中的所述粗略特征的图像在所述校准图像内定位所述精细特征的图像还包括：
11.一种光学校正系统，用于校正具有像素的显示面板上的图像的显示，所述系统包括：
12.根据权利要求11所述的光学校正系统，其中，所述光学处理电路还适于通过下述步骤，使用所述校准图像中的所述粗略特征的图像在所述校准图像内定位所述精细特征的图像：
13.根据权利要求12所述的光学校正系统，其中，所述光学处理电路还适于通过下述步骤，使用所述精细特征的被定位的所述图像生成用于校正所述显示面板中显示的图像的校正数据：
14.根据权利要求11所述的光学校正系统，其中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且其中，所述一个或多个校准图像包括单个图像。
15.根据权利要求11所述的光学校正系统，其中，所述粗略特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开。
16.根据权利要求11所述的光学校正系统，其中，所述精细特征遍布于所述一个或多个校准图案中。
17.根据权利要求11所述的光学校正系统，其中，各所述精细特征包括前景色的像素，并且各所述粗略特征包括被背景色的区域包围的前景色的像素，所述区域没有其他粗略特征或精细特征。
18.根据权利要求13所述的光学校正系统，其中，所述粗略估计包括第一2D多项式函数，所述高分辨率估计包括第二2D多项式函数，所述第二2D多项式函数的阶数大于所述第一2D多项式函数的阶数。
19.根据权利要求11所述的光学校正系统，其中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且所述一个或多个校准图像包括单个校准图像，其中，所述粗略特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开，并且所述粗略特征包括被背景色的正方形区域包围的前景色的单个像素，所述正方形区域不存在其他粗略特征或精细特征，其中，所述精细特征遍布于所述单个校准图案中，并且各所述精细特征包括前景色的单个像素。
20.根据权利要求19所述的光学校正系统，其中，所述光学处理电路还适于：
...【技术特征摘要】
1.一种光学校正方法，用于校正具有像素的显示面板上的图像的显示，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，使用所述校准图像中的所述粗略特征的图像在所述校准图像内定位所述精细特征的图像还包括：
3.根据权利要求2所述的光学校正方法，其中，使用所述精细特征的被定位的所述图像生成用于校正所述显示面板中显示的图像的校正数据还包括：
4.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且其中，所述一个或多个校准图像包括单个图像。
5.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述粗略特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开。
6.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述精细特征遍布于所述一个或多个校准图案中。
7.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，各所述精细特征包括前景色的像素，并且各所述粗略特征包括被背景色的区域包围的前景色的像素，所述区域没有其他粗略特征或精细特征。
8.根据权利要求3所述的光学校正方法，其中，所述粗略估计包括第一2d多项式函数，所述高分辨率估计包括第二2d多项式函数，所述第二2d多项式函数的阶数大于所述第一2d多项式函数的阶数。
9.根据权利要求1所述的光学校正方法，其中，所述一个或多个校准图案包括单个校准图案，并且所述一个或多个校准图像包括单个校准图像，其中，所述粗略特征与所述一个或多个校准图案的边缘间隔开，并且所述粗略特征包括被背景色的正方形区域包围的前景色的单个像素，所述正方形区域不存在其他粗略特征或精细特征，其中，所述精细特征遍布于所述单个校准图案中，并且各所述精细特征包括前景色的单个像素。
10.根据权利要求9所述的光学校正方法，其中，使用所述校准图像中的所述粗略特征的图像在所述校准图像内定位所述精细特征的图像还包括：
11.一种光...
【专利技术属性】
技术研发人员：维亚切斯拉夫·夏伊斯金，
申请(专利权)人：伊格尼斯创新公司，
类型：发明
国别省市：
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