一种低阻值精密电阻的测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种低阻值精密电阻的测试装置及方法，属于电子元器件技术领域，本发明专利技术要解决的技术问题为如何能够在没有专用精密电阻测试仪的前提下,可准确量出测低阻值精密电阻的准确阻值，技术方案为：(1)、一种低阻值精密电阻的测试装置，包括直流电源供应器、直流负载仪、待测低阻值精密电阻和万用表，直流电源供应器、直流负载仪和待测低阻值精密电阻依次串联组成串联回路，万用表与串联后的直流负载仪与待测低阻值精密电阻并联。(2)、一种低阻值精密电阻的测试方法，步骤如下：(1)、预设直流负载仪的电阻值R固以及直流电源供应器的电压值V；(2)、接通电路，直流负载仪测量并显示出通过待测低阻值精密电阻的电流值I1。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子元器件
，具体地说是一种低阻值精密电阻的测试装置及方法。
技术介绍
电阻是一种常见的电子元器件，随着电子产品的更新换代，不断对电阻的精度及可靠性提出新的要求，同时越来越趋向于小体积，大功率电阻的需求。常规的电阻，因为阻值及误差原因,用常用普通的测试仪器即可准确量测出其阻值,但当遇到低阻值精密电阻时,例如毫欧级的精密电阻,普通的设备因为自身的量测误差,无法准确量出低阻值精密电阻的准确值,如何能够在没有专用精密电阻测试仪的前提下,可准确量出测低阻值精密电阻的准确阻值是目前现有技术中急需解决的技术问题。专利号为CN105021944A的专利文献公开了一种低阻值连通性测试装置及方法。所述低阻值连通性测试装置包括：信号检测模块，用于将被测电路接入串联分压电路，并从所述串联分压电路的采样电阻中获取采样电压信号并输出；放大电路模块，与信号检测模块相连，用于接收所述采样电压信号，经过差分比例放大电路将所述采样电压信号按预设比例进行放大，输出放大的采样电压信号；控制电路模块，与放大电路模块相连，用于对所接收放大的采样电压信号进行电路处理，当所述放大的采样电压信号进行电路处理，当所述放大的采样电压信号在预设电压范围内时，输出第一电平。该技术方案存在结构复杂、误差大、成本高等缺点。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是提供一种低阻值精密电阻的测试装置及方法，来解决如何能够在没有专用精密电阻测试仪的前提下,可准确量出测低阻值精密电阻的准确阻值的问题。本专利技术的技术任务是按以下方式实现的，一种低阻值精密电阻的测试装置，该装置包括直流电源供应器(DCPowerSupply)、直流负载仪(CuurentMeter)、待测低阻值精密电阻(LowOhmChipResistor)和万用表(Multi-meter)，直流电源供应器、直流负载仪和待测低阻值精密电阻依次串联组成串联回路，万用表与串联后的直流负载仪与待测低阻值精密电阻并联。其中，利用直流负载仪测量出通过待测低阻值精密电阻的电流值，利用万用表测出直流负载仪和待测低阻值精密电阻两端的电压，通过伏安法计算出直流负载仪和待测低阻值精密电阻总的阻值，用总的阻值减去直流负载仪预设的阻值便能得到待测低阻值精密电阻的阻值，完成待测低阻值精密电阻的阻值的测量。作为优选，所述直流负载仪采用固定电阻与电流计串联电路替代。一种低阻值精密电阻的测试方法，该方法的步骤如下：(1)、预设直流负载仪的电阻值R固以及直流电源供应器的电压值V；(2)、接通电路，直流负载仪测量并显示出通过待测低阻值精密电阻的电流值I1；(3)、利用万用表测量出直流负载仪与待测低阻值精密电阻两端的电压值V1；(4)、利用伏安法计算出直流负载仪与待测低阻值精密电阻串联后总的电阻值R总，即R总＝V1/I1；(5)、将步骤(4)中计算出的直流负载仪与待测低阻值精密电阻串联后总的电阻值R总减去步骤(1)中预设的直流负载仪的电阻值R固，得到待测低阻值精密电阻的阻值RX，即RX＝R总-R固。通过上述方法可以准确的测量出毫欧级精密低阻值电阻的阻值，大大提高了工作效率。作为优选，调整所述步骤(1)中预设直流负载仪的电阻值R固以及直流电源供应器的电压值V，测量出多组电流值I1和多组电压值V1，利用伏安法计算出多组待测低阻值精密电阻的阻值，分别为RX1、RX2···RXn，计算RX1、RX2、···RXn的平均值作为待测低阻值精密电阻的阻值RX，即RX＝(RX1+RX2+···+RXn)/n。通过求平均值的方式，更加准确测量出毫欧级精密低阻值电阻的阻值，大大减少了测量误差。本专利技术的一种低阻值精密电阻的测试装置及方法具有以下优点：1、本专利技术针对毫欧级的精密电阻阻值的测量问题，在缺少专用精密电阻测试仪的前提下,利用常用的设备资源，搭建低阻值精密电阻的测试装置，准确量测出低阻值精密电阻的阻值，不仅解决了现有技术中毫欧级精密低阻值电阻的阻值测量问题，而且成本低、操作简单、快捷，大大提高了对毫欧级精密低阻值电阻的阻值的测量效率；2、本专利技术通过待测的低阻值精密电阻、固定阻值电阻及电流计即直流负载仪、直流电源供应器串联组成回路，调整直流电源供应器的输出电压，用万用表测量出固定电阻及待测的低阻值精密电阻两端的电压，结合电流计读出的电流值，通过伏安法计算出固定电阻与待测的低阻值精密电阻的总阻值，减去固定电阻的阻值便可得出精密电阻的精确阻值，此方法比直接量测精密电阻的阻值精准的多；3、本专利技术的测量装置及测量方法不仅简单实用,精准可靠，而且降低测试成本，提高了测试效率。本专利技术具有设计合理、结构简单、易于加工、体积小、使用方便、一物多用等特点，因而，具有很好的推广使用价值。附图说明下面结合附图对本专利技术进一步说明。附图1为实施例1的示意图；附图2为实施例2的示意图。图中：1、直流电源供应器，2、固定电阻与电流计串联电路，3、待测低阻值精密电阻，4、万用表，5、直流负载仪。具体实施方式参照说明书附图和具体实施例对本专利技术的一种低阻值精密电阻的测试装置及方法作以下详细地说明。实施例1：如附图1所示，本专利技术的一种低阻值精密电阻的测试装置，该装置包括直流电源供应器1、直流负载仪5、待测低阻值精密电阻3和万用表4，直流电源供应器1、直流负载仪5和待测低阻值精密电阻3依次串联组成串联回路，利用直流负载仪5测量出通过待测低阻值精密电阻3的电流值；万用表4与串联后的直流负载仪5与待测低阻值精密电阻3并联，利用万用表测出直流负载仪5和待测低阻值精密电阻3两端的电压。实施例2：如附图2所示，本专利技术的一种低阻值精密电阻的测试装置，该装置包括直流电源供应器1、固定电阻与电流计串联电路2、待测低阻值精密电阻3和万用表4，直流电源供应器1、固定电阻与电流计串联电路2和待测低阻值精密电阻3依次串联组成串联回路，利用固定电阻与电流计串联电路2中的电流计测量出通过待测低阻值精密电阻3的电流值；万用表4与串联后的固定电阻与电流计串联电路2与待测低阻值精密电阻3并联，利用万用表测出固定电阻与电流计串联电路2和待测低阻值精密电阻3两端的电压。实施例3：一种低阻值精密电阻的测试方法，该方法的步骤如下：(1)、预设直流负载仪的电阻值R固以及直流电源供应器的电压值V；(2)、接通电路，直流负载仪测量并显示出通过待测低阻值精密电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低阻值精密电阻的测试装置，其特征在于：该装置包括直流电源供应器、直流负载仪、待测低阻值精密电阻和万用表，直流电源供应器、直流负载仪和待测低阻值精密电阻依次串联组成串联回路，万用表与串联后的直流负载仪与待测低阻值精密电阻并联。

【技术特征摘要】
1.一种低阻值精密电阻的测试装置，其特征在于：该装置包括直流电源
供应器、直流负载仪、待测低阻值精密电阻和万用表，直流电源供应器、直流
负载仪和待测低阻值精密电阻依次串联组成串联回路，万用表与串联后的直流
负载仪与待测低阻值精密电阻并联。
2.根据权利要求1所述的一种低阻值精密电阻的测试装置，其特征在于：
所述直流负载仪采用固定电阻与电流计串联电路替代。
3.一种低阻值精密电阻的测试方法，其特征在于：该方法的步骤如下：
(1)、预设直流负载仪的电阻值R固以及直流电源供应器的电压值V；
(2)、接通电路，直流负载仪测量并显示出通过待测低阻值精密电阻的电
流值I1；
(3)、利用万用表测量出直流负载仪与待测低阻值精密电阻两端的电压值
V1；
(4)、利用...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨光明，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37