一种基于交流定时采样的IRIG-B时间码元解析方法技术

本发明专利技术公开了一种基于交流定时采样的IRIG‑B时间码元解析方法，该解析方法的步骤为：（1）、确定采样频率f，则两个采样点之间的时间间隔T=20ms/f；（2）、对IRIG‑B码信号的TTL采样电平进行解析，即对高电平和低电平的宽度进行确认，选择连续的N个采样脉冲内都为采样B码高电平，当2ms‑T<N*T<2ms+T时，从而确认该B码码元为“0”码元；当5ms‑T<N*T<5ms+T时，从而确认该B码码元为“1”码元；当8ms‑T<N*T<8ms+T时，从而确认该B码码元为“P”码元。本发明专利技术的解析方法通过定时采样实现IRIG‑B码信号的解析，不增加硬件成本，装置CPU的软件负担增加极小。

【技术实现步骤摘要】
201610198761

【技术保护点】
一种基于交流定时采样的IRIG‑B时间码元解析方法，其特征在于：该解析方法的步骤为：（1）、确定采样频率f，则两个采样点之间的时间间隔T=20ms/f；（2）、对IRIG‑B码信号的TTL采样电平进行解析，即对高电平和低电平的宽度进行确认，选择连续的N个采样脉冲内都为采样B码高电平，当2ms‑T<N*T<2ms+T时，从而确认该B码码元为“0”码元；当5ms‑T<N*T<5ms+T时，从而确认该B码码元为“1”码元；当8ms‑T<N*T<8ms+T时，从而确认该B码码元为“P”码元。

【技术特征摘要】
1.一种基于交流定时采样的IRIG-B时间码元解析方法，其特征在于：该解析方法的步骤为：（1）、确定采样频率f，则两个采样点之间的时间间隔T=20ms/f；（2）、对IRIG-B码信号的TTL采样电平进行解析，即对高电平和低电平的宽度进行确认，选择连续的N个采样脉冲内都为采样B码高电平，当2ms-T<N*T<2ms+T时，从而确认该B码码元为“0”码元；当5ms-T<N*T<5...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔得志，吉拥平，金启超，刘明辉，
申请(专利权)人：钛能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32