【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光谱测量
，涉及一种精密测量激光线宽的装置及方法，尤其 是一种基于循环自外差干涉法，采用频谱分离技术达到精密测量激光线宽的装置及方法。
技术介绍
窄线宽激光作为高精密测量的一种手段，在科学研究和
中有着重要且广 泛的应用，如光钟、高精密光谱、相干通信、激光测距等。激光的线宽或相干长度对这些系统 的噪声性能、测量距离、精度和灵敏度等起着决定性作用。因此对窄激光器的线宽进行高精 度测量显得至关重要。目前，光谱线宽的测量方法大致有三种:光谱仪测量法、滤波器扫描 法、拍频法。但当激光器的线宽达到kHz量级时，传统的基于光栅光谱仪和滤波器扫描法的 测量分辨率已不能满足实验所需。外差拍频法是一种测量超窄线宽较理想方法，可以得到 比较满意的分辨率。其中，基于延时自外差法的激光线宽测量技术应用最为广泛，因为其不 需要另外一台同等甚至更稳的激光器作为参考光源。 近年来，国内外很多小组针对自外差测量激光线宽进行深入的理论研究和实验探 索。1980年日本学者T. Okoshi首次提出延时自外差法(DSHI)测量激光器线宽，并获得50kHz 的分辨...
【技术保护点】
一种基于循环自外差干涉法的精密测量激光线宽装置，其特征在于，包括窄线宽激光器(1)，所述窄线宽激光器(1)通过光纤依次连接有隔离器(2)、第一Y型耦合器(3)、第一频移器(4)、第二耦合器(11)、光电探测器(12)和频谱仪(13)；所述第一Y型耦合器(3)和第二Y型耦合器(11)之间通过光纤还连接有X型耦合器(5)；所述X型耦合器(5)还通过光纤依次与衰减器(6)、第二移频器(7)、掺铒光纤放大器(8)、光纤带通滤波器(9)、保偏器(10)连接形成闭合环路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高静，陈玖朋，焦东东，刘杰，董瑞芳，刘涛，张首刚，
申请(专利权)人：中国科学院国家授时中心，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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