双表治具制造技术

本实用新型专利技术公开一种双表治具，双表治具设置在一能够自由调节高度的导轨架上，其包括一横向导轨滑块；一设置在横向导轨滑块上的纵向导轨滑块，一固定在纵向导轨滑块上的双表置架，双表置架上同轴设置有两个百分表。通过设置两个对称的百分表，能够得到在外界因素统一的情况下测量到的两个对比数据，其与现有技术中的单表测量每次只能测量并记录一个数据，且不能保证每次测量的数据所受的外界因素的干扰一样的情况相比，极大的提高了测量效率和最终结果的精度，而且能够非常直观且方便的进行两个测量数据的对比，数据差异清楚。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种微精度测量仪器，具体涉及一种双表治具。
技术介绍
在现在众多的领域百分表使我们最常见的检测工具，用来测量形状和位置误差等机械测量，比如圆度、平面度、直线度也用于检测工装平台、板材平整度等以及对平面度要求较高的地方。而目前最常见的测量方法就是单表测量，将百分表固定在一个夹具上面然后移动夹具读取百分表的数据通过前后对比来确定产品的精度，每次只能对一个地方进行定点测量不能同时对产品的不同的地方进行测量进行数据直观的对比，而只能通过每次的数据记录来进行求差值，最终进行求平均值来确定工件的误差值，这样浪费了大量的测量的时间而且所求的误差值精度也不是很高，因为每次对百分表的移动都会受到不同的外在因素的干扰，在外在因素不统一的情况下就会导致最终所测量得出的结果的精度降低。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种提高了测量效率和精度的双表治具。为达到上述技术目的，本技术提供所述双表治具设置在一能够自由调节高度的导轨架上，其包括一横向导轨滑块；一设置在所述横向导轨滑块上的纵向导轨滑块，一固定在所述纵向导轨滑块上的双表置架，所述双表置架上同轴设置有两个百分表。优选的，所述双表置架上同轴设置有两定位通孔，所述百分表的测量杆穿过所述定位通孔设置。优选的，所述定位通孔与所述百分表的测量杆之间设有橡胶层。优选的，所述双表治具还包括一定位锁紧螺栓，所述纵向导轨滑块上设有一螺纹通孔，所述定位锁紧螺栓穿过所述螺纹通孔抵接在所述纵向导轨滑块上。优选的，所述双表置架为金属材料制成，且表面光滑。本技术所述压纸小架的压力测试仪，其通过设置两个对称的百分表，能够得到在外界因素统一的情况下测量到的两个对比数据，其与现有技术中的单表测量每次只能测量并记录一个数据，且不能保证每次测量的数据所受的外界因素的干扰一样的情况相比，极大的提高了测量效率和最终结果的精度，而且能够非常直观且方便的进行两个测量数据的对比，数据差异清楚。本技术提供的双表治具，结构简单，操作方便，适于广泛应用。附图说明图1是本技术所述双表治具的立体示意图；图2是本技术所述双表置架的俯视图；图3是本技术所述纵向导轨滑块的立体示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。如图1所示，本技术的实施例提供了一种双表治具，其设置在一能够自由调节高度的导轨架上，所述双表治具包括一横向导轨滑块10、一纵向导轨滑块20以及一双表置架30；所述横向导轨滑块10活动套装在所述导轨架上；所述纵向导轨滑块20设置在所述横向导轨滑块10上，所述双表置架30固定设置在所述纵向导轨滑块20上，且所述双表置架30上同轴设置有两个百分表40。通过所述导轨架调整所述双表置架30的高度，使百分表40的高度符合所测产品的高度。优选的，所述双表置架30为金属材料制成，且表面光滑。通过两个同轴设置的百分表40，使治具每一次移动都可以同时进行两组数据的测量，且能够很直观的进行数据的对比，如此保证了在环境因素统一的情况下同时进行两个数据的测量和对比，极大的提高了所测量结果的精度。且通过设有横向导轨滑块10和纵向导轨滑块20，实现对百分表40的微调位移测量。具体的，如图2所示，所述双表置架30呈T型设置，所述T型置架的左、右两端31、32上分别设置有定位通孔34，所述百分表40的测量杆穿过所述定位通孔设置，所述T型置架的中部分支33与所述纵向导轨滑块20固定连接。由于所述双表置架30为金属材料制成，为避免所述双表置架30与所述百分表40之间刚性接触产生划痕，影响测量精度，因此，在所述定位通孔与所述百分表40的测量杆之间设有橡胶层，从而使所述双表置架30与所述百分表40之间形成柔性接触，所述橡胶层的厚度较薄，因此不会影响到百分表40的测量精度。如图1和图3所示，所述双表治具还包括一定位锁紧螺栓50，所述纵向导轨滑块20上设有一螺纹通孔21，所述定位锁紧螺栓50穿过所述螺纹通孔21抵接在所述纵向导轨滑块20上。通过所述定位锁紧螺栓50与所述纵向导轨滑块20之间抵压摩擦，实现对纵向导轨滑块20的定位，进而使所述百分表40保持在相应的测量高度上。将本技术所述双表治具与现有的单表治具的测量数据精度进行对比，实现如下，分别采用双表治具和单表治具对同一工件固定的20个点进行测量，并对测量后的差值进行对比，其中表1为现有的单表治具的测量结果，表2为本技术所述双表治具的测量结果。表1测量值10.070.060.050.070.060.070.080.060.060.05测量值20.050.050.050.060.060.050.050.050.060.05差值0.020.0100.0100.020.030.0100表2通过以上数据对比，双表治具的测量精度明显高于单表治具的测量精度。综上所述，采用所述双表治具进行测量时，将导轨架调整至产品的测量高度，移动导轨架上的横向导轨滑块或纵向导轨滑块，同时记录并对比两个百分表40的所测量的数据，这样就能够得到在外界因素统一的情况下测量到的两个对比数据，其与现有技术中的单表测量每次只能测量并记录一个数据，且不能保证每次测量的数据所受的外界因素的干扰一样的情况相比，极大的提高了测量效率和最终结果的精度，而且能够非常直观且方便的进行两个测量数据的对比，数据差异清楚。本技术提供的双表治具，结构简单，操作方便，适于广泛应用。以上所述本技术的具体实施方式，并不构成对本技术保护范围的限定。任何根据本技术的技术构思所做出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本技术权利要求的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双表治具，所述双表治具设置在一能够自由调节高度的导轨架上，其特征在于，包括一横向导轨滑块；一设置在所述横向导轨滑块上的纵向导轨滑块，一固定在所述纵向导轨滑块上的双表置架，所述双表置架上同轴设置有两个百分表。

【技术特征摘要】
1.一种双表治具，所述双表治具设置在一能够自由调节高度的导轨架
上，其特征在于，包括一横向导轨滑块；一设置在所述横向导轨滑块上的
纵向导轨滑块，一固定在所述纵向导轨滑块上的双表置架，所述双表置架
上同轴设置有两个百分表。
2.根据权利要求1所述双表治具，其特征在于，所述双表置架上同轴
设置有两定位通孔，所述百分表的测量杆穿过所述定位通孔设置。
3.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：管伟东，
申请(专利权)人：美特尔金属工业上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31