电路装置、物理量检测装置、电子设备以及移动体制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种通过输出附加有适当补充位的检测数据从而使主机侧的处理简单化的电路装置、物理量检测装置、电子设备以及移动体等。其中，电路装置包括：检测电路，其输出第1至第n检测数据；串行接口，其将第1至第n检测数据作为串行数据而进行输出。串行接口在第1至第n检测数据中的第i检测数据为M位，并且第j检测数据为N位的情况下，输出在第j检测数据的上位位侧附加有(M‑N)位的补充位的串行数据，其中，1≤i≤n，≤1≤j≤n，j≠i，N＜M。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电路装置、物理量检测装置、电子设备以及移动体等。
技术介绍
一直以来，已知有一种取得陀螺仪传感器或温度传感器、加速度传感器之类的各种传感器输出并进行利用的设备。在这些传感器中，存在分辨度即在显示1个单位的数据时所使用的位数有所不同的可能性。在专利文献1中公开有以下方法，即，在将来自不同分辨度的传感器的模拟信号输出转换为数字信号时，为了抑制所处理的位数增加而针对每个信号使位宽度最优化的技术。此外，作为主设备与从设备之间的通信方式，公知有一种被称为SPI(SerialPeripheralInterface：串行外部接口)的通信标准。在专利文献2中公开有一种通过在SPI方式的3根配线的基础上增加芯片选择配线后的共计4根(时钟、数据输入、数据输出、芯片选择)配线而对主设备与多个从设备进行连接的方法。在专利文献1中，虽然针对每个信号而使为幅度最优化，但是在该情况下，存在每个数据位宽度有所不同的可能性，因而在微型计算机等主机侧无法以共同格式而对数据进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路装置，其特征在于，包括：检测电路，其接收来自第1至第n物理量传感器的第1至第n检测信号，并对第1至第n的检测数据进行输出，其中，n为2以上的整数；串行接口，其将所述第1至第n检测数据作为串行数据而进行输出，在所述第1至第n检测数据中的第i检测数据为M位，并且第j检测数据为N位的情况下，所述串行接口输出在所述第j检测数据的上位位侧附加有(M‑N)位的补充位的所述串行数据，其中，i为满足1≤i≤n的整数，M为正整数，j为满足1≤j≤n并且j≠i的整数，N为满足N＜M的整数。

【技术特征摘要】
2015.01.22 JP 2015-0102651.一种电路装置，其特征在于，包括：
检测电路，其接收来自第1至第n物理量传感器的第1至第n检测信号，
并对第1至第n的检测数据进行输出，其中，n为2以上的整数；
串行接口，其将所述第1至第n检测数据作为串行数据而进行输出，
在所述第1至第n检测数据中的第i检测数据为M位，并且第j检测数
据为N位的情况下，所述串行接口输出在所述第j检测数据的上位位侧附加
有(M-N)位的补充位的所述串行数据，
其中，i为满足1≤i≤n的整数，M为正整数，j为满足1≤j≤n并且j
≠i的整数，N为满足N＜M的整数。
2.如权利要求1所述的电路装置，其特征在于，
包括格式切换寄存器，
在所述格式切换寄存器被设定为第一状态的情况下，所述串行接口输出
在所述第j检测数据的上位位侧附加有(M-N)位的所述补充位的所述串行数
据，
在所述格式切换寄存器被设定为与所述第一状态不同的第二状态的情况
下，所述串行接口输出在所述第j检测数据的下位位侧附加有(M-N)位的所
述补充位的所述串行数据。
3.如权利要求1或2所述的电路装置，其特征在于，
所述串行接口在所述串行数据的输出形式被设定为2的补数形式的情况
下，输出附加有与所述2的补数形式对应的所述补充位的所述串行数据。
4.如权利要求1或2所述的电路装置，其特征在于，
在从与输出有所述串行数据的串行数据线相连接的主机设备读取数据而
接收到指令的情况下，串行接口依次将包括所述第i检测数据和所述第j检
测数据在内的所述第1至第n的检测数据作为所述串行数据而进行输出。
5.如权利要求1或2所述的电路装置，其特征在于，
具有存储部，在输出有所述串行数据的串行数据线上连接有一个或多个
其他电路装置的情况下，所述存储部对表示所述电路装置的所述串行数据和

\t所述其他电路装置的所述串行数据相对于所述串行数据线进行输出的输出顺
序的输出顺序信息进行存储，
所述串行...

【专利技术属性】
技术研发人员：江口聖次，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP