滑动式探针测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种滑动式探针测试装置，其包括：产品承载部，其上用于放置测试产品；驱动部，其带动测试产品作线性运动；探针部，其固定安装于支架上并保持在固定位置，探针部的针头延伸至产品承载部的测试位，测试产品被输送到测试位后与针头接触。本实用新型专利技术以滑动测试的方式对测试产品进行测试，从而使得测试不具有停顿的时间，测试效率得到明显的提高，同时取消了压测的方式，可以有效地保护产品不受损伤。

【技术实现步骤摘要】
201521074906

【技术保护点】
滑动式探针测试装置，其特征在于，包括：产品承载部(1)，其上用于放置测试产品(2)；驱动部(3)，其带动所述测试产品(2)作线性运动；探针部(4)，其固定安装于支架(42)上并保持在固定位置，所述探针部(4)的针头(41)延伸至产品承载部(1)的测试位(11)，所述测试产品(2)被输送到所述测试位(11)后与所述针头(41)接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨必祥，程传波，吴伟，胡鹏，石怡，
申请(专利权)人：昆山万盛电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32